X-ışını floresans spektroskopisinin açıya duyarlı motor sistemiyle entegrasyonu
Integration of x-ray floresans spectroscopy with angle sensitive engine system
- Tez No: 529540
- Danışmanlar: DR. ÖĞR. ÜYESİ ÜMİT ALKAN
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Mekatronik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering, Mechatronics Engineering
- Anahtar Kelimeler: EDXRF tekniği, Mekatronik, Saçılma parametreleri, Zırhlama, EDXRF technique, Mechatronics, Scattering parameters, Shielding
- Yıl: 2018
- Dil: Türkçe
- Üniversite: İstanbul Gelişim Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Mekatronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Röntgen'in 1895 yılında X-ışınlarını keşfi, materyallerin kimliklendirilmesi ilgili önemli bir çığır açmıştır. X-Işını Floresans, elementlerin kalitatif ve kantitatif analizlerini numuneye zarar vermeden sağlayan önemli bir analitik tekniktir. Günümüzde temel fizik araştırmaları, metalürji, endüstri, tıp, biyokimya ve arkeoloji gibi çok farklı alanlarda kullanılan bu teknik sabit açılı deney geometrilerinde uygulanmaktadır. Ayrıca, XRF tekniği malzemelerin zırhlama yetenekleri hakkında bilgi veren kütle azaltma katsayısı parametrelerinin hesaplamalarında da kullanılmaktadır. Bu tez çalışmasında, sabit deney geometrisine sahip XRF sistemi açıya duyarlı hale getirilerek optimize edilecektir. Farklı saçılma açılarında farklı standart numuneler için radyasyon zırhlama parametreleri hesaplanarak yeni veriler bilim dünyasına sunulacaktır.
Özet (Çeviri)
The discovery of X-rays in 1895 opened an important milestone in the identification of materials. X-ray Fluorescence is an important analytical technique that provides qualitative and quantitative analysis of elements without harm to the sample. Today, This technique which is applied in fixed angle test geometries is used in many different fields such as fundamental physics research, metallurgy, industry, medicine, biochemistry, and archeology. In addition, XRF technique is also used in the calculation of the mass reduction coefficient parameters that provide information about the shield capabilities of the materials. By calculating radiation shielding parameters at different scattering angles and for different standard samples, new data will be represented to the scientific community literature.
Benzer Tezler
- Dede harabeleri (Gaziantep) kazılarında açığa çıkan çatı kiremitlerinin arkeometrik karakterizasyonu
Archaeometric characterization of roof tiles uncovered during the dede harabeleri (Gaziantep) excavations
YUNUS AKGÜN
- Çözelti yanma senteziyle fotokatalitik özelliklere sahip nanokompozitlerin üretimi ve karakterizasyonu
Production and characterization of photocatalytic nanocomposites via solution combustion synthesis
SELÇUK KAN
Doktora
Türkçe
2026
İstanbul Teknik ÜniversitesiMetalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
Yükleniyor...
- Characterization of glazes of the 11-14th-century potsherds and tiles from Comana Pontica in Tokat, Turkey
Türkiye Tokat'taki Komana Pontika'da bulunan 11-14. yüzyıl seramik ve çini parçalarının sırlarının karakterizasyonu
CANBERK ALTUNDAL
- Dalgaboyu ayrımlı x-ışını floresans spektrometresi ile dedeksiyon limitinin tayini
Evaluation of detection limits with wavelength dispersive x- ray fluorescence spectrometry
EBRU SENEMTAŞI ÜNAL
- Çoklu spektroskopik tekniklerle (EDXRF, ICP-MS, Raman) farklı kanserli doku tiplerinin karakterizasyonu ve sınıflandırılması
Characterization and classification of different cancer tissue types with multi-spectroscopic techniques (EDXRF, ICP-MS, Raman)
VEDAT SOLA
