Geri Dön

Preparation and characterization of silicon thin films

Silisyum ince filmlerinin hazırlanması ve karakterizasyonu

  1. Tez No: 28624
  2. Yazar: İSMAİL ATILGAN
  3. Danışmanlar: PROF. DR. BAYRAM KATIRCIOĞLU
  4. Tez Türü: Doktora
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Işıyan Boşalım (Plazma Biriktirme), e-demeti ile Biriktirme, Çığlama (Sputtering), Silisyum ince Film (amorf, polikristal), Schottky Diyod, Admittans, Isıl Uyarılma Özdirenç, Kızıl-ötesi Sogrulma, x-ışın Analizi, Isıl (Termal) Sığa, Foto Sığa, Glow Discharge (Plasma Deposition), e-gun Deposition, Sputtering, Silicon Thin Film (amorphous, polycrystalline), Schottky Diode, Admittance, Thermal Activation of Resistivity, Infra-red Absorbtion, x-ray Analysis, Thermal Capacitance, Photo Capacitance. Science Coder 404.05.01 IV
  7. Yıl: 1993
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: Orta Doğu Teknik Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 249

Özet

Düşük basınçlı kimyasal buhar biriktirme (LPCVD) düzeneği, gaz, sıcaklık ve basınç denetim birimleriyle birlikte yerel olanaklarla gerçekleştirildi. Poli-kristal silisyum filmler bu düzenekte büyütülerek poli-silisyum geçitli MOS yapılara uyarlandı. Hem yerelleşmiş oksit yükleri hem de ara yüz durum yoğunlukları sığa ve iletkenlik yöntemleriyle karşılaştırmalı olarak çıkarıldı. Işıyan boşalım sistemi, gerekli bütün yan çevre birimleriyle birlikte kuruldu; ayarlanıp, fosfor katkılı hidrojenlenmiş amorf silisyum (n tipi a-Si:H) ince film büyütülmesi için kalibre edildi. Bu doğrultuda, elektron demeti ve iyon çığlama (sputtering) düzenekleri kuruldu ve krom (Cr), paladyum (Pd) gibi parlak metallerin buharlaştırılabilmesi için ayarlandı. Yukarıda sözü edilen düzenekler kullanılarak fosfor katkılanmış a-Si:H filmler üzerine Pd ve Cr Schottky engelleri üretildi. Schottky engelinin uzay yükü bölgesi admitansına dayanan çeşitli karakterizasyon teknikleri uygulanıp geliştirilerek üretilmiş olan katkılı a-Si:H filmlerin yasak enerji aralığındakiderin yerel elektronik durumların dağılımını incelemek için kullanıldı.

Özet (Çeviri)

A low pressure chemical vapor deposition (LPCVD) system with gas handling, temperature and pressure control units was built by local facilities. Polycrystalline silicon films were grown and optimized for polysilicon gate MOS structure in this system. Both oxide local charge and interface state densities of the produced MOS structure were evaluated comparatively by steady state high-low frequency capacitance and conductance techniques. A glow discharge system with all necessary peripheral units has been installed, adjusted and calibrated for growing phosphorus doped hydrogenated amorphous silicon (n-type a-Si:H) thin films. Parallelly, an electron gun and a sputtering units have been installed and calibrated for refractory metal evaporation, such as chromium (Cr) and palladium (Pd). Pd and Cr Schottky barrier structures of doped a-Si:H films were fabricated by using the above mentioned systems. Different characterizing techniques based on the admittance associated with the Schottky barrier space charge region (such as steady state capacitance vs. voltage, capacitance (or conductance) vs. temperature for various mfrequencies, deep level transient spectroscopy, double beam photocapacitance spectroscopy) were developed, and used for investigating deep localized electronic states distributed within the pseudo-gap of doped a-Si:H films at hand.

Benzer Tezler

  1. Elektronik ve optoelektronik uygulamalar için siyanofenil tiyenotiyofen ve bor içeren materyaller

    Cyanophenyl thienothiophene and boron containing materials for electronic and optoelectronic applications

    RECEP İŞÇİ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2017

    Kimyaİstanbul Teknik Üniversitesi

    Kimya Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. TURAN ÖZTÜRK

  2. Optoelektronik uygulamalar için sodyum katkılı SnS2 yarıiletken ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu

    Preparation and characterization of sodium-doped SnS2 semiconductor thin films for optoelectronic applications

    DİLANNUR KAYA

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2024

    EnerjiHarran Üniversitesi

    Yenilenebilir Enerji Kaynakları Ana Bilim Dalı

    DR. ÖĞR. ÜYESİ KERİM KARADAĞ

    DR. ESRA ASLAN

  3. Katkılı ve katkısız çinko oksit (ZnO) ince filmlerin hazırlanması ve karakterizasyonu

    Preparation and characterization of doped and undoped zinc oxide (ZnO) thin films

    İDRİS SORAR

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2008

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. FATMA Z. TEPEHAN

  4. Farklı uzunlukta alkil zinciri bulunduran inorganik ligandların Langmuir-Blodgett ince filmlerinin hazırlanması ve uygulamaları

    Preparation and application of Langmuir-Blodgett thin films of inorganic ligands with various alkyl chains

    LEYLA GÜRFİDAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2011

    KimyaSelçuk Üniversitesi

    Kimya Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. İLKAY HİLAL GÜBBÜK

  5. BIOINTERFACIAL CELL/PROTEIN–POLYMER INTERACTIONS INVESTIGATED BY QUARTZ CRYSTAL MICROBALANCE WITH DISSIPATION

    Hücre/protein–polimer biyoarayüzündeki etkileşimlerin disipasyon izlemeli kuvars kristal mikroterazi ile incelenmesi

    AYŞE BUSE ÖZDABAK SERT

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2023

    Biyoteknolojiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Moleküler Biyoloji-Genetik ve Biyoteknoloji Ana Bilim Dalı

    DR. ÖĞR. ÜYESİ ABDULHALİM KILIÇ