Görünür ve kızılötesi bölge için yansıma önleyici yarıiletken ince film geliştirilmesi
Development of antireflect semiconductor thin film for visible and infrared region
- Tez No: 652796
- Danışmanlar: DR. ÖĞR. ÜYESİ DERYA PEKER
- Tez Türü: Doktora
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2020
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Eskişehir Osmangazi Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Genel Fizik Bilim Dalı
- Sayfa Sayısı: 72
Özet
Bu çalışma kapsamında, saf materyal plazması üreten bir teknik olan Termiyonik Vakum Ark (TVA) tekniği kullanılarak, tek katmanlı yansıtmaz (anti-reflective (AR)) kaplama malzemesi olarak en iyi bilinen MgF2 (Magnezyum Florür) bileşiğinin plazmasını üreterek, cam taban üzerine ince filmler oluşturulmuştur. Oluşturulan bu ince filmlerin bazı fiziksel özellikleri incelenmiştir. İnce filmlerin yüzey özelliklerini incelemek için atomik kuvvet mikroskobu (AFM), kristal yapılarını incelemek için ise x-ışını kırınım (XRD) cihazı kullanılmıştır. Üretilen ince filmlerin optik özellikleri ise görünür bölge için UV-Vis spektrofotometri cihazı ve kızılötesi (IR) bölge için FTIR spektroskopisi cihazı kullanılarak incelenmiştir.
Özet (Çeviri)
In this study, thin films were formed on the glass base by producing the plasma of MgF2 (Magnesium Fluoride) compound, which is known as the most suitable material as single layer anti-reflective (AR) coating material by using Thermionic Vacuum Arc (TVA) technique, which produces pure material plasma. Some physical properties of the produced thin films were investigated. Atomic Force Microscopy (AFM) was used to examine the surface properties of the thin films and X-Ray Diffraction (XRD) device was used to examine the crystal structures of the thin films. The optical properties of the produced thin films were examined by using UV-Vis spectrophotometry for visible region and FTIR spectroscopy for infrared (IR) region.
Benzer Tezler
- Yansıtıcı ve yansıma önleyici optik ince film malzemelerin üretimi analiz ve test süreçleri
The production, analysis and testing processes of reflective & antireflective optical thin film materials
ÜMRAN CEREN BAŞKÖSE
Doktora
Türkçe
2016
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. SEMRAN SAĞLAM
- Aşırı selenyum katkılı siyah silisyum görünür ve kızılötesi dedektörlerin üretimi ve karakterizasyonu
Fabrication and characterization of selenium hyperdoped black silicon visible and infrared detectors
OZAN AYDIN
Yüksek Lisans
Türkçe
2017
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiNanoteknoloji ve Nanotıp Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. TUNAY TANSEL
- Optical characterization of silicon based hydrogenated amorphous thin films by UV-Visible and infrared measurements
Silikon tabanlı hidrojenlenmiş amorf ince filmlerin mor ötesi-görünür ve kızılötesi ölçümler ile optik karakterizasyonu
İLKER KILIÇ
Yüksek Lisans
İngilizce
2006
Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiFizik Bölümü
PROF.DR. BAYRAM KATIRCIOĞLU
- Analysis of wave propagation characteristics and design methods in two dimensional photonic bandgap structures
İki boyutlu fotonik bant durduran yapılarda dalga analizi ve tasarım yöntemleri
ONUR ERKAN
Doktora
İngilizce
2019
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiElektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. SERKAN ŞİMŞEK
- Savunma sanayi uygulamalarında termal kamuflaj gerçekleştirmek için metamalzeme anten tasarımı
Metamaterial antenna design for thermal camouflage in defense industry applications
AHMET DEMİR
Yüksek Lisans
Türkçe
2024
Savunma ve Savunma TeknolojileriSivas Bilim ve Teknoloji ÜniversitesiSavunma Teknolojileri Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. TİMUÇİN EMRE TABARU