Determination of optical constants by using thz time-domain spectroscopy
Thz zaman uzayı spektroskopisisini kullanarak optik sabitlerin hesaplanması
- Tez No: 477868
- Danışmanlar: PROF. DR. UĞUR CEM HASAR
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2017
- Dil: İngilizce
- Üniversite: Gaziantep Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Elektrik-Elektronik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 77
Özet
The Terahertz (THz) zaman-uzayı spektroskopi, 0.1-30 THz frekans aralığına tekabül eden mikrodalga ve infrared bölgeleri spektrumları arasında yer almaktadır. THz spektrumu, tahribatsız test imkanı sağlaması ve farklı alanlarda özgün uygulamalarda kullanılabilmesinden dolayı, yakın zamanda bilim camiasının ilgisini çekmiştir. THz spektroskopinin fonksiyonel bir biçimde kullanılabilmesi için malzemelerin optik özelliklerinin doğru ve hassas çıkarımı önem arz etmektedir. Bu tez kayıpsız ve az-kayıplı malzemelerin optik sabitlerinin çıkarımı için sadace yansıma sinyali bilgisini kullanan yeni bir yöntemin geliştirilmesi üzerinedir. Önerilen yöntemin doğrulanması için şu adımlar uygulanmıştır. İlkin, mükemmel elektrik iletken (PEC) ile sonlandırılmış/sonlandırılmamış örneğin zaman-uzayı sinyalleri ticari 3 boyutlu bir elektromanyetik program ile (CST Mikrodalga stüdyosu©) benzeşimleri elde edilmiştir. Sonrasından, yansıyan ve iletilen sinyallerin (karşılaştırma için) istenilen bileşenleri uygun pencere ile örneklenmiştir. Ardından, zaman-uzayı sinyal bileşenleri frekans-uzayı bileşenlerine hızlı Fourier transfromu algoritması kullanılarak çevrilmiştir. Son olarak, frekans-uzayı sinyalleri kullanılarak analiz edilen örneğin optik özellikleri çıkarılmıştır. Önerilen yöntemin avantajları, uygun başlangıç şartına sahip her hangi bir nümerik yöntemin uygulanmasına ihtiyaç duymaması ve yöntemin uygulanmasında sadece yansıma ölçümleri kullanıldığı için PEC ile sonlandırılmış örneklerin optik karakterizasyonu için uygulanabilir olmasıdır.
Özet (Çeviri)
The Terahertz (THz) time-domain spectroscopy represents the spectrum region between the microwave and the infrared with a range between 0.1-30 THz. In recent years, the THz spectrum have received great attention of the scientific community because of its non-destructive testing properties and its unique applications in various fields. In order to effectively use the functionality of THz spectroscopy, optical properties of materials should be extracted accurately and correctly. This thesis focuses on proposing a new method for extracting optical constants of low-loss or lossless materials using reflection-only signals. We applied the following steps for validation of our method. First, time-domain signals of the sample (Si or GaAs) with/out a perfect electric conductor (PEC) backing are simulated using a commercial 3D electromagnetic simulator program (CST Microwave Studio©). Then, appropriate windows are applied to sample out the required components of the reflected signal and transmitted signal (for comparison). Next, fast Fourier transform algorithm was implemented to transform the time-domain signal components into frequency-domain signal components. Finally, frequency-domain signal components are utilized to extract the optical properties of the analyzed sample. The advantages of the proposed method are that it doesn't require the application of any numerical technique with an appropriate initial guess, and it uses only reflection properties so that the proposed formula is applicable to optical characterization of samples backed by a PEC.
Benzer Tezler
- Bazı Nb zengini A15 tipi materyallerin süperiletkenlik mekanizmasının teorik olarak araştırılması
The theoretical investigation of the superconductivity mechanism of some Nb rich A15 type materials
FATİH KURTULUŞ
Doktora
Türkçe
2024
Fizik ve Fizik MühendisliğiSakarya ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. SADIK BAĞCI
- Çok kristalli CdTe ince filmlerinin optiksel özellikleri: Optiksel sabitlerin 'zarf yöntemiyle' saptanması
Optical properties of polycrystalline cdte thin films: Determination of optical constants by 'envelope method'
BENGÜL ZENCİR
Yüksek Lisans
Türkçe
2007
Fizik ve Fizik MühendisliğiMuğla ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. MURAT BAYHAN
- Determination of optical constants of silicon based amorphous films by UV- visible transmittance and reflectance measurement
Mor ötesi görünür bölge optik geçirme/yansıma ölçümleri ile silisyum tabanlı amorf filmlerin optik sabitlerinin belirlenmesi
BARIŞ AKAOĞLU
Yüksek Lisans
İngilizce
1998
Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. BAYRAM KATIRCIOĞLU
- İnce filmlerin kalınlık ve optiksel sabitlerinin bulunması
Determination of optical constants and thickness of thin films
MİNE ERDEM ÖZGÜR
Yüksek Lisans
Türkçe
2004
Fizik ve Fizik MühendisliğiAnkara ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF.DR. TÜLAY SERİN
- İnce filmlerin optik özelliklerinin elipsometrik yöntemle tayini
Determination of optical properties of thin films by ellipsometry method
GÜLTEKİN ÇELİK
Yüksek Lisans
Türkçe
2000
Fizik ve Fizik MühendisliğiSelçuk ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
Y.DOÇ.DR. HALUK ŞAFAK