Geri Dön

Automatic test pattern generation for digital IC's and implementation of a programmable stimulus generator

Başlık çevirisi mevcut değil.

  1. Tez No: 65114
  2. Yazar: MUSTAFA L. CİVELEK
  3. Danışmanlar: PROF. DR. ÖMER CERİD
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 1997
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: Boğaziçi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 93

Özet

Bu tez çalışmasında bir sayısal tümleşik devre test sistemi oluşturmak üzere iki farklı konu üzerinde çalışılmıştır. Bunlar, sayısal tümleşik devreler için Otomatik Test Vektörü Üretimi (OTVÜ) yazılımının geliştirilmesi ve bir programlanabilir işaret üretecinin gerçeklenmesidir. SUN Sparc iş istasyonlarında çalışan, hata tabanlı ve rastlantısal olmayan yöntemler kullanan bir OTVÜ programı geliştirilmiştir. Anılan program, ardışıl olmayan devreler için“tek değere yapışan hata”olarak isimlendirilen özel bir hata modelini ve test edilecek tümleşik devrenin işlevsel tanımını kullanarak, test vektörleri yaratabilecek kabiliyettedir. Bu program ve Virginia Politeknik ve Devlet Üniversitesinde geliştirilen benzer programlar, bir kullanıcı arayüzü programı ile birleştirilerek, hem ardışıl hem de ardışıl olmayan devreler için bir test vektörü üreteci ve hata benzetim sistemi oluşturulmuştur. Programın gerçeklenmesinde,“çıkış-tabanlı test üretimi (FAN)”isimli bir hat uyarımı algoritmasının içsel (kendini çağıran) bir biçimi, bazı değişiklikler yapılarak kullanılmıştır. Diğer yandan, 68000 mikroişlemci tabanlı bir sistem tarafından denetlenen bir 32 bit işaret üreteci tasarlanarak gerçeklenmiştir. Bu üreteç, 125 MHz.'lik bir saat hızında çalışabilmektedir ve herhangi bir kişisel bilgisayara RS-232 seri iletişim protokolü ile arayüz oluşturabilmektedir. Bu arayüz vasıtası ile OTVÜ programının yarattığı test vektörleri, test edilecek devreye gerçek çalışma hızlarında uygulanabilmeleri için, işaret üretecine yüklenebilmektedir. Her iki konu için gerekli kuramsal bilgiler, uygulamanın ayrıntıları ve ulaşılan başarımın analizi tezde sunulmuştur.

Özet (Çeviri)

In this thesis work, two different topics are studied in order to perform a complete digital integrated circuit (IC) testing system, except an output analyzer. These topics can be separated as development of an automatic test pattern generation (ATPG) software for digital ICs and implementation of a programmable stimulus generator. A fault oriented and deterministic ATPG tool is developed running on SUN^M Sparc workstations. This tool is capable of generating test patterns, using a functional description of the IC under test, and a specific fault model which is called single stuck faults, for combinational circuits. This tool and similar tools which were developed in Virginia Polytechnic & State University are plugged to each other via a user interface to perform a ready to use complete test generator and fault simulator system for both combinational and sequential circuits. During the implementation of our tool, a recursive version of a path sensitization algorithm, named“fan-out-oriented (FAN) test generation”is used with some modifications. On the other hand, a 32 bit stimulus generator is implemented which is controlled by a 68000 microprocessor based system. This generator is capable of running up to 125 MHz. clock rates and has an interface to any PC via RS-232 serial communication protocol standards. Test vectors generated from our ATPG tool, can be downloaded to the stimulus generator in order to apply these vectors physically to the circuit under test at real operational clock rates. The implementation details, necessary theoretical background information for both topics and the analysis of the performance achieved are presented in this thesis.

Benzer Tezler

  1. Development of a stimulus generator for testing digital IC's

    Sayısal tümleşik devrelerin testi için bir uyarı üretici geliştirilmesi

    MUSTAFA MELİH TORÇUK

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2000

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiBoğaziçi Üniversitesi

    Elektrik-Elektronik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ÖMER CERİD

  2. IEEE 1149.1 standardı kullanarak test edilebilir lojik devre tasarımı

    Testable lojik circit design by using IEEE 1149.1 standard

    A.BETÜL TUNCER

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1992

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF. DR. AHMET DERVİŞOĞLU

  3. Dijital mamografi cihazlarının kalite kontrol, kalibrasyon ve standardizasyonu

    Quality control, calibration and standardization of full field digital mammography systems

    OĞUZHAN AYRANCIOĞLU

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2011

    Radyoloji ve Nükleer TıpDokuz Eylül Üniversitesi

    Medikal Fizik Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. AYŞEGÜL YURT

  4. Referans kısmi boşalma kaynağının yüksek doğru gerilim koşullarında incelenmesi

    Analysis of partial discharge reference source under high direct voltage conditions

    ÖZCAN KALENDERLİ

  5. Baskı çoğaltma endüstrisine yönelik otonom tekliflendirme ve cihaz yönetimi stratejilerinin değerlendirilmesi: Bir karar destek sisteminin tasarımı

    Evaluation of autonomous bidding and device management strategies for the print reproduction industry: The design of a decision support system

    DENİZ IŞIL ŞİMŞEK

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2024

    Endüstri ve Endüstri Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Endüstri Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. EMRE ÇEVİKCAN