GaSe ve GaSe:Cd yarı iletkeninin büyütülmesi,yapısal, optik ve elektriksel özeliklerinin incelenmesi
Investigation of growth, structural, optical and electrical properties of GaSe and GaSe:Cd semiconductors
- Tez No: 459118
- Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. BEKİR GÜRBULAK
- Tez Türü: Doktora
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2017
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Atatürk Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Katıhal Fiziği Bilim Dalı
- Sayfa Sayısı: 169
Özet
GaSe güneş pilleri, kızıl ötesi dedektörler ve dönüştürücüler gibi çeşitli teknolojik uygulamalarda gelecek vaat etmektedir. Bu malzeme üzerine olan ilgi gün geçtikçe artmakladır. Bu çalışmada GaSe ve GaSe:Cd yarıiletken bileşikleri modifiye Bridgman-Stockbarger metoduyla büyütülmüştür, büyütülen yarıiletkenlerin yapısal elektrik ve optik özellikleri incelenmiştir. Numunelerin yapısal, morfolojik ve kompozisyon özellikleri XRD, SEM, AFM ve EDAX teknikleri kullanılarak gerçekleştirildi. XRD sonuçları, büyütülen numunelerin hekzagonal kristal yapıya sahip olduklarını ve Cd katkılamanın pik şiddetlerini düşürdüğünü gösterdi. XRD sonuçları kullanılarak, numunelerin örgü parametreleri a=b= 3,749 Å ve c=15,907 Å olarak hesaplandı. SEM ve AFM sonuçlarından, ortalama tanecik büyüklüğünün ve numunelerin homojen olduğu gözlenmiştir ve EDAX tekniği numunelerde Ga,Se ve Cd elementleri tespit edilmiştir. Elektriksel ölçüler yardımıyla numunelerin manyetorezistans katsayısı, taşıyıcı yoğunluğu, Hall katsayısı, mobilite ve elektriksel özdirenç değerleri hesaplandı ve bu niceliklerin sıcaklığa bağlı değişimleri incelendi. Daha sonra, Au-Ge/p-GaSe:Cd diyodun akım-voltaj (I-V) karakteristikleri 40-360 K sıcaklık aralığında 10 K 'lik adımlarla alınmıştır. ln(I)–V grafiğinden hesaplanan engel yüksekliği azalan sıcaklıkla azaldığı, idealite faktörlerinin de arttığı görülmüştür. Bu değişim metal yarıiletken arayüzeylerde engel yüksekliğinin Gaussian dağılıma sahip olduğu varsayılarak açıklanmıştır. Numunelerin sıcaklığa bağlı optik soğurma ölçüleri 10-320 K sıcaklık aralığında, 10 K 'lik adımlarla alınmıştır. Eksiton ve yasak enerji aralığının sıcaklığa bağlı değişimi incelenmiştir. Yapıya katkılanan Cd elementi GaSe numunelerin optik soğurma şiddetini artırdığı görülmüştür. Tavlama işlemi ile numunelerde soğurma şiddetinin azaldığı ve yasak enerji aralığı artığı belirlenmiştir.
Özet (Çeviri)
GaSe promises a variety of technological applications such as solar cells, infrared detectors and converters. Interest in this material is increasing day by day. In this work, GaSe and GaSe:Cd semiconducting compounds were grown by Modified Bridgman-Stockbarger method, Structural electrical and optical properties of the grown semiconductors were investigated. The structural, morphological and compositional properties of the samples were determined using XRD, SEM, AFM and EDAX techniques. XRD results showed that the amplified samples had a hexagonal crystal structure and reduced peak intensities of Cd doping. Using XRD results, the lattice parameters of the samples were calculated as a = b = 3,749 Å and c = 15,907 Å. From the SEM and AFM results, it was observed that the mean particle size and the samples were homogeneous, and Ga, Se, and Cd elements were detected in the EDAX technique samples. Magnetoresistance coefficient, carrier density, Hall coefficient, mobility and electrical resistivity values of the samples were calculated with the help of electrical measurement, and the changes of these quantities depending on the temperature were studied. Then, current-voltage (I-V) characteristics of Au-Ge/p-GaSe:Cd diode were taken at 10 K steps in the temperature range of 40-360 K. It was seen that the barrier height decreased from decreasing temperature, calculated from ln (I) -V graph, and the ideal factors also increased. This change is explained by assuming that the barrier height of the metal semiconductors has a Gaussian distribution. The optical absorption measurements based on the temperature of the samples were taken at 10 K steps in the temperature range of 10-320 K. The variation of exciton and forbidden energy range depending on the temperature has been examined. It was observed that the Cd element GaSe samples doped into the structure increased the optical absorption intensity. With the annealing process, the intensity of absorption decreased and the band gap energy range increased in the samples.
Benzer Tezler
- The growth and characterization of GaSe thin films
GaSe ince filmlerin büyütülmesi ve karakterizasyonu
TAHİR ÇOLAKOĞLU
Yüksek Lisans
İngilizce
2003
Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. MEHMET PARLAK
- 4- (alkilaminoisonitrosoasetil) bifenil türevleri ve bunların metal komplekslerinin sentezi ve karakterizasyonu
The synthesis and characterization of 4- (alkylaminoisonitrosoacetyl) biphenyl derivates and their complexes
FİLİZ ARABALI
Yüksek Lisans
Türkçe
2004
KimyaSüleyman Demirel ÜniversitesiKimya Ana Bilim Dalı
Y.DOÇ.DR. FATMA KARİPCİN
- GaSe, GaSe:Gd ve GaSe:In yarı iletkenlerinin yasak enerji aralığına elektrik alanın etkisi
The Influence of the electric field on energy band gap of the GaSe, GaSe:Gd and GaSe:In semiconductors
ŞULE ŞİŞMAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2003
Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. BEKİR GÜRBULAK
- GaSe ince filmlerinin farklı tabanlar üzerinde sılar yöntemiyle büyütülmesi ve karakterizasyonu
Growth and characterization ofGaSe thin films by SILAR method on different substrates
YUNUS ALKAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2012
Fizik ve Fizik MühendisliğiKafkas ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. MEVLÜT KARABULUT
- Low temperature photoluminescence study in GaS-GaSe layered crystals
GaS-GaSe katmanlı kristallerin düşük sıcaklıkta fotoışıma incelemesi
KADİR GÖKŞEN
Yüksek Lisans
İngilizce
2002
Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. NİZAMİ HASANLİ