X ışını spektrometresi ile kalınlık tayini
Thicness determination by an x ray spectrometr
- Tez No: 58073
- Danışmanlar: DOÇ.DR. YUSUF ŞAHİN
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Altın, Alüminyum, Gümüş, Levhalar, Spektrometri, X ışını spektrometresi, Gold, Aluminum, Silver, Plates, Spectrometry, X ray spectrometer
- Yıl: 1996
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Atatürk Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Bu tez çalışmasında, muhtelif kalınlıklı Al, Ag, Au levha (foil) numunelerin kalınlıkları x-ışını geçiş (transmission) tekniği kullanılarak spektrometrik metotla deneysel olarak bulunmuştur. Radyoaktif Am-241 nokta ve halka kaynaklardan yayınlanan 5.9 keVluk gama fotonlan uygun geometrilerde muhtelif kalınlıklı numuneler üzerine düşürülerek numuneden geçen ve çıkan fotonlarm spektrumlan elde edilmiştir. Havadan ve numune tutucularından saçılma ve temel sayma (background) katkısını tayin etmek için numunesiz ölçümler alınmıştır. Bu ölçümlerde 5.9 keVde yan maksimumdaki tam genişliği 160 eV olan bir Si(Li) dedektörü ile bağlantılı olan ND 66B çok kanallı analizör ve diğer elektronik sistemler kullanılmıştır. Spektrometrik olarak bulunan kalınlıkların şiddete, mikrometre ve tartma yoluyla bulunan kalınlıklara karşı korelasyon grafikleri çizilmiştir. Bu grafiklerden bunlar arasında iyi bir korelasyon olduğu görülmüştür.
Özet (Çeviri)
The thicknesses of the various foils of Al, Ag, Au have been determinated with the transmission technique using an x-ray spectrometry. Transmitted and scattered photon of gamma rays radiated from an Am-241 point source and an Am-241 annular source have been counted together with the characteristic photon of the substrate and coating (covered materials) in a suitable geometry. To determinate the contributions of the background and scatterings from sample holder and wheather, measurement without sample have been performed. For the counting process, Si(Li) detector whose full width at half maximum (FWHM) is 160 eV at 59.5 keV coupled to an ND 66B multichannel analyser and the other electronical systems were used. Thicknesses experimentally determined with the transmission technique have been plotted versus intensity, thicknesses determined gravimetrically and measured with a micrometer. Besides, it is seen from these plots there are a good correlations between the measured intensity and the thicknesses of the samples determined from the transmission measurement by a gravimetric method and directly measured by a micrometer.
Benzer Tezler
- Plazma elektrolitik oksidasyon teknolojisi uygulanan 6082 aluminyum alaşımının özelliklerinin araştırılması
The investigation of plasma electrolytic oxide coating properties on 6082 aluminum alloy
NESİBE HANDE KALKANCI BAŞAK
- X-ışını spektrometresiyle mukayaseli kalınlık tayini
Comparative thicness determinations by X-ray spectrometer
NESLİHAN EKİNCİ
- Türkiye'de yetişen bazı farmasotik bitkilerin x-ışınları floresans emisyon transmisyon tekniği ile incelenmesi
Investigation of some pharmaceutical herbs growing in Turkey by the x-ray fluorescence emission-transmission (E-T) technique
NURETTİN EFE
- Elektrokimyasal depozisyon yöntemi ile üretilen polipirol ve polipirol-mangan oksit filmlerin kapasitif davranışlarının araştırılması
Investigation of capacitive behavior of polypyrrole and polypyrrole - manganese oxide films grown by electrochemical deposition method
DİLEK VATANSEVER
- Termiyonik vakum ark (TVA) tekniği ile II-VI grubu bazı yarıiletken bileşiklerin ince filmlerinin üretilmesi ve bazı fiziksel özelliklerinin incelenmesi
Produce of thin films of II-VI group some semiconductor compounds with thermionic vacuum arc (TVA) technique and investigation of some physical properties
MEHMET ÖZKAN
