Building practical apertureless scanning near-field microscopy
Pratik deliksiz taramalı yakın alan mikroskobu oluşturma
- Tez No: 835579
- Danışmanlar: PROF. DR. SEONGSIN MARGARET KIM
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2017
- Dil: İngilizce
- Üniversite: University of Alabama-Tuscaloosa
- Enstitü: Yurtdışı Enstitü
- Ana Bilim Dalı: Elektromanyetik Alanlar ve Mikrodalga Tekn. Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Elektromanyetik Alanlar ve Mikrodalga Tekniği Bilim Dalı
- Sayfa Sayısı: 86
Özet
Bu çalışmanın temel amacı, işlevsel, pratik, deliksiz tip taramalı yakın alan optik mikroskobu oluşturmak ve arkasındaki çalışma mekanizmasını ortaya çıkarmaktır. Uzak alan mikroskobuyla yayılan alanın bileşenleri ölçebilirken, bu bize numunenin özellikleri hakkında çok az bilgi verir. Çözünürlük, aydınlatıcı ışığın dalga boyunun yaklaşık yarısı ile sınırlıdır. Ancak, a-SNOM sistemi, numunenin özellikleri hakkında daha fazla ayrıntı sağlayan, alanın yayılmayan bileşenlerinin elde edilmesini sağlar.Ölçüm gerçekten zordur çünkü bu alanın genliği, uç numuneden uzaklaştıkça katlanarak azalır. Ucun keskinliği, a-SNOM sisteminin çözünürlüğü için tek sınırlamadır. Sonuç olarak, keskin uçlar elektrokimyasal aşındırma kullanılarak elde edilir ve bu uçlar yakın alan sinyalini algılamak için kullanılır. Zayıf a-SNOM sistem sinyallerini, istenmeyen arka plan sinyalinden ayırmak için daha yüksek demodülasyonlu arka plan bastırma yöntemi kullanılarak kilitlemeli yükselteç kullanıldı.
Özet (Çeviri)
The fundamental objective of this study is to establish a functional, practical apertureless type scanning near-field optical microscope, and to figure out the working mechanism behind it. Whereas a far-field microscope can measure the propagating field's components, this gives us little information about the features of the sample. The resolution is limited to about half of the wavelength of the illuminating light. On the other hand, the a-SNOM system enables achieving non-propagating components of the field, which provides more details about the sample's features. It is really difficult to measure because the amplitude of this field decays exponentially when the tip is moved away from the sample. The sharpness of the tip is the only limitation for resolution of the a-SNOM system. Consequently, the sharp tips are achieved by using electrochemical etching, and these tips are used to detect near-field signal. Separating the weak a-SNOM system signals from the undesired background signal, the higher demodulation background suppression is utilized by lock-in detection.
Benzer Tezler
- Building practical apertureless scanning near-field microscopy
Başlık çevirisi yok
MUHAMMED ZEKİ GÜNGÖRDÜ
Yüksek Lisans
İngilizce
2017
Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve KontrolUniversity of Alabama Alabama - Büyük açıklıklı yapılarda çatı örtü malzemeleri
Roof covering materials for wide span buildings
NİLÜFER ÇATAK
Yüksek Lisans
Türkçe
1997
Mimarlıkİstanbul Teknik ÜniversitesiMimarlık Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. BİLGE IŞIK
- Çelik kiriş ile kolon birleşimlerinin sonlu elemanlar yöntemi ile incelenmesi
Investigation of steel beam to column connections using finite element method
MOHAMMAD HAROON EHSAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2022
İnşaat Mühendisliğiİzmir Katip Çelebi Üniversitesiİnşaat Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MUTLU SEÇER
- Yeni Cami'nin akustik açıdan performans değerlendirmesi
Evaluation of the acoustical performance of the New Mosque
EVREN YILDIRIM
Yüksek Lisans
Türkçe
2003
Mimarlıkİstanbul Teknik ÜniversitesiMimarlık Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SEVTAP YILMAZ DEMİRKALE
- Designing and building a customer service chatbot for student affairs office: Marmara University Faculty of Business Administration
Öğrenci işlerinin ofisi için öğrenci hizmetleri rehber robutunun tasarımı ve uygulaması: Marmara Üniversitesi İşletme Fakültesi örneği
HIND KHALLABI
Yüksek Lisans
İngilizce
2020
İşletmeMarmara Üniversitesiİşletme Ana Bilim Dalı
DR. ÖĞR. ÜYESİ İLKER AKGÜN