Geri Dön

Cu-Ag ince filmlerinin kütle azaltma katsayılarının ölçülmesi

Measurement of mass attenuation coefficients of Cu-Ag thin films

  1. Tez No: 459246
  2. Yazar: MUSAB YAVUZ
  3. Danışmanlar: PROF. DR. ÖMER SÖĞÜT
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Metalurji Mühendisliği, Mühendislik Bilimleri, Metallurgical Engineering, Engineering Sciences
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2017
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Kahramanmaraş Sütçü İmam Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 74

Özet

Bu araştırmada, termal buharlaştırma metodu ile çeşitli konsantrasyonlarda üretilmiş olan Cu-Ag ince film alaşımlarının kütle azaltma katsayılarının enerjiye bağlılığı, XRF tekniği ile ölçüldü. (Cu-Ag) ince film alaşımlarının kütle azaltma katsayıları 14.933, 17.444, 23.103, 27.378, 32.068 ve 48.826 keV olmak üzere altı farklı enerjide incelendi.Numuneleri uyarmak için 50 mCi şiddetinde ve 59.5 keV enerjili fotonlar yayınlayan 241Am radyoizotop kaynağı kullanıldı. Numuneden yayınlanan karakteristik X-ışınlarını ve kaynaktan gelen ışınları saymak için 5.96 keV'de yarı maksimumdaki tam genişliği(FWHM) 150 eV, aktif alanı 30 mm2 ve kalınlığı 5 mm, polimer pencere kalınlığı 0.4 μm olan bir Canberra Ultra-LEGe detektör kullanılmıştır. İstatistiksel hataları minimize etmek için her numune en az 10000 saniye (live time) gerçek sayma zamanı ile sayılmıştır.Elde edilen sonuçlar diğer araştırmacıların teorik değerleri ile karşılaştırıldı ve deneysel değerlerin teorik değerlerle hata sınırlarında uyum içinde olduğu gözlendi.

Özet (Çeviri)

In this study, the energy dependence of the mass attenuation coefficients of Cu-Ag thin film alloys produced by the thermal evaporation method at various concentrations was measured by XRF technique. The mass attenuation coefficients of (Cu-Ag) thin film alloys were investigated at six different energies which are 14.933, 17.444, 23.103, 27.378, 32.068 and 48.826 keV. An 241Am radioisotope source having 50 mCi intensity and 59.5 keV energy photons was used to stimulate the samples. An Ultra-LEGe detector with active area of 30 mm2, with thickness of 5 mm, and with polymer window thickness of 0.4 micrometre and with the energy resolution of 150 eV at full-width half maximum at 5.96 keV was used to count the characteristic X-rays emitted from the samples and the rays emitting from the source. Each sample is counted with a real count time of at least 10000 seconds(live time) to minimize statistical errors. The obtained results were compared with the theoretical values of other researchers and experimental results are in good agreement with theoretical values within the error limits.

Benzer Tezler

  1. Engineering M-Si (M:Ag,Cu) thin films as negative electrodes for lithium ion batteries

    Lityum iyon bataryalarda negatif elektrot olarak kullanımları için M-Si (M:Ag,Cu) ince filmlerin tasarlanması

    BİLLUR DENİZ KARAHAN

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2016

    Enerjiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ÖZGÜL KELEŞ

  2. Termiyonik vakum ark (TVA)'ın temel özelliklerinin incelenmesi

    Investigation of the basic properties of thermionic vacuum arc (TVA)

    TAMER AKAN

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2003

    Fizik ve Fizik MühendisliğiEskişehir Osmangazi Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. NACİ EKEM

  3. Termal buharlaştırma yöntemi ile hazırlanan (Cu-Ag) ince filmlerinin fiziksel özelliklerinin incelenmesi ve Kβ/Kα X-ışını şiddet oranlarının ölçülmesi

    Measurement of Kβ/Kα X-ray intensity ratios, and investigation of physical properties of (Cu-Ag) thin films produced by thermal evaporation method

    DURDU HAYRETTİN AYAS

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2017

    Fizik ve Fizik MühendisliğiKahramanmaraş Sütçü İmam Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ÖMER SÖĞÜT

  4. Investigation of structural, electrical and optical properties of Cu1-XAgXInSe2thin films as a function of x content

    Cu1-XAgXInSe2 ince filmlerinin yapısal, elektriksel ve optiksel özelliklerinin x içeriğinin bir fonksiyonu olarak incelenmesi

    HASAN HÜSEYİN GÜLLÜ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2010

    Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Fizik Bölümü

    PROF. DR. MEHMET PARLAK

  5. Film örnekleri üzerinde zamanla kendiliğinden oluşan yüzey katmanlarının elipsometrik yöntemle incelenmesi

    Başlık çevirisi yok

    MELİKE BEHİYE YÜCEL

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1992

    Fizik ve Fizik MühendisliğiCumhuriyet Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. NEVZAT KAVCAR