Geri Dön

Ge üzeri Ti, Si, Au ve ZnO tampon tabakaların pik profil yardımıyla dislokasyon ve korelasyon uzunluklarının tayini

The dislocation and correlation lengths's determination of the Ti, Si, Au and ZnO layers on Ge with the help of the peak profile

  1. Tez No: 527057
  2. Yazar: HASAN CELAL DERVİŞOĞLU
  3. Danışmanlar: PROF. DR. MUSTAFA KEMAL ÖZTÜRK
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2018
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Gazi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Fizik Bilim Dalı
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

Sputtering sistemi ile Ge alltaş üzerine 500 nm olarak büyütülmüş Si, Ti, Au ve ZnO epitaksiyel tabakaların rastgele dağılmış diskolasyonların bulunduğu X-ışını difraksiyon profillerinin pik çizgi şekli analiz edildi. Pik noktasının en yoğun kısmında pik davranışı Gauss fonksiyonuna uygundur. Fakat, XRD pikin sağ ve sol iki kuyruğu q-3 güç yasasına uymaktadır. Rastgele diskolasyonlar için tipik olan q-3 bozunumu açık dedektör ile omega XRD eğrilerinde gözlenir. Tüm profil, sınırlı bir rastgele diskolasyon dağılımı ile iyi bir şekilde fit edildi. Hem yaklaşık 1010 cm-2 mertebesinde kenar diskolasyonlarının yoğunlukları ve hemde yaklaşık 103 nm korelasyon uzunlukları elde edilir. Dislokasyon ve koreleasyon hesapları için Kragner in metodun da bulunan yarı deneysel denklemler kullanılmıştır. İyi bir fit için fit iterasyon adımı ortalama 9,0x106 mertebesinde alınmıştır.

Özet (Çeviri)

With the sputtering system over the Ge subsrate magnified as 500 nm Si Ti, Au and ZnO containing random scattering epitaxial layer dislocations of XRD peak profiles were analyzed. The most intensive part of the peak point behavior conforms to the Gaussian function. Although the tail of the left and right XRD peaks comlien with q-3 law. q-3 decay can be seen in the outdoor detector with omega XRD curve typical for random dislocations. All profile fitting with limitted random dislocation scattering. Both dislocations densities about 1010 cm-2 order of edge and 103 nm correlation lengths are obtained. Experimental equations in Kragner method has been used for dislocation and correlation calculation. Iteration step has been taken in an average of 9,0x106 for a good fit.

Benzer Tezler

  1. Yeni Cami'nin akustik açıdan performans değerlendirmesi

    Evaluation of the acoustical performance of the New Mosque

    EVREN YILDIRIM

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2003

    Mimarlıkİstanbul Teknik Üniversitesi

    Mimarlık Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SEVTAP YILMAZ DEMİRKALE

  2. İstanbul Bizans mimarisinde kullanılan tuğlanın fiziksel ve mekanik özellikleri

    Characteristics of brick used in Byzantine architecture in İstanbul

    YEGAN KAHYA

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    1992

    Mimarlıkİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF. DR. METİN AHUNBAY

  3. Real and reactive power optimization by approximate sub-optimum techniques

    Yaklaşık ayrıştırma yöntemi ile etkin ve tek güç optimizasyonu

    AYDOĞAN ÖZDEMİR

  4. Aspect verbal en grec Istanbouliote: modele de description fonctionnaliste

    Başlık çevirisi yok

    EMİNE YAVAŞGEL

    Yüksek Lisans

    Fransızca

    Fransızca

    1993

    Dilbilimİstanbul Üniversitesi

    Yabancı Diller Eğitimi Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. NÜKHET GÜZ

  5. Hareketli sulama makinalarında kullanılan sulama elamanlarının su dağılım yeknesaklığı üzerine bir araştırma

    Başlık çevirisi yok

    HÜSEYİN YÜRDEM

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1993

    ZiraatEge Üniversitesi

    Tarım Makineleri Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ERDOĞAN UZ