Geri Dön

Metal-gözenekli silisyum eklemlerin elektriksel özellikleri

The Electrical properties of metal-prous silicon junctions

  1. Tez No: 85073
  2. Yazar: SUNA ÖZTEMEL
  3. Danışmanlar: PROF. DR. TAYYAR CAFEROV
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 1999
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Yıldız Teknik Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 73

Özet

ÖZET Monokristalik n-tipi silisyumun yüzey bölgesinde, elektrokimyasal yöntemle gözenekli silisyum tabakası hazırlandı. Silisyum altlıktan ayrılmış ince tabakalı (yaklaşık 10 um kalınlıkta) gözenekli silisyumun iletkenliği p-tipi, özdirenci p=1.8xlOĞ Q.cm, deliklerin konsantrasyonu p=9.6xl012 cm"3 ve mobilitesi u=0.36 cm /V.s olarak oda sıcaklığında Van der Pauw Yöntemi ile ölçüldü. Elektron bombardımanıyla buharlaştırma yöntemi ile metal (Ag veya Cu)-gözenekli silisyum (GS)- silisyum eklemleri hazırlandı. Eklemlerin farklı şartlarda akım-gerilim karakteristikleri (karanlıkta,aydınlıkta,nem ortamında), fotoakımın spektral dağılımı ve kapasitans-gerilim karakteristikleri incelendi. Ag-GS, GS-Si ve Ag-GS-Si eklemlerin doğrultma katsayısı sırasıyla Kı=40, K2=54 ve K3=196 olarak bulundu. Bu eklemlerdeki potansiyel engel yüksekliği sırasıyla cpKl=0.6 V,

Özet (Çeviri)

ABSTRACT Porous silicon (PS) has been obtained by electrochemical method at surface region by n- type monocrystalline silicon. The conductivity, resistivity,concentration of pores and mobility of thin PS layer (the thickness is about 10 um) separated from silicon substrate have been measured by Van der Pauw method at room temperature p-type, p=1.8xl06 n.cm, p=9.6xl012 cm"3 and u=0.36 cmVv.s, respectively. The metal(Ag or Cu)-porous silicon(PS)-silicon junctions have been obtained by evaporating method with bombing electrons at vacuum. The current-voltage characteristics at different conditions (in the light, in the dark,at different humidity conditions), the spectral dispersion of photo-current and capacitance-voltage characteristics of junctions have been investigated. The rectification coefficients of Ag-PS, PS-Si, Ag-PS-Si junctions have been calculated Ki=40, K2=54, K3=196, respectively. The potential barrier height of this junctions have been obtained K2=0A, cpK3=0.7, respectively. The photo-sensibility of Ag- PS-Si junctions has been found at the gap of X=300-l 100 nm wavelength. The current-voltage characteristics of Ag-PS-Si junctions have been investigated at different humidity conditions and the increase of reverse current depending on the humidity in comparison to forward current has been observed. For the first, forming of open current voltage depending on the humidity has been observed and the voltage has been obtained about 300 mV [at the relative humidity (Rh2o~85%)] at the best sample. The forming model of open circuit voltage depending on the humidity has been proposed at Ag-PS-Si structures. Using the obtained results and the parameters depending on PS in literatures, the energy band diagram of Ag-PS-Si junctions has been drawn. IX

Benzer Tezler

  1. Metal (Cu, Au)-gözenekli silisyum eklemlerin elektriksel özellikleri

    The electrical properties of metal (Cu, Au)-porous silicon junctions

    ÇİĞDEM ORUÇ LUŞ

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2004

    Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. TAYYAR CAFEROV

  2. Gözenekli silisyum/organik yarıiletken eklemlerin fiziksel özelliklerinin incelenmesi

    Investigation of physical properties of porous silicon/organic semiconductor junction

    ORHAN ŞENTÜRK

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2023

    Fizik ve Fizik MühendisliğiBursa Uludağ Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SERTAN KEMAL AKAY

    DOÇ. DR. SÜREYYA AYDIN YÜKSEL

  3. TiO2 - gözenekli silisyum eklemelerin elektriksel özellikleri

    Electrical properties of TiO2 - porous silicon joint

    MUSTAFA AYDIN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2014

    EnerjiYıldız Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. ÇİĞDEM ORUÇ

  4. Organik tabanlı güneş pili üretimi ve karakterizasyonu

    Organik tabanli güneş pili üretimi ve karakterizasyonu

    SAEEDULLAH SAJJAD

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2013

    Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. AHMET ALTINDAL

  5. Development of brazing process in ceramic matrix composites for in-space applications

    Uzay uygulamalarında kullanılan seramik matrisli kompozitlerin sert lehimleme proseslerinin geliştirilmesi

    EBRAR ÖZBEK EKİZ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2023

    Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ÖMER SERDAR ÖZGEN