Difraksiyonun geometrik teorisi ile reflektör anten analizi
Başlık çevirisi mevcut değil.
- Tez No: 55097
- Danışmanlar: Y.DOÇ.DR. CEM NAKIBOĞLU
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Yansıma noktası, difraksiyon noktası, geometrik optik metodu, difraksiyonun geometrik teorisi, GTD, reflektör antenler, Reflection point, diffraction point, geometrical optics method, geometrical theory of diffraction, GTD
- Yıl: 1996
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Gazi Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 72
Özet
ÖZET Yüksek frekans asimtotik teknikleri elektromanyetik problemlerin çözümünde kullanılabilen metodlardır. Bu çalışmada Fermat prensibi kullanılarak z=f(x,y) formunda verilen keyfi olarak seçilmiş bir yüzey üzerindeki yansıma rrcrktasr ve difraksiyon noktası bulunmuştur. Yansıma noktasını iraîmak için yüzey nelirli bir sınır içinde alt bölgelere böHhrmtrş ve her bir alt bölgede yansıma noktası aranırken nümerik metodlar kufranıhnrştrr. Daha sonra yansıma noktasındaki yansıyaır ve kınlan elektrik ve manyetik alanlar ile difraksiyon noktası ve herhangi hir gözlem noktasındaki elektrik ve manyetik alanlar bir ışın boyunca hesaplanmıştır. Bu alanları hesaplamak için geometrik optik metodu kullanılmıştır ve sonuçlar difraksiyonun geometrik teorisi uygulanarak iyileştirilmiştir. Bu çalışmanın sonucunda bir program geliştirilmiş ve bu metod keyfi olarak seçilen yüzeylere uygulanmıştır.
Özet (Çeviri)
m ABSTRACT High frequency asymptotic techniques are methods which can be used to solve electromagnetic problems. In this study, the diffraction and reflection point on a surface which is arbitrarily chosen in the form of z=f(x,y) hras been- found by using the Fermat's principle. In order to find the reflection point, the surface is divided into subregions within a certain boundary and the numerical methods are used to searcii for a reflection point in each subregion. Then the reflected and transmitted- electric anrd magnetic fieids at the reflection point, the diffraction -point and the electric and magnetic fields at an observation ptnnt are calculated along a ray. Geometrical optics method is used to calculate tnis fields and the results are improved by applying geometrical theory of diffraction. As a result of this study software has been developed and the method is applied to arbitrarily chosen surfaces.
Benzer Tezler
- Nikel ve bakır iyonlarının hidrojen bağlı moleküler sıvılardaki koordinasyonunun yoğunluk fonksiyonel teorisi ile incelenmesi
Determination of some divalent metal complexes by molekuler simulation method
SEJDA ÖZGÜR
Yüksek Lisans
Türkçe
2019
Fizik ve Fizik MühendisliğiTrakya ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. ŞEVKET EROL OKAN
DR. ÖĞR. ÜYESİ GÜHERGÜL ULUÇAM
- 1,2-dimetilimidazol molekülünün ve metal komplekslerinin yapısal, titreşimsel ve elektronik geçiş enerjilerinin deneysel ve teorik olarak incelenmesi
Experimental and theoretical investigation of structural, vibrational and electronic transition energies of 1,2-dimethylimidazole molecule and i̇ts metal complexes
BİRAY KINIK
Yüksek Lisans
Türkçe
2019
Fizik ve Fizik MühendisliğiEskişehir Osmangazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. GÜNEŞ SÜHEYLA KÜRKÇÜOĞLU
- Gemi hareketlerinin farklı sayısal yöntemlerle incelenmesi ve optimal kontrol tasarımı ile sönümlenmesi
Investigation of ship motions by different numerical methods and reducing by optimal control design
FERDİ ÇAKICI
Doktora
Türkçe
2019
Gemi MühendisliğiYıldız Teknik ÜniversitesiGemi İnşaatı ve Gemi Makineleri Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. AHMET DURSUN ALKAN
- Electromagnetic scattered field analysis of 2D wedge geometries with HFA techniques and FDTD method
2 boyutlu üçgensel geometrilerin elektromanyetik saçılım alanlarının yüksek frekans asimtotik teknikleri ve zamanda sonlu farklar yöntemi ile incelenmesi
MEHMET ALPER USLU
Yüksek Lisans
İngilizce
2012
Elektrik ve Elektronik MühendisliğiDoğuş ÜniversitesiElektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. LEVENT SEVGİ
- Sert seramik kaplı malzemelerde kaplama tabakası-taban malzeme arayüzeyinin x- ışınları ince film tekniği ile karakterizasyonu
Başlık çevirisi yok
UĞUR DEMİRLER