Geri Dön

Determination of the optical constans of chalcogenide thin films using fibre optic technigues

Fiber optik teknikleri kullanılarak, kalkojen ince filmlerin optik sabitlerinin bulunması

  1. Tez No: 50573
  2. Yazar: M. ALPARSLAN YARADANAKUL
  3. Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. M. NACİ İNCİ
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 1996
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: Boğaziçi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 59

Özet

KISA ÖZET Bu çalişmada As.40Se.40Te.20 ve As2Se3 kalkojen ince filmlerinin optik sabitlerini (n,k), kalinliğini, absorbsiyon katsayısını (a), optik band aralığını (Eg) ve dielektrik sabitlerini bulmak için yeni bir metod kullanilmiştir. As.40Se.40Te.20 ve As2Se3 çok modlu optik fiberlerin düzgün olarak kesilmiş uçlarına kaplanmış ve geçirgenlik spektrumlan elde edilmiştir. Diğer bir inceleme, As.40Se.40Te.20' un optik sabitlerindeki ve optik band aralığındaki ısıtma sonucu olan değişiklikler incelenmiştir. Sonuçlarin literatürdekiler ile uygunluk içinde olduğu gösterilmiştir.

Özet (Çeviri)

IV ABSTRACT In this thesis, a new method to determine optical constants (n,k), thickness, absorption coefficient (a), optical band gap (Eg) and dielectric constants (ft.ft) of chalcogenide thin films of As.40Se.40Te.20 andAs2Se3 is introduced. As.40Se.40Te.20 and As2Se3 are coated onto the cleaved end face of multimode optical fibres and the transmittance spectrum is obtained. The other investigation is on the change in optical constants and optical band gap of As.40Se.40Te.20 upon annealing. It is shown that the results are in agreement with the ones in the literature.

Benzer Tezler

  1. Determination of optical constants by using thz time-domain spectroscopy

    Thz zaman uzayı spektroskopisisini kullanarak optik sabitlerin hesaplanması

    SALAH HAFFAR

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2017

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiGaziantep Üniversitesi

    Elektrik-Elektronik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. UĞUR CEM HASAR

  2. Determination of optical constants of silicon based amorphous films by UV- visible transmittance and reflectance measurement

    Mor ötesi görünür bölge optik geçirme/yansıma ölçümleri ile silisyum tabanlı amorf filmlerin optik sabitlerinin belirlenmesi

    BARIŞ AKAOĞLU

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    1998

    Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. BAYRAM KATIRCIOĞLU

  3. Hidrojenlendirilmiş amorf silisyum filmlerin optik katsayılarını belirlemede kullanılan deneysel yöntemlerin karşılaştırılması

    Comparison of experimental methods used for determination of optical constants of hydrogenated amorphous silicon

    GÜNGÖR TAYYAR

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2001

    Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

  4. Tek katlı ince filmlerin optik özelliklerinin Swanepoel modeli ile belirlenmesi için yazılım geliştirilmesi

    Development of a Swanepoel model based software for determination of the optical properties of single layer thin films

    ÇAĞRI KÖSE

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2017

    Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ABDULLAH CEYLAN

  5. Vakumda buharlaştırma yöntemiyle hazırlanan alüminyum ince filmlerin optik özellikleri

    Başlık çevirisi yok

    HÜSEYİN DERİN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1991

    Fizik ve Fizik MühendisliğiEge Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. KAYHAN KANTARLI