Olasılık oran testine dayalı kontrol kartları
Control charts based on sequential probability ratio test
- Tez No: 346096
- Danışmanlar: DOÇ. DR. SEVİL BACANLI
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: İstatistik, Statistics
- Anahtar Kelimeler: Ardışık Olasılık Oran Testleri, Kontrol Kartları, Karakteristik İşlem Eğrisi, Ortalama Örneklem Sayısı, SPRT, Seqential Probability Ratio Tests, Control Charts, Operational Curve, Average Number of Sample, SPRT
- Yıl: 2013
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Hacettepe Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: İstatistik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 71
Özet
İstatistiksel süreç kontrollerinde kontrol kartları bir üretim sürecinin istatistiksel olarak kontrolde olup olmadığını test etmek veya izlemek için oldukça önemli araçlardır. Ardışık olasılık oran testi ise kalite kontrol uygulamalarında oldukça sık kullanılan ve kalite kontrol çalışmalarında zaman ve para bakımından tasarruf sağlayan bir yöntem olarak bilinmektedir. Ardışık olasılık oran test kontrol kartları Wald?ın önerdiği ardışık olasılık oran testlerine dayanarak geliştirilmiştir. Tez çalışmasında literatürde normal ve binom dağılımı için geliştirilen ardışık olasılık oran kontrol kartları incelenmiş; ortalama (X ?) kontrol kartı ve kusurlu oranı (p) kontrol kartı ile karşılaştırılmıştır.
Özet (Çeviri)
In statistical process controls, control cards are very important tools for testing statistically if the process is in control or not and evaluating the production process. Sequential probability test is a well-known method with its advantages in time and money disposel. Sequential probability ratio test has been built based on sequential probability ratio test studies which was submitted by Wald. In thesis, sequential probability ratio test control chart which has been built for normal and binomial distributions, is studied and then equential probability ratio test control charts are compared to average (X ?) control charts and defective ratio (p) control charts.
Benzer Tezler
- Faz dağılımlı kuyruk sistemlerinde hipotez testleri için ardışık çözümleme yönteminin kullanılması
Using sequential analysis for hypothesis tests in the phase-type distribution queueing systems
MÜJGAN ZOBU
- Lognormal dağılımlarının ortalamaları eşitliği için hesaplamalı yaklaşım testine dayalı yeni bir test istatistiği
A new test statistic based on computational approach test for equality of lognormal distributions
ESRA GÜNEŞ
- Protecting cost of claims from exchange rate shocks in insurance sector
Sigorta sektöründe kasko hasar maliyetinin döviz kur şoklarından korunması
İSMAİL TELCİ
Yüksek Lisans
İngilizce
2018
Sigortacılıkİstanbul Bilgi ÜniversitesiFinans Ana Bilim Dalı
DR. ÖĞR. ÜYESİ GENCO FAS
- A sequential classification algorithm for autoregressive processes
Özbağlanımlı süreçler için dizisel sınıflandırma algoritması
GÜNEŞ OTLU
Yüksek Lisans
İngilizce
2011
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiElektrik ve Elektronik Mühendisliği Bölümü
DOÇ. DR. TOLGA ÇİLOĞLU
DOÇ. DR. ÇAĞATAY CANDAN
- Bireyselleştirilmiş bilgisayarlı sınıflama testi kriterlerinin sınıflama doğruluğu ve test uzunluğu açısından karşılaştırılması
Comparison of computerized adaptive classification test criteria in terms of classification accuracy and test length
CEYLAN GÜNDEĞER
Doktora
Türkçe
2017
Eğitim ve ÖğretimHacettepe ÜniversitesiEğitim Bilimleri Ana Bilim Dalı
PROF. DR. NURİ DOĞAN