Geri Dön

Growth of gold films on quartz surfaces for quartz crystal microbalance application

Kuvars kristal mikroterazi uygulamaları için kuvars yüzeyler üzerinde altın filmlerin büyütülmesi

  1. Tez No: 269420
  2. Yazar: BERRİN ÖZKAN
  3. Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. MEHMET FATİH DANIŞMAN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Kimya, Chemistry
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2010
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: Orta Doğu Teknik Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Kimya Bölümü
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 71

Özet

Bu çalışmada, yüzey sıcaklığının, yapıştırıcı tabaka kullanımının, kaplama hızının, tavlamanın ve alttaşın kaplama öncesi ısıtılmasının, kuvars yüzeyler üzerinde büyütülen altın filmlerin morfolojisine olan etkileri araştırılmıştır. Filmlerin büyütülmesi için, fiziksel buhar kaplama metodları olan elektron demeti ve ısıl kaplama metodları kullanılmıştır. Filmlerin yüzey morfolojisi atomik kuvvet mikroskobu ile karakterize edilmiştir. Belirtilen parametrelerin etkilerine ilişkin genel eğilimlerin mevcut buharlaştırma sisteminde sınırlı bir çalışma aralığında doğrulanarak, aynı anda kuvars kristal mikro terazi ve helyum atomu difraksiyonu ölçümlerinde kullanılmaya uygun altın filmlerin büyütülmesi amaçlanmıştır.Bu çalışmanın sonucunda, tavlama dışında tüm parametrelerin etkilerine ilişkin olarak literatürde belirtilmiş genel eğilimler doğrulanmıştır. Isısal kaplama metodu ile yüzey pürüzlülüğü 0.200 nm'den düşük, minimum 170 nm2 alana sahip atomik seviyede düz alanlar elde edilmiştir.

Özet (Çeviri)

In this study, we have investigated the effect of substrate temperature, use of adhesive layer, deposition rate, annealing and substrate prebaking on the morphology of gold films deposited onto quartz surfaces. For the film growth, physical vapor deposition methods namely electron beam and thermal depositions have been used. Surface morphology of the films have been characterized with atomic force microscopy. Our aim was to confirm the general trends observed for these parameters in our evaporator system for a limited working range in order to produce gold films which are suitable to be used simultaneously for quartz crystal microbalance and helium atom diffraction measurements.At the end of this study, we confirmed the general trends regarding the effect of these parameters stated in literature except annealing process. We obtained a minimum 170 nm2 atomically flat surface with a roughness value smaller than 0.200 nm by thermal deposition method.

Benzer Tezler

  1. Langmuir Blodgett assembly of peptide functionalized nanoparticles onto silicatebased surfaces and their characterization

    Peptit ile fonksiyonlandırılmış nanoparçacıkların Langmuir Blodgett yöntemi ile silika tabanlı yüzey üzerine kaplanması ve karakterizasyonu

    NUR MUSTAFAOĞLU

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2012

    Biyolojiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Nanobilim ve Nanomühendislik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. MUSTAFA ÜRGEN

  2. Al:ZnO ince filmlerin büyütülmesi ve biyo-sensör özelliklerinin incelenmesi

    Growth and investigation of bio-sensor properties of Al:ZnO thin films

    İLKNUR KARS DURUKAN

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2013

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SÜLEYMAN ÖZÇELİK

    PROF. DR. TOFİG MEMMEDLİ

  3. II-VI elektrolüminesans cihazları

    II-VI electroluminescent devices

    MEHMET DOMAÇ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1994

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF.DR. SAMİ GEZCİ

  4. Use of gold nanoparticle embedded polyelectrolyte multilayer films as SERS substrates

    Altın nanoparçacık gömülü polielektrolit çok katmanlı filmlerin YGRS alttaşı olarak kullanılması

    SEZİN ÖZDEMİR

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2023

    KimyaOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Kimya Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. GÜLAY ERTAŞ

    PROF. DR. İREM EREL GÖKTEPE

  5. P-galyum arsenür (GaAs)/anodik izolasyon filmlerin arayüzey özelliklerinin incelenmesi

    Investigation of interface properties in p-gallium arsenide (GaAs)/anodic insulator films

    HAYRETTİN YÜZER

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    1994

    Kimya Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF.DR. A. HİKMET ÜÇIŞIK