Geri Dön

Ti/n-GaAs/In metal/yarıiletken/metal kontakların numune sıcaklığına bağlı akım-voltaj ve kapasite-voltaj karakteristiklerinin incelenmesi

Analyzes of temperature dependent I-V and C-V properties of Ti/n-GaAs/In metal/semiconductor/metal contacts

  1. Tez No: 335088
  2. Yazar: FATMA URHAN
  3. Danışmanlar: PROF. DR. ÇİĞDEM NUHOĞLU
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: GaAs yarıiletkeni, metal-yarıiletken kontaklar, homojen olmayan Schottky engel yüksekliği, sıcaklığa bağımlı diyot parametreleri, GaAs semiconductor, metal-semiconductor contact, inhomogeneous Schottky barrier height, the diode parameters dependent on temperature
  7. Yıl: 2013
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Atatürk Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

Serbest taşıyıcı yoğunluğu 7,3x1015 cm-3 olan n-tipi GaAs yarıiletken kristali Taban malzeme olarak kullanıldı. Ti metali Schottky kontak ve In metali omik kontak olarak kullanılmıştır. Böylece, Ti/n-GaAs/In Schottky diyotları sputter (saçtırma) tekniği ile üretilmiştir. Diyotumuzun akım-gerilim (I-V) ve kapasite-gerilim (C-V) ölçümleri 80-320 K sıcaklık aralığında 20 K?lik adımlarla incelenmiştir. Numune sıcaklığına bağlı olarak, karakteristik diyot parametreleri olan Schottky engel yüksekliği ve idealite faktörü değerleri doğru beslem akım-gerilim verilerinden hesaplanmış ve grafikleri çizilmiştir. Engel yüksekliğinin azalan numune sıcaklığıyla azaldığı ve idealite faktörünün arttığı gözlenmiştir. Bu ideal olmayan davranışın engelin yüksekliğinin yanal inhomojenliğinden ileri geldiği düşünülmüştür. C-2-V grafiği kullanılarak difüzyon potansiyeli, iyonize olmuş donor konsantrasyonu, Fermi enerji seviyesi, engel yükseklikleri ve engel yüksekliğinin sıcaklık katsayısı (-0.65 meV/K) hesaplanmıştır. Ayrıca, düşük sıcaklıklarda termiyonik alan emisyon akımının az da olsa etkin olduğu gözlenmiştir.

Özet (Çeviri)

It has been used GaAs semiconductor substrate whıch has a free carrier concentration of 7,3x1015 cm-3. Ti/n-GaAs Schottky barrier diodes have been fabricated from this semiconductor by magnetron DC sputtering. It has been investigated the I-V and C-V characteristics in the temperature range of 80-320 K. The ideality factor and barrier height (BH) values have been calculated from the forward I-V characteristics. The variation of the diode parameters with the sample temperature has been attributed to the presence of the lateral inhomogeneities of the barrier height. The temperature dependent C-V-T characteristics have been measured to calculate the carrier concentration, diffusion potential, barrier height, Fermi energy level and BH temperature coefficient (a = -0.65 meVK-1). It has been seen that the thermionic field emission current is dominated at low temperatures. The fact that the BH temperature coefficient changes from metal to metal has been ascribed to the chemical nature of the contact metal or metal electronegativity.

Benzer Tezler

  1. Metal/III-V yarıiletken n-GaAs metal doğrultucu kontakların numune sıcaklığına bağlı diyot karakteristiklerinin bazı metotlarla irdelenmesi

    Investigation by means of some methods of temperature-dependent diode characteristics of metal/III-V semiconductor n-GaAs rectifying contacts

    DURMUS ALİ ALDEMİR

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2013

    Fizik ve Fizik MühendisliğiSüleyman Demirel Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ALİ KÖKCE

  2. Sılar metoduyla elde edilen Cd/CdS/n-GaAs/In yapının karakteristiklerinin numune sıcaklığına bağlı olarak incelenmesi

    Investigation of characteristics of the Cd/CdS/n-GaAs/In structure depending on sample temperature obtained by Sılar method

    ELVAN BUĞUR

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2010

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. MUSTAFA SAĞLAM

  3. Atomik katman kaplama tekniği ile sentezlenen nano-ölçekli AL2O3 ara katmanlı, yarıiletken malzeme temelli schottky diyotların sıcaklığa bağlı elektriksel karakterizasyonu

    Temperature dependent electrical characterization of schottky diodes with nanoscale AL2O3 interfacial layers synthesized via atomic layer deposition technique

    ABDULKERİM KARABULUT

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2014

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ABDULMECİT TÜRÜT

    YRD. DOÇ. DR. NECMİ BIYIKLI

  4. GaAs tabanlı yarı iletken aygıtlar için düşük dirençli ohmik kontak yapılarının geliştirilmesi

    Development of low resistance ohmic contact structures for GaAs based semiconductor devices

    KORAY KESER

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2023

    Fizik ve Fizik MühendisliğiEskişehir Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. MUSTAFA KULAKCI

  5. n-GaAs yarı iletkeni üzerine Schottky diyotunun yapımı, diyotun elektriksel özelliklerinin incelenmesi

    Production of Schottky diode on n-type GaAs semiconductor, and investigating its electrical properties

    ŞAKİR ŞANE

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2005

    Fizik ve Fizik MühendisliğiNiğde Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. REFİK KAYALI