Geri Dön

Amorf yarı iletken a-Si:H/a- SİNx:H çokkatlı filimlerin elektrik ve optik özellikleri

Electrical and optical properties of amorphous semiconducting a-Si i H/a-SİNx:H multilayer films

  1. Tez No: 105586
  2. Yazar: ESİN ÜLGEN GÜNDEM
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. HÜSEYİN TOLUNAY
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Amorf Silisyum, amorf silisyum azot alaşımı, a-Si:H/ a-SiNx:H çokkatlı filmler, bant geçiren filtre, Fabry-Perot filtre, Film, İletkenlik, İnce filmler, Amorphous silicon, amorphous silicon nitride alloys, a-Si:H/ a~SiNx:H multilayer films, bandpass filter, Fabry-Perot filter, Amorphous silicon nitrogen alloy, Film, Conductivity, Thin films
  7. Yıl: 2001
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Hacettepe Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

öz Bu çalışmada, RF plazma biriktirme sisteminde hidrojenlendirilmiş amorf silisyumun (a-Si:H) ve hidrojenlendirilmiş amorf silisyum- azot alaşımı (a-SiNx:H) tekkatlı filmlerin ve bunların ardışık olarak üst üste büyütülmesi ile elde edilen çokkatlı ince filmlerin elektronik ve optik özelliklerini belirlemek için karanlık iletkenlik, aydınlık iletkenlik ve optik geçirgenlik deneyleri yapılmıştır. Karanlık iletkenlik deneyleri sonucunda; tekkatlı ve çokkatlı filmlerin karanlık öziletkenlikleri arasında ilişki kurulmuş ve çokkatlı filmlerin karanlık öziletkenliklerinin tekkatlı filmlerle aynı davranışı gösterdiği tespit edilmiştir. Çokkatlı filmlerin a-Si:H katmanını oluşturan tekkatlı yarım saatlik saf filme göre daha yüksek karanlık öziletkenlikleri vardır ve katman sayısı karanlık öziletkenliği çok belirgin bir şekilde değiştirmemiştir. Aydınlık iletkenlik deneyleri sonucunda; tekkatlı ve çokkatlı filmlerin fotoöziletkenlikieri arasında ilişki kurulmuş çokkatlı filmlerin fotoöziletkenliklerinin karanlık öziletkenlikte olduğu gibi tekkatlı filmlerle aynı davranışı gösterdiği tespit edilmiştir. Katman sayısı ve katmanların büyüme süresi fotoöziletkenliği etkilemekte ve artan azot oranı ile fotoöziletkenlik artmaktadır. Optik geçirgenlik deneylerinin sonucunda; çokkatlı filmlerin, katman sayısı, azot oranı ve katmanların büyüme süresine bağlı olarak görünür bölgeyi çok iyi kesen yakın infrared bölgeyi (NIR) geçiren bant filtre özelliği gösterdiği tespit edilmiştir.

Özet (Çeviri)

ABSTRACT In this study, multilayer films consisting of sequential layers of hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H) and insulating amorphous silicon nitride (a-SiNx:H) were prepared on glass substrates by plasma decomposition, using SihU for the undoped a-Si:H and SiH4 / NH3 for nitride layer. The dark conductivity and the steady-state photoconductivity and their dependence on light intensity were investigated in multilayer films as a function of temperature between 420 and 100 K. Optical transmission measurements were carried out on a spectrometer in the wavelength range from 400 nm to 1 100 nm. Dark conductivity measurements showed that the conductivity was thermally activated with a single activation energy as in the case of single-layer films. The activation energy was measured to be ~ 0.5 eV. The temperature and the light intensity dependence of photoconductivity of multilayer films behaved like single-layer films. Optical transmission measurements displayed that some multilayer films behaved as a Fabry-Perot bandpass filter in the near-infrared region.

Benzer Tezler

  1. Amorf silisyum katkılı schottky diyotların optik ve elektriksel özelliklerinin incelenmesi

    Investigation optical and electrical properties of amorphous silicon doped schottky diodes

    GİZEM ÇELİKOK

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2011

    Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. KUBİLAY KUTLU

  2. Plazma arkı eldesi ve yüzey bölgesi modifikasyonunda kullanılabilirliği

    Başlık çevirisi yok

    ÖZKAN ÖZİPEKLİLER

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1986

    Makine MühendisliğiUludağ Üniversitesi

    Makine Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. HALİM DEMİRCİ

  3. Derik-Mazıdağ (Mardin) fosfat yataklarının sedimantolojisi

    Sedimantological investigation of phosphate beds of Derik-Mazidağ (Mardin) area

    HAKAN ÇOBAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1987

    Jeoloji MühendisliğiAnkara Üniversitesi

    Jeoloji Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. BAKİ VAROL

  4. Derinin primer habis melanomları kürsümüz materyalinde saptanan özellikler

    Başlık çevirisi yok

    EROL RÜŞTÜ BOZKURT

    Tıpta Uzmanlık

    Türkçe

    Türkçe

    1982

    Patolojiİstanbul Üniversitesi

    Anatomi Ana Bilim Dalı