EDXRF tekniğini kullanarak CuInSe2 ince filminin kalınlık tayini
Determination of thickness for CuInSe2 thin film using the EDXRF technique
- Tez No: 182962
- Danışmanlar: DOÇ. DR. UĞUR ÇEVİK
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2006
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Karadeniz Teknik Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 70
Özet
%X oDOÕúPDGD, CuInSe2 LQFH ILOPLQLQ NDOÕQOÕ÷Õ LNL IDUNOÕ yöntem kullanarak belirlendi. øON\|QWHPGH, CuInSe2'nin\R÷XQOX÷XYHNWOHVLELU\R÷XQOXN|OoHUYDVÕWDVÕ\OD ölçüldü. Daha sonra, birim alan EDúÕQD NWOH KHVDEÕQGDQ CuInSe2LQFHILOPLQLQ NDOÕQOÕ÷Õ EHOLUOHQGL øNLQFL \|QWHPGH &X ,Q YH 6H HOHPHQWOHUL LOH &XInSe2 (bulk ve ince film) \DUÕLOHWNHQOHULQLQVR÷XUPDNDWVD\ÕODUÕQÕNXOODQDUDNNDOÕQOÕNEHOLUOHQGL6R÷XUPDNDWVD\ÕODUÕ 11,9- NH9 HQHUML DUDOÕ÷ÕQGD EXOXQDQ IDUNOÕ HQHUMLGH LNLQFLO X\DUPD \|QWHPL NXOODQÕODUDN |OoOG Bu enerjiler, Br, Sr, Mo, Cd, Te ve Ba gibi ikincil kaynaklar NXOODQÕODUDN HOGH HGLOGL øNLQFLO ND\QDNODUÕ X\DUPDN LoLQ NH9¶OLN JDPD ÕúÕQODUÕ \D\ÕQOD\DQ 241$P UDG\RDNWLI KDOND ND\QDN NXOODQÕOGÕ øNLQFLO ND\QDNWDQ \D\ÕQODQDQ ;- ÕúÕQODUÕQÕ VD\PDN LoLQ, 5,9 keV'deki rezolüsyonu 0,16 keV olan bir Si(Li) dedektör NXOODQÕOGÕ $\UÕFD \DUÕLOHWNHQ ELOHúLNOHUGH VR÷XUPD NÕ\ÕODUÕQÕQ HWNLQ DWRP QXPDUDODUÕ ]HULQGHNL HWNLVL YH IRWRQ HQHUMLVL\OH GH÷LúLPL WDUWÕúÕOGÕ (OGH HGLOHQ GH÷HUOHU WHRULN GH÷HUOHUOHNÕ\DVODQGÕ
Özet (Çeviri)
In this study, thickness of CuInSe2 thin film was determined using the two differentmethods. In the first method, the density and mass of CuInSe2 was measured by using adensitometer. Then, thickness of CuInSe2 thin film was calculated using the mass per unitarea. In the second method, thickness was determined using the attenuation coefficients ofCu, In and Se elements and CuInSe2 (bulk and thin film) semiconductors. The attenuationcoefficients were measured at 15 different energies from 11.9 to 37.3 keV by usingsecondary excitation method. These energies were obtained using secondary targets such241as Br, Sr, Mo, Cd, Te and Ba. 59.5 keV gamma rays emitted from an annular Amradioactive source were used to excite secondary sources. X-rays emitted of secondarysources were counted by a Si(Li) detector with a resolution of 0.16 keV at 5.9 keV.Additionally, the effect of absorption edges on effective atomic numbers and theirvariation with photon energy in composite semiconductor sample was discussed. Obtainedvalues were compared with theoretical values.
Benzer Tezler
- Bazı kozmetik ürünlerde eser bileşenlerin spektroskopik ve kromatografik yöntemlerle tayinleri
Determination of some trace constituents in cosmetics by spectroscopic and chromatographic methods
ÖZLEM YILMAZCAN
Doktora
Türkçe
2015
KimyaUludağ ÜniversitesiKimya Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. BELGİN İZGİ
PROF. DR. ERWİN ROSENBERG
- İnsan umbilikal arterinden salıverilen EDRF'nin sandöviç yöntemi ile biyoesseyi
Başlık çevirisi yok
SUSSEN HEKİMİAN
- Toz ve metalik formdaki numunelerin temel parametreler yöntemi kullanılarak edxrf spektroskopisi ile kantitatif analizi
Application of fundamental paramaters method in edxrf spectroscopy to the quantitative analysis of some powder and metallic samples
OĞUZ AKDUMAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2019
Nükleer MühendislikAnkara ÜniversitesiMedikal Fizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HALUK YÜCEL
- Erken Bizans Dönemi Theodosius liman şehri seramik buluntularının nükleer tekniklerle incelenmesi
Investigation of ceramic findings from Early Byzantine Period obtained from excavations of Theodosius harbor by nuclear techniques
AHMET HAMDİ VARAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2015
Enerjiİstanbul Teknik ÜniversitesiNükleer Araştırmalar Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SEMA ERENTÜRK
- EDXRF tekniği kullanılarak bazı elementlerin K tabakası soğurma sıçrama faktörleri ve sıçrama oranlarının tayini
Determinate of K-shell absorption jump factor and jump ratios for some elements using EDXRF technique
RECEP POLAT
Doktora
Türkçe
2002
Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. GÖKHAN BUDAK