Ge üzeri Ti, Si, Au ve ZnO tampon tabakaların pik profil yardımıyla dislokasyon ve korelasyon uzunluklarının tayini
The dislocation and correlation lengths's determination of the Ti, Si, Au and ZnO layers on Ge with the help of the peak profile
- Tez No: 527057
- Danışmanlar: PROF. DR. MUSTAFA KEMAL ÖZTÜRK
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2018
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Gazi Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Fizik Bilim Dalı
- Sayfa Sayısı: 52
Özet
Sputtering sistemi ile Ge alltaş üzerine 500 nm olarak büyütülmüş Si, Ti, Au ve ZnO epitaksiyel tabakaların rastgele dağılmış diskolasyonların bulunduğu X-ışını difraksiyon profillerinin pik çizgi şekli analiz edildi. Pik noktasının en yoğun kısmında pik davranışı Gauss fonksiyonuna uygundur. Fakat, XRD pikin sağ ve sol iki kuyruğu q-3 güç yasasına uymaktadır. Rastgele diskolasyonlar için tipik olan q-3 bozunumu açık dedektör ile omega XRD eğrilerinde gözlenir. Tüm profil, sınırlı bir rastgele diskolasyon dağılımı ile iyi bir şekilde fit edildi. Hem yaklaşık 1010 cm-2 mertebesinde kenar diskolasyonlarının yoğunlukları ve hemde yaklaşık 103 nm korelasyon uzunlukları elde edilir. Dislokasyon ve koreleasyon hesapları için Kragner in metodun da bulunan yarı deneysel denklemler kullanılmıştır. İyi bir fit için fit iterasyon adımı ortalama 9,0x106 mertebesinde alınmıştır.
Özet (Çeviri)
With the sputtering system over the Ge subsrate magnified as 500 nm Si Ti, Au and ZnO containing random scattering epitaxial layer dislocations of XRD peak profiles were analyzed. The most intensive part of the peak point behavior conforms to the Gaussian function. Although the tail of the left and right XRD peaks comlien with q-3 law. q-3 decay can be seen in the outdoor detector with omega XRD curve typical for random dislocations. All profile fitting with limitted random dislocation scattering. Both dislocations densities about 1010 cm-2 order of edge and 103 nm correlation lengths are obtained. Experimental equations in Kragner method has been used for dislocation and correlation calculation. Iteration step has been taken in an average of 9,0x106 for a good fit.
Benzer Tezler
- Atmosferik partikül maddelerin (PM) kimyasal karakterizasyonunun belirlenmesi ve kaynaklarının tespit edilmesi: Şanlıurfa örneği
Determining the chemical characterization of atmospheric particulate matters (PM) and source appointment: The case of Sanlıurfa
MUHAMMED YEŞİLDAĞ
Yüksek Lisans
Türkçe
2022
Çevre MühendisliğiHarran ÜniversitesiÇevre Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DR. ÖĞR. ÜYESİ TUBA RASTGELDİ DOĞAN
DOÇ. DR. MELİK KARA
- La Vie artistique litteraire culturelle et sociale l'Izmir en langue Française (du XVII'eme siecle a nos jours)
Fransızca'da İzmir'in sanatsal edebi kültürel ve toplumsal yaşamı (XVII'inci yüzyıldan günümüze)
HASAN ZORLUSOY
Doktora
Fransızca
1993
Fransız Dili ve EdebiyatıDokuz Eylül ÜniversitesiFransız Dili ve Edebiyatı Ana Bilim Dalı
PROF. DR. EROL KAYRA
- Kuru incirlerde küf florası ve aflatoksigenik küflerin saptanması
Başlık çevirisi yok
SİBEL BÜYÜKŞİRİN
- Mimari tasarım eğitimi tasarım bilgisi bağlamında stüdyo eleştirileri
Architectural design education: Design knowledge cummunicated in studio critiques
BELKIS ULUOĞLU