Geri Dön

Structural and optical properties of sol-gel derived nickel oxide thin films

Şeffaf/yarı iletken nikel oksit ince filmlerin sol-jel tekniği ile üretilmesi

  1. Tez No: 463640
  2. Yazar: BÜŞRA EKİM SARAÇ
  3. Danışmanlar: PROF. DR. CANER DURUCAN, DOÇ. DR. HÜSNÜ EMRAH ÜNALAN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Metalurji Mühendisliği, Metallurgical Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Yarı iletken ince filmler, Semiconductor thin films
  7. Yıl: 2017
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: Orta Doğu Teknik Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

Nanoparçacık yapıdaki nikel (II) oksit (NiO) ince filmler (kaplamalar) cam yüzeylere sol-jel tekniği kullanılarak döndürme yöntemiyle kaplanmıştır. Üretilen ince filmlerin oluşum davranışları, mikroyapısal ve fiziksel özellikleri ince film kalınlığına ve kaplama sonrası 400 – 500 °C arasındaki ısıl işlem sıcaklığına (tavlama sıcaklığına) göre incelenmiştir. İnce filmlerin mikroyapısal, morfolojik ve optoelektronik özellikleri taramalı elektron mikroskobu, atomik güç mikroskobu, X-ışını kırınımı yöntemi, UV-görünür bölge spektroskopisi, Raman spektroskopisi, X-ışını fotoelektron spektroskopisi ve sıcaklığa bağlı direnç değişimi ölçümleriyle incelenmiştir. İnce filmlerin mikroyapısal olarak yüzeye homojen ve düzgün dağılan 10 – 30 nm arasındaki kristallenmiş nanoparçacıklardan oluştuğu ve sol-jel yöntemiyle üretimin tekrarlanabilirliği gözlemlenmiştir. 60 - 170 nm (± 5 nm) arasında farklı kalınlıklarda üretilen ince filmlerin, görünür bölgede % 80' den % 65'e kadar optik geçirgenliğinin olduğu gösterilmiştir. Bu çalışma, sol-jel yöntemiyle farklı parametreler doğrultusunda üretilen filmlerin mikroyapısal ve optoelektronik özelliklerindeki değişimi göstermektedir.

Özet (Çeviri)

Nanocrystalline nickel (II) oxide (NiO) thin films were deposited on glass substrate by spin coating of sol-gel derived solutions. Thin film formation behavior and microstructural / physical properties of the films were investigated as a function of controllable processing parameters, such as thin film thickness and post deposition heat treatment (annealing temperature) in the range of 400 – 500 °C. Microstructural, morphological and optoelectronic properties of NiO films was examined by scanning electron microscopy, atomic force microscopy, X-ray diffraction, UV-Vis spectroscopy, Raman spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy, and temperature-dependent resistivity measurements. It was shown that microstructurally homogeneous and pristine film formation with controllable particle size of 10 – 30 nm can be achieved in a reproducible manner through the sol-gel processing route. Sol-gel derived films of variable thickness in the range of 60 – 170 (± 5 nm), exhibited a transparency of 80 % to 65 % in the visible range, negligible changing with annealing temperature. This work presents a parametric optimization approach of sol- gel deposition of NiO thin films and their optoelectronic characteristics.

Benzer Tezler

  1. Doğuştan kalça çıkıklı hastalarda kalça patolojilerinin bilgisayarlı tomografi ile değerlendirilmesi

    Başlık çevirisi yok

    NECDET ŞÜKRÜ ALTUN

    Tıpta Uzmanlık

    Türkçe

    Türkçe

    1987

    Ortopedi ve TravmatolojiGazi Üniversitesi

    Ortopedi ve Travmatoloji Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. ORHAN ASLANOĞLU

  2. Dokuma kumaşlarda örgü tipinin ham kumaşın boyutları ve geometrik özellikleri üzerindeki etkilerinin araştırılması

    Başlık çevirisi yok

    EMEL ÖNDER

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1985

    Tekstil ve Tekstil MühendisliğiEge Üniversitesi

    Tekstil Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. GÜNGÖR BAŞER

  3. Vecihi Bey'in hikayelerinde fiktif yapı

    Başlık çevirisi yok

    MEHMET ÖNAL

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1985

    Türk Dili ve EdebiyatıGazi Üniversitesi

    Türk Dili ve Edebiyatı Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. SADIK TURAL

  4. Plazma arkı eldesi ve yüzey bölgesi modifikasyonunda kullanılabilirliği

    Başlık çevirisi yok

    ÖZKAN ÖZİPEKLİLER

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1986

    Makine MühendisliğiUludağ Üniversitesi

    Makine Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. HALİM DEMİRCİ

  5. Enez kili ve asitle etkileşmesinin kristal yapı bakımından x-ışını kırınım yöntemi ile incelenmesi

    Başlık çevirisi yok

    NEZİHE ÇALIŞKAN

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    1986

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİnönü Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. NİZAMETTİN ARMAĞAN