Geri Dön

AlGaN/GaN heteroeklemlerde sıcak elektron güç kaybı mekanizmaları

Hot electron power loss mechanisms in AlGaN/GaN heterojunctions

  1. Tez No: 295578
  2. Yazar: ÖZLEM ÇELİK
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. ENGİN TIRAŞ
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2011
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Anadolu Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: İleri Teknolojiler Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 81

Özet

Metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) tekniğiyle büyütülmüş AlGaN/GaN heteroeklemlerde klasik Hall olayı ölçümleri sabit manyetik alan altında 1,8 - 275 K aralığında sıcaklığın fonksiyonu olarak yapıldı. Elde edilen deneysel verilerden boyuna optik (LO) fonon enerjisini hesaplandı.Sıcaklığın fonksiyonu olarak ölçülen Hall mobiliteleri literatürde verilen kuramsal saçılma mekanizmalarının sonuçlarıyla karşılaştırıldı. Kuramsal mobilite hesaplamalarında polar optik fonon saçılması, iyonize safsızlık saçılması, arka-plan (background) safsızlık saçılması, arayüzey pürüzlülüğü saçılması, piezoelektrik saçılma, akustik fonon saçılması, dislokasyon ve alaşım düzensizliği saçılması hesaba katıldı. Elde edilen verilerden düşük sıcaklıklarda alaşım düzensizliği saçılmasının, yüksek sıcaklıkta ise polar optik fonon saçılmasının başat saçılma mekanizması olduğu sonucuna varıldı.AlGaN/GaN heteroeklemdeki iki boyutlu (2D) elektronların transport özellikleri ve güç kaybı mekanizmaları Shubnikov-de Haas (SdH) osilasyonları ölçümleriyle incelendi. SdH osilasyonlarını elde etmek için ölçülen magnetorezistans Rxx(B) verilerinin ikinci türevi alındı. SdH osilasyonları periyodundan 2D elektron yoğunluğu ve Fermi enerjisi (EF?E1) belirlendi. SdH osilasyonları genliğinin sıcaklık ve manyetik alanla değişiminden 2D elektronların düzlem-içi etkin kütlesi (m*) ve kuantum ömrü (?q) elde edildi.

Özet (Çeviri)

Hall effect measurements on AlGaN/GaN heterojunctions grown by a metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) technique have been carried out as a function of temperature in the range between 1.8 and 275 K at a fixed magnetic field. The experimental data have been used to calculate the longitudinal optical (LO) phonon energy.The experimental data for the temperature dependence of Hall mobility were compared with the theoretical formula for scattering mechanisms taken from the literature. In the numerical calculations, polar optical phonon scattering, ionized impurity scattering, background impurity scattering, interface roughness scattering, piezoelectric scattering, acoustic phonon scattering, dislocation and alloy disorder scattering were taken into account. It is concluded that alloy disorder scattering is the dominant scattering mechanism at low temperatures and polar optical phonon scattering is dominant at high temperatures.Shubnikov?de Haas (SdH) oscillations have been used to investigate the electronic transport properties and power loss mechanisms of two-dimensional (2D) electrons in AlGaN/GaN heterojunctions. The SdH oscillations were obtained from the measured magnetoresistance Rxx(B) by taking the second derivative of the raw experimental data. The 2D carrier density and the Fermi energy with respect to subband energy (EF?E1) have been determined from the period of the SdH oscillations. The in-plane effective mass (m*) and the quantum lifetime (?q) of 2D electrons have been obtained from the temperature and magnetic field dependences of the SdH oscillation amplitude, respectively.

Benzer Tezler

  1. Growth, characterization and fabrication of AlGaN/GaN high electron mobility transistors on silicon carbide substrates

    Yüksek elektron mobiliteli transistörlerin silisyum karbür alttaşlar üzerine büyütülmesi, karakterizasyonu ve fabrikasyonu

    AYÇA EMEN

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2014

    Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    DOÇ. DR. HÜSNÜ EMRAH ÜNALAN

    PROF. DR. RAŞİT TURAN

  2. An analytical method for the accurate and effective thermal modelling of AlGaN/GaN hemts

    Doğru ve verimli AlGaN/GaN hemt ısıl modellenmesi için geliştirilmiş analitik model

    MOHAMMAD AZARIFAR

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2017

    Makine MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Makine Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    Assist. Prof. Dr. FATMA NAZLI DÖNMEZER AKGÜN

  3. Si3N4 ile pasive edilmiş AlGaN/GaN temelli çoklu yapılarda düşük alan iletimi ve sıcak-elektron iletimi çalışmaları

    Investigations of low-field transport and hot-electron transport in passivated AlGaN/GaN hemts with Si3N4

    GÖKHAN ATMACA

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2018

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. SEFER BORA LİŞESİVDİN

  4. SiN pasivasyonu öncesi ön işlemlerin GaN HEMT'lerin performansına etkisi

    The effect of pretreatment on GaN HEMT performance before SiN passivation

    KÜBRA ELİF ASAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2018

    Bilim ve TeknolojiGazi Üniversitesi

    Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ABBAS TAMER ÖZDEMİR

  5. AlGaN/GaN temelli yüksek elektron hareketlilikli transistörlerin (HEMT) elektron ve manyeto iletim özellikleri

    Electron and magneto transport properties of AlGaN/GaN based high electron mobility transistors (HEMT)

    SEFER BORA LİŞESİVDİN

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2008

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Fizik Bölümü

    PROF. DR. MEHMET KASAP