Al katkılı CdMnO seyreltik manyetik yarıiletkenin manyetik, yapısal, yüzeysel ve optik özelliklerinin incelenmesi
Investigation of the structural, surface, magnetic and optical properties of al-doped CdMnO dilute magnetic semicoductors
- Tez No: 360729
- Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. KADİR ERTÜRK
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2014
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Namık Kemal Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 61
Özet
Seyreltik manyetik yarıiletkenler (DMS) manyetik olmayan atomların bir kısmının manyetik atomlarla yer değiştirmesiyle oluşur. Bu amaçla birçok yarıiletkene manyetik atomlar katkılanmış ve manyetiklik özellikleri incelenmiştir. Bu çalışmada sol-gel yöntemiyle hazırlanan Cd0,95-xMn0,05AlxO (x=0, 0.02, 0.04, 0.06, 0.08, 0.10) seyreltik manyetik yarıiletkeninin manyetik, yapısal, yüzeysel ve optik özellikleri incelenmiştir. Elde edilen örneklerin manyetiklik özellikleri titreşimli örnek manyetometresi (VSM) kullanılarak ölçülmüştür. Yapısal özellikleri X-ışınımı toz kırınımı (XRD) kullanılarak ölçülmüş ve kristal örgü yapıları saptanmıştır. Yüzeysel özellikleri taramalı elektron mikroskobu (SEM) kullanılarak ölçülmüş ve örneklerin yüzey analizleri yapılmıştır. Optik özellikleri UV-görünür spektrofotometresi (UV) kullanılarak ölçülmüştür.
Özet (Çeviri)
Dilute magnetic semiconductors (DMS) with the nonmagnetic atoms by replacing of part of the magnetic atoms occurs. For this purpose, magnetic atoms doped many semiconductor and magnetics properties were investigated. In this thesis, prepared by sol-gel method Cd0,95-xMn0,05AlxO (x=0, 0.02, 0.04, 0.06, 0.08, 0.10) of the dilute magnetic semiconductors, magnetic, structural, surface and optical properties were investigated. Magnetization properties of the samples obtained was measured by vibrating sample magnetometer (VSM). Structural properties was measured by X-ray diffraction and crystal lattice parameter was determined. Surface properties was measured by scanning electron microscope (SEM) and the surface of the samples was analyzed. The optical properties was measured by UV-visible spctrophotometer (UV).
Benzer Tezler
- Low temperature thermoluminescence properties of al-doped ZnO nanoparticles
Al-katkılı ZnO nanoparçacıkların düşük sıcaklık termolüminesans özellikleri
NAHED ABDULSALAM EMHEMED
Yüksek Lisans
İngilizce
2018
Fizik ve Fizik MühendisliğiAtılım ÜniversitesiKimya Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MEHMET IŞIK
- Al katkılı ZnO ince filmlerin solar parametrelerinin belirlenmesi
Determination of solar parameters of al doped ZnO thin films
MEHDİ TONKA
Doktora
Türkçe
2025
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. FEYZA GÜZELÇİMEN
PROF. DR. NİLGÜN BAYDOĞAN
- Nötronlara maruz kalan ZnO:Al ince filmlerde optik modelin incelenmesi
Investigation of optical model of the irradiated ZnO:Al thin films by neutrons
TEYFİK ÖZDURMUŞOĞLU
Yüksek Lisans
Türkçe
2013
Enerjiİstanbul Teknik ÜniversitesiEnerji Bilim ve Teknoloji Ana Bilim Dalı
DOÇ. NİLGÜN BAYDOĞAN
- Al katkılı Ba(Zr,Ti)O3 seramiklerin dielektrik özelliklerinin incelenmesi
Investigation of dielectric properties of al doped Ba(Zr,Ti)O3 ceramics
TUNCAY DİLSİZOĞLU
Yüksek Lisans
Türkçe
2016
Fizik ve Fizik MühendisliğiMustafa Kemal ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. İSMAİL HAKKİ KARAHAN
- Al katkılı ZrO2 oksit tabanlı MOS yapıların elektriksel karakterizasyonu
Electrical caharacterization of Al doped ZrO2 oxide based MOS structures
REMZİ ODUNVEREN
Yüksek Lisans
Türkçe
2025
Fizik ve Fizik MühendisliğiBatman ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. OSMAN PAKMA