Geri Dön

Dik mıknatıslanmaya sahip ferromanyetik ince filmlerde kaydırma etkisinin incelenmesi

Investigation of exchange bias effect in perpendicularly magnetized ferromagnetic thin films

  1. Tez No: 483800
  2. Yazar: SELAHATTİN ÇELİK
  3. Danışmanlar: PROF. DR. ALİ İHSAN DEMİREL, DOÇ. DR. NUMAN AKDOĞAN
  4. Tez Türü: Doktora
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2017
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Yüzüncü Yıl Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 79

Özet

Bu tez çalışmasında, Si üzerine yüksek vakum koşullarında manyetron saçtırmalı tekniği kullanılarak büyütülmüş Pt/IrMn/Pt/Co/Pt/MgO ince filmlerinin yapısal ve manyetik özellikleri incelendi. Büyütülen ince filmlerin tabaka kalınlığı, yoğunluğu ve pürüzlükleri XRR tekniği ile belirlendi. İnce filmlerin yapısal karakterizasyonu için XRD tekniği kullanıldı. Örneklerin manyetik özellikleri ise Manyetik-Optik Kerr Etkisi (MOKE) ve Anormal Hall Etkisi (AHE) yöntemleri ile incelendi. Oda sıcaklığında örneklerin kolay eksenini belirlemek için örnek düzlemine dik ve paralel manyetik alan uygulanarak histeresis eğrileri ölçüldü. Çıkan sonuçlara göre Pt/IrMn/Pt/Co/Pt/MgO ince filmlerinin dik manyetik anizotropiye sahip olduğu belirlendi. Exchange bias ölçümleri için büyütülen ince filmler, 8 kOe'lik manyetik alan altında 400 K sıcaklık değerine ısıtılarak bir saat boyunca tavlama işlemine tabi tutuldular. Daha sonra yine 8 kOe'lik manyetik alan altında hedef sıcaklıklara soğutularak exchange bias alanları hesaplandı. Oda sıcaklığında exchange bias etkisi gözlenmezken düşük sıcaklıklarda dik exchange bias etkisi görülmüştür.

Özet (Çeviri)

In this study, we have investigated the structural and magnetic properties of Pt/IrMn/Pt/Co/Pt/MgO thin films grown on Si substrate by using magnetron sputtering system. Thickness, density and roughness of the films were determined by using XRR method. The XRD is also used in order to analyze the crystal structure of thin films. The magnetic properties of the samples were investigated by using magneto-optical Kerr effect and anomalous Hall effect techniques. Both out-of-plane and in-plane hysteresis curves were measured at room temperature to determine easy axis of samples. The results have revealed that Pt/IrMn/Pt/Co/Pt/MgO samples have perpendicular magnetic anisotropy. The samples were annealed at 400 K for one hour under a field H=8 kOe for exchange bias measurement. After cooling the samples down to 150 K under a magnetic field of 8 kOe, we have carried out AHE measurements. As a result, we have observed perpendicular exchange bias at low temperatures.

Benzer Tezler

  1. Manyetik sensör uygulamaları için, nikel tabanlı tek ve çok katmanlı ince filmlerin yapısal, manyetik ve transport özelliklerinin incelenmesi

    Investigation of structural, magnetic and transport properties of single and multi layered nickel based thin films for magnetic sensor applications

    SALİH AKBULUT

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2023

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGebze Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. FİKRET YILDIZ

  2. Composition and post-annealing effects on magnetic behavior of Pt/Co thin films

    Atomik oran ve tavlamanın Pt/Co ince filmlerde manyetik özelliklere etkileri

    İLKER ÖZTOPRAK

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2019

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGebze Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. OSMAN ÖZTÜRK

  3. İnce filmlerde manyeto-optik ölçümler

    Magneto-optical measurements of thin films

    NUMAN AKDOĞAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2004

    Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ.DR. MEHMET ŞİRİN

  4. Investigating magnetic properties of dot/antidot structures in magnetic thin films for microwave device applications

    Manyetik ince filmlerdeki nokta/boşluk yapıların manyetik özelliklerinin mikrodalga cihaz uygulamaları için incelenmesi

    ZEYNEP REYHAN ÖZTÜRK

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2023

    Fizik ve Fizik MühendisliğiBoğaziçi Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. MEHMET LEVENT KURNAZ

    PROF. DR. FİKRET YILDIZ

  5. STT-MRAM uygulamalarına yönelik P-MTJ geliştirilmesi ve karakterizasyonu

    P-MTJ fabrication and characterization for STT-MRAM applications

    FATMA YILMAZ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2022

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGebze Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. OSMAN ÖZTÜRK