Cu-Ag ince filmlerinin kütle azaltma katsayılarının ölçülmesi
Measurement of mass attenuation coefficients of Cu-Ag thin films
- Tez No: 459246
- Danışmanlar: PROF. DR. ÖMER SÖĞÜT
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Metalurji Mühendisliği, Mühendislik Bilimleri, Metallurgical Engineering, Engineering Sciences
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2017
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Kahramanmaraş Sütçü İmam Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 74
Özet
Bu araştırmada, termal buharlaştırma metodu ile çeşitli konsantrasyonlarda üretilmiş olan Cu-Ag ince film alaşımlarının kütle azaltma katsayılarının enerjiye bağlılığı, XRF tekniği ile ölçüldü. (Cu-Ag) ince film alaşımlarının kütle azaltma katsayıları 14.933, 17.444, 23.103, 27.378, 32.068 ve 48.826 keV olmak üzere altı farklı enerjide incelendi.Numuneleri uyarmak için 50 mCi şiddetinde ve 59.5 keV enerjili fotonlar yayınlayan 241Am radyoizotop kaynağı kullanıldı. Numuneden yayınlanan karakteristik X-ışınlarını ve kaynaktan gelen ışınları saymak için 5.96 keV'de yarı maksimumdaki tam genişliği(FWHM) 150 eV, aktif alanı 30 mm2 ve kalınlığı 5 mm, polimer pencere kalınlığı 0.4 μm olan bir Canberra Ultra-LEGe detektör kullanılmıştır. İstatistiksel hataları minimize etmek için her numune en az 10000 saniye (live time) gerçek sayma zamanı ile sayılmıştır.Elde edilen sonuçlar diğer araştırmacıların teorik değerleri ile karşılaştırıldı ve deneysel değerlerin teorik değerlerle hata sınırlarında uyum içinde olduğu gözlendi.
Özet (Çeviri)
In this study, the energy dependence of the mass attenuation coefficients of Cu-Ag thin film alloys produced by the thermal evaporation method at various concentrations was measured by XRF technique. The mass attenuation coefficients of (Cu-Ag) thin film alloys were investigated at six different energies which are 14.933, 17.444, 23.103, 27.378, 32.068 and 48.826 keV. An 241Am radioisotope source having 50 mCi intensity and 59.5 keV energy photons was used to stimulate the samples. An Ultra-LEGe detector with active area of 30 mm2, with thickness of 5 mm, and with polymer window thickness of 0.4 micrometre and with the energy resolution of 150 eV at full-width half maximum at 5.96 keV was used to count the characteristic X-rays emitted from the samples and the rays emitting from the source. Each sample is counted with a real count time of at least 10000 seconds(live time) to minimize statistical errors. The obtained results were compared with the theoretical values of other researchers and experimental results are in good agreement with theoretical values within the error limits.
Benzer Tezler
- Engineering M-Si (M:Ag,Cu) thin films as negative electrodes for lithium ion batteries
Lityum iyon bataryalarda negatif elektrot olarak kullanımları için M-Si (M:Ag,Cu) ince filmlerin tasarlanması
BİLLUR DENİZ KARAHAN
Doktora
İngilizce
2016
Enerjiİstanbul Teknik ÜniversitesiMalzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. ÖZGÜL KELEŞ
- Termiyonik vakum ark (TVA)'ın temel özelliklerinin incelenmesi
Investigation of the basic properties of thermionic vacuum arc (TVA)
TAMER AKAN
Doktora
Türkçe
2003
Fizik ve Fizik MühendisliğiEskişehir Osmangazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. NACİ EKEM
- Termal buharlaştırma yöntemi ile hazırlanan (Cu-Ag) ince filmlerinin fiziksel özelliklerinin incelenmesi ve Kβ/Kα X-ışını şiddet oranlarının ölçülmesi
Measurement of Kβ/Kα X-ray intensity ratios, and investigation of physical properties of (Cu-Ag) thin films produced by thermal evaporation method
DURDU HAYRETTİN AYAS
Yüksek Lisans
Türkçe
2017
Fizik ve Fizik MühendisliğiKahramanmaraş Sütçü İmam ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ÖMER SÖĞÜT
- Investigation of structural, electrical and optical properties of Cu1-XAgXInSe2thin films as a function of x content
Cu1-XAgXInSe2 ince filmlerinin yapısal, elektriksel ve optiksel özelliklerinin x içeriğinin bir fonksiyonu olarak incelenmesi
HASAN HÜSEYİN GÜLLÜ
Yüksek Lisans
İngilizce
2010
Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiFizik Bölümü
PROF. DR. MEHMET PARLAK
- Film örnekleri üzerinde zamanla kendiliğinden oluşan yüzey katmanlarının elipsometrik yöntemle incelenmesi
Başlık çevirisi yok
MELİKE BEHİYE YÜCEL
Yüksek Lisans
Türkçe
1992
Fizik ve Fizik MühendisliğiCumhuriyet ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. NEVZAT KAVCAR