Ag-Cu ince film alaşımlarına ait x-ışını floresans parametrelerinin EDXRF yöntemiyle ölçülmesi
Measurement of the x-ray flourescence parameters for Ag-Cu thi̇n fi̇lm alloys wi̇th the EDXRF method
- Tez No: 424466
- Danışmanlar: PROF. DR. GÖKHAN APAYDIN
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2015
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Karadeniz Teknik Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 79
Özet
Bu çalışmada Ag-Cu ince film alaşımlarında bulunan Ag ve Cu elementlerinin K tabakası floresans tesir kesiti ve floresans verimi ED-XRF tekniği kullanılarak araştırıldı. Numuneler 241Am radyoizotop halka kaynağından yayımlanan 59.5 keV enerjili γ-ışınları ile uyarıldı ve numunelerden yayımlanan karakteristik K X-ışınları, rezolüsyonu 5.9 keV'de 150 eV olan Ultra-LEGe dedektörü ile sayıldı. Bu çalışmadan elde edilen değerler teorik değerlerle karşılaştırıldı. XRF parametreleri arasındaki farkların alaşım konsantrasyonuna bağlı olmadığı gözlemlendi.
Özet (Çeviri)
In this study, K shell X-ray production cross-sections and fluorescence yields of Ag and Cu elements were investigated for the Ag-Cu thin film alloys using the ED-XRF technique. The samples were excited by 59.5 keV γ-rays emitted from 241Am radioisotope source and K X-rays emitted from samples were counted by means of Ultra-LEGe detector with a resolution 150 eV at 5.9 keV. The obtained values from this study have been compared with theoretical values. It was observed that differences between the XRF parameters are not depend on the concentrations of the elements in the alloys.
Benzer Tezler
- Alaşım nanokubbelerin hazırlanması ve karakterizasyonu
Fabrication and characterization of alloy nanodomes
GAMZE YAMAN
- Cu-Ag ince filmlerinin kütle azaltma katsayılarının ölçülmesi
Measurement of mass attenuation coefficients of Cu-Ag thin films
MUSAB YAVUZ
Yüksek Lisans
Türkçe
2017
Metalurji MühendisliğiKahramanmaraş Sütçü İmam ÜniversitesiMalzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ÖMER SÖĞÜT
- Termal buharlaştırma yöntemi ile hazırlanan (Cu-Ag) ince filmlerinin fiziksel özelliklerinin incelenmesi ve Kβ/Kα X-ışını şiddet oranlarının ölçülmesi
Measurement of Kβ/Kα X-ray intensity ratios, and investigation of physical properties of (Cu-Ag) thin films produced by thermal evaporation method
DURDU HAYRETTİN AYAS
Yüksek Lisans
Türkçe
2017
Fizik ve Fizik MühendisliğiKahramanmaraş Sütçü İmam ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ÖMER SÖĞÜT
- Anodik alüminyum oksit katmanlarının kalay bazlı çözeltilerde elektrolitik renklendirme mekanizması
Electro-coloring mechanism of aao layers in tin based electrolytes
PINAR AFŞİN
Doktora
Türkçe
2024
Metalurji Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. MUSTAFA KAMİL ÜRGEN
- Engineering M-Si (M:Ag,Cu) thin films as negative electrodes for lithium ion batteries
Lityum iyon bataryalarda negatif elektrot olarak kullanımları için M-Si (M:Ag,Cu) ince filmlerin tasarlanması
BİLLUR DENİZ KARAHAN
Doktora
İngilizce
2016
Enerjiİstanbul Teknik ÜniversitesiMalzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. ÖZGÜL KELEŞ