Capacitance analysis of MOS structure at different frequencies and at different D.C. biases

Benzer Tezler

1. Tez No

   28624

   Preparation and characterization of silicon thin films

   Silisyum ince filmlerinin hazırlanması ve karakterizasyonu

   İSMAİL ATILGAN

   Doktora

   

   İngilizce

   1993

   Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

   Fizik Ana Bilim Dalı

   PROF. DR. BAYRAM KATIRCIOĞLU

2. Tez No

   55758

   Eşikaltı çalışan otaların iyileştirilmesi ve tip elektroniği alanına uygulanması

   Başlık çevirisi yok

   GÜRSEL DÜZENLİ

   Yüksek Lisans

   

   Türkçe

   1996

   Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

   PROF.DR. H. HAKAN KUNTMAN

3. Tez No

   56042

   Ota-C osilatörlerinde ideal olmama problemi

   Başlık çevirisi yok

   UĞUR ÇAM

   Yüksek Lisans

   

   Türkçe

   1996

   Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

   PROF.DR. H. HAKAN KUNTMAN

4. Tez No

   66585

   Alçak geçiren ve band geçiren aktif OTA-c filtrelerinin quad ve kaskad yöntemi ile tasarımı

   Design of lowpass and bandpass active OTA-c filters using quad and cascade methods

   ÖMER ORAK

   Yüksek Lisans

   

   Türkçe

   1997

   Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

   Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

   PROF. DR. ALİ NUR GÖNÜLEREN

5. Tez No

   406283

   Yüksek dielektrik sabitli yalıtkan filmlerin üretilmesi ve mos yapıda incelenmesi

   Fabrication and characterization of high-k dielectric films in mos structure

   AYŞE EVRİM SAATCİ

   Doktora

   

   Türkçe

   2015

   Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

   Fizik Ana Bilim Dalı

   PROF. DR. KUBİLAY KUTLU