Determination of the optical constans of chalcogenide thin films using fibre optic technigues
Fiber optik teknikleri kullanılarak, kalkojen ince filmlerin optik sabitlerinin bulunması
- Tez No: 50573
- Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. M. NACİ İNCİ
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 1996
- Dil: İngilizce
- Üniversite: Boğaziçi Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 59
Özet
KISA ÖZET Bu çalişmada As.40Se.40Te.20 ve As2Se3 kalkojen ince filmlerinin optik sabitlerini (n,k), kalinliğini, absorbsiyon katsayısını (a), optik band aralığını (Eg) ve dielektrik sabitlerini bulmak için yeni bir metod kullanilmiştir. As.40Se.40Te.20 ve As2Se3 çok modlu optik fiberlerin düzgün olarak kesilmiş uçlarına kaplanmış ve geçirgenlik spektrumlan elde edilmiştir. Diğer bir inceleme, As.40Se.40Te.20' un optik sabitlerindeki ve optik band aralığındaki ısıtma sonucu olan değişiklikler incelenmiştir. Sonuçlarin literatürdekiler ile uygunluk içinde olduğu gösterilmiştir.
Özet (Çeviri)
IV ABSTRACT In this thesis, a new method to determine optical constants (n,k), thickness, absorption coefficient (a), optical band gap (Eg) and dielectric constants (ft.ft) of chalcogenide thin films of As.40Se.40Te.20 andAs2Se3 is introduced. As.40Se.40Te.20 and As2Se3 are coated onto the cleaved end face of multimode optical fibres and the transmittance spectrum is obtained. The other investigation is on the change in optical constants and optical band gap of As.40Se.40Te.20 upon annealing. It is shown that the results are in agreement with the ones in the literature.
Benzer Tezler
- Determination of optical constants by using thz time-domain spectroscopy
Thz zaman uzayı spektroskopisisini kullanarak optik sabitlerin hesaplanması
SALAH HAFFAR
Yüksek Lisans
İngilizce
2017
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiGaziantep ÜniversitesiElektrik-Elektronik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. UĞUR CEM HASAR
- Determination of optical constants of silicon based amorphous films by UV- visible transmittance and reflectance measurement
Mor ötesi görünür bölge optik geçirme/yansıma ölçümleri ile silisyum tabanlı amorf filmlerin optik sabitlerinin belirlenmesi
BARIŞ AKAOĞLU
Yüksek Lisans
İngilizce
1998
Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. BAYRAM KATIRCIOĞLU
- Hidrojenlendirilmiş amorf silisyum filmlerin optik katsayılarını belirlemede kullanılan deneysel yöntemlerin karşılaştırılması
Comparison of experimental methods used for determination of optical constants of hydrogenated amorphous silicon
GÜNGÖR TAYYAR
- Tek katlı ince filmlerin optik özelliklerinin Swanepoel modeli ile belirlenmesi için yazılım geliştirilmesi
Development of a Swanepoel model based software for determination of the optical properties of single layer thin films
ÇAĞRI KÖSE
Yüksek Lisans
Türkçe
2017
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. ABDULLAH CEYLAN
- Vakumda buharlaştırma yöntemiyle hazırlanan alüminyum ince filmlerin optik özellikleri
Başlık çevirisi yok
HÜSEYİN DERİN
Yüksek Lisans
Türkçe
1991
Fizik ve Fizik MühendisliğiEge ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF.DR. KAYHAN KANTARLI