Atom numarası 22≤Z≤35 arasındaki bazı elementlerin ikincil kaynak kullanarak K-tabakası x-ışınları tesir kesit ve flüoresans verimlerinin ölçülmesi
Measurements of K- shell x-ray cross-section and fluorescence yields using secondary source for some elements in the atomic number range 22≤Z≤35
- Tez No: 611379
- Danışmanlar: DOÇ. DR. RAFET YILMAZ
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2019
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Van Yüzüncü Yıl Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Bu çalışmada, Am-241 radyoizotop nokta kaynağından yayımlanan 59.5keV'luk γ-ışınları, ikincil kaynağı uyarmak için kullanıldı. İkincil kaynaktan yayımlanan 11.372keV enerjideki karakteristik X-ışınları kullanılarak atom numarası 22≤Z≤35 arasında olan 23V, 24Cr, 26Fe, 27Co, 28Ni 31Ga ve 33As elementlerinin Kα, ve Kβ X-ışını Flüoresans tesir kesitleri ölçüldü. Numunelerin uyarılması sonucu K tabakalarından yayımlanan K X-ışınlarının sayılmasında rezolüsyonu 5,9 keV'ta 160 keV olan Si(Li) katı hal dedektörü kullanıldı. Elde edilen tesir kesitlerinden K tabakasına ait flüoresans verimleri yarı deneysel olarak tespit edildi. İkincil kaynak kullanmanın yararları gözlendi. Elde edilen değerler literatürdeki benzer çalışmalarla karşılaştırıldı.
Özet (Çeviri)
In this study, γ-beams of 59.5 keV radiating from an Am-241 radioisotope point source were used to excite secondary source. K X-ray fluorescence cross sections of, Kα, Kβ, of 23V,24Cr, 26Fe, 27Co,28Ni 31Ga ve 33As elements whose atom numbers in the range of 22 ≤ Z ≤ 35 were measured by using characteristic X-ray is emitted from secondary sources were in an energy 11.372keV. A Si(Li) solid-state detector with 160 keV resolution at 5.9 keV was used to count K X-rays radiating from K layers as a result of excitation of samples. Fluorescence yields of K shells of the elements were determined by semi-empirical methods with the help of fluorescence cross sections. The benefits of using secondary sources were observed. Obtained values were compared with similar studies in the literature.
Benzer Tezler
- Atom numarası 59-92 arasında olan bazı elementler için L tabakasına ait coster-kronig şiddetlendirme faktörlerinin ölçülmesi
Measurement of coster-kronig enhancement factors of some elements in the atomic number range 59-92
ELİF ÖZ
Doktora
Türkçe
2000
Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF.DR. YUSUF ŞAHİN
- X-ışını floresans analiz tekniğinde 99Tc ve 51Cr'in uyarıcı kaynak olarak kullanımı
Başlık çevirisi yok
ASİYE BAŞSARI
Doktora
Türkçe
1997
Nükleer Mühendislikİstanbul Teknik ÜniversitesiNükleer Mühendislik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ŞARMAN GENÇAY
- Simetrik ftalosiyaninlerin sentezi ve karakterizasyonu
Synthesis and characterization of symmetric phthalocyanines
ÖZLEM İPSİZ
Yüksek Lisans
Türkçe
2014
Kimyaİstanbul Teknik ÜniversitesiKimya Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ZEHRA ALTUNTAŞ BAYIR
- Su ve Li, Al, Pb ve Cu içeren soğurucular için EGS4 Monte Carlo Metodu ile yığılma faktörlerinin efektif atom numarası ile değişiminin incelenmesi
For materials contains water and Li, Al, Pb and Cu examining of build up factors change with effective atomic number using EGS4 Monte Carlo Method
BERKAY CAMGÖZ
Yüksek Lisans
Türkçe
2001
Nükleer MühendislikEge ÜniversitesiNükleer Bilimler Ana Bilim Dalı
DOÇ.DR. MEHMET N. KUMRU
- LaPtSi kristal yapıya sahip bazı malzemelerin fiziksel özelliklerinin teorik olarak incelenmesi
Theoretical investigation of the physical properties of some materials crystallized in LaPtSi structure
TALHA ZAFER
Doktora
Türkçe
2024
Fizik ve Fizik MühendisliğiSakarya ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HÜSEYİN MURAT TÜTÜNCÜ