Modeling of the aging process in stress-strength models
Stres-dayanıklılık modellerinde yaşlanma sürecinin modellenmesi
- Tez No: 306840
- Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. SELMA GÜRLER
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: İstatistik, Statistics
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2011
- Dil: İngilizce
- Üniversite: Dokuz Eylül Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: İstatistik Bölümü
- Bilim Dalı: İstatistik Ana Bilim Dalı
- Sayfa Sayısı: 48
Özet
Bir bileşenin ya da bir sistemin yaşlanma sürecinin modellenmesi çeşitli yollarla gerçekleştirilebilir. Güvenilirlik fonksiyonu böyle bir modelleme için başlıca kullanılan araçlardan biridir. Belirlenmiş şartlarda, verilmiş bir zaman süresi içinde, bir sistemin ya da bir bileşenin güvenilirliği, bir parçanın kifayetli bir şekilde çalışma olasılığıdır. Bir sistemin güvenilirliğini geliştirmek için önemli bir yöntem, sisteme yedekleme yapılmasıdır. Yedeklemenin başlıca yapısı n'den-k-tane sistemidir. Paralel ve seri sistemlerin her ikisi de n'den-k-tane sisteminin özel durumlarıdır. Paralel sistem n'den-n-tane sistemine eşit iken, seri sistem n'den-1-tane sistemine eşittir.Bu tezde, stres-dayanıklılık modelinde, paralel, seri ve birbiri yerine geçebilen bileşenlere sahip n'den-k-tane: F sistemin güvenilirliği üzerinde duruldu. Rassal bir stresin, sistem düzeyinde tüm bileşenler için ortak olduğu varsayıldı. Çok değişkenli Farlie-Gumbel-Morgenstern ve çok değişkenli Marshall-Olkin dağılımları kullanılarak üç bileşenden oluşan bir sistemin güvenilirliğini incelemek için elde edilen sonuçları verildi. Ayrıca, paralel ve seri sistemler için bazı iki değişkenli dağılımlar ile örnekler sunuldu.
Özet (Çeviri)
Modeling of the aging process of a component or a system can be performed in various ways. The reliability function is one of the helpful tools commonly used for such modeling. Under specified conditions, the reliability of a component or a system can be defined as the probability that an item will perform satisfactorily, for a given period time. An important method for improving the reliability of a system is to build redundancy into it. A common structure of redundancy is the k-out-of-n system. Both parallel and series systems are special cases of the k-out-of-n system. A series system is equivalent to a 1-out-of-n system while a parallel system is equivalent to an n-out-of-n system.In this thesis, the reliability of parallel, series and k-out-of-n: F systems with exchangeable components in the stress-strength model are considered. It is assumed that a random stress common to all the components in the system level. Applications of obtained results to illustrate the reliability for the system consisting of three components using the multivariate FGM and multivariate Marshall-Olkin distributions are given. Also, examples for the series and parallel systems are presented with some bivariate distributions.
Benzer Tezler
- Alkylacrylamide-based semi-interpenetrating networks for temperature-sensitive smart systems
Sıcaklığa duyarlı akıllı sistemler için alkilakrilamid bazlı yarı iç içe geçmiş ağyapılar
BİRGÜL KALKAN
Yüksek Lisans
İngilizce
2022
Kimyaİstanbul Teknik ÜniversitesiKimya Ana Bilim Dalı
PROF. DR. NERMİN ORAKDÖĞEN
- Condition monitoring and fault detection for electrical power systems using signal processing and machine learning techniques
Sı̇nyal ı̇şleme ve makı̇ne öğrenme teknı̇klerı̇ kullanılarak elektrı̇k güç sı̇stemleri ı̇çı̇n durum ı̇zleme ve arıza belirleme
YASMIN NASSER MOHAMED
Doktora
İngilizce
2024
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiElektrik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ŞAHİN SERHAT ŞEKER
- Isıl işlem ve yaşlandırmanın üç boyutlu yazıcı ile üretilen parçaların bağlantı dayanımına etkisinin incelenmesi
Investigation the effects of heat treatment and aging on the joint strength of printed parts via three-dimensional printer
FATİH HUZEYFE ÖZTÜRK
Doktora
Türkçe
2023
Makine MühendisliğiKarabük ÜniversitesiEndüstriyel Tasarım Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DR. ÖĞR. ÜYESİ ÖZKAN ÖZ
- Characterization and modeling of negative-biastemperature instability in 40 NM CMOS technologythrough long short-term memory (LSTM) networks
Uzun kısa-süreli bellek ağlarıyla (LSTM)40 NM CMOS teknolojisinde negatif-kutuplamasıcaklık kararsızlığının karakterizasyonu ve modellenmesi
FİKRET BAŞAR GENCER
Yüksek Lisans
İngilizce
2023
Bilim ve Teknolojiİstanbul Teknik ÜniversitesiElektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MUSTAFA BERKE YELTEN
- Characterization of time-based degradation effects and machine learning-based modeling of hot carrier injection in 40 NM CMOS transistors
40 NM CSMOS transistörlerde sıcak taşıyıcı enjeksiyonunun zaman bazlı bozulma etkilerinin karakterizasyonu ve makine öğrenimine dayalı modellenmesi
XHESİLA XHAFA
Yüksek Lisans
İngilizce
2021
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiElektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MUSTAFA BERKE YELTEN