Si (Li) dedektörü ile ölçülen karakteristik LX-ışınlarının flüoresans üretim tesir kesitlerinin uyarma enerjisine bağlı olarak değişimi
Energy dependence measurements of characteristic LX-ray fluorescence production cross-sections by A Si(Li) detector
- Tez No: 76966
- Danışmanlar: PROF. DR. YUSUF ŞAHİN
- Tez Türü: Doktora
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 1998
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Atatürk Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 84
Özet
Si(Li) katıhal dedektörü kullanılarak Er, Ta, W, Au, Hg, Tl, Pb, ve Bi elementlerine ait, karakteristik L x-ışını üretim tesir kesitleri enerjiye bağlı olarak 16,89-59,5 keV enerji aralığında ikincil uyarıcı metodu kullanılarak incelenmiştir. İkincil uyarıcı kaynak olarak, Nb, Ag, Sn, Ba, Nd, Gd, ve Er elementleri seçilmiş olup, bu elementlerin uyarılmasında Am-241 radyoizotop halka kaynağının 59.5 keV'lik gamma ışınlan kullanılmıştır. İkincil uyarıcılardan yayımlanan K x-ışınlan, seçtiğimiz numuneleri uyarmıştır. Numunelerden yayımlanan L x-ışınlarının sayılmasında rezolüsyonu 5.9 keV'de 160 eV olan Si(Li) dedektörü kullanılmıştır. İncelenen bütün elementlerin QLİ (İ=?,ß) tesir kesitlerinin uyarma enerjisinin artmasıyla azaldığı fakat aynı uyarma enerjisinde artan atom numarası ile arttığı gözlemlenmiştir. Elde edilen değerler diğer araştırmacıların teorik ve deneysel değerleri ile karşılaştırılmıştır.
Özet (Çeviri)
SUMMARY Energy dependencies of L x-ray fluorescence cross-section of Er, Ta, W, Au, Hg, Tl, Pb, and Bi are investigated in the excitation photon energy range 16.89-59.5 keV by an energy dispersive x-ray fluorescence dedection system. Nb, Ag, Sn, Ba, Nd, Gd, and Er are used as the secondary excited sources which are excited by the 59.5 keV gamma photon of Am-241 radyoisotop. Characteristic L x-rays emitted from the sample were counted by a Si(Li) semiconductor dedector whose resolution is 160 eV at 5.9 keV and coupled to an ND 66 B analyser and the other relevant electronics. It is researched that L x-ray fluorescence cross-sections of the elements under investigation are decreasing with the increasing excitation energy but increasing with the increasing atomic number for the same excitation energy. Measured results are comparatively given with the theoretical and experimental results of the other researchers.
Benzer Tezler
- Pb elementinin L tabakası X-ışını flöresans şiddetleri üzerine matris etkileri
Matrix effect on the L shell X-ray fluorescence intensities of Pb element
EMİNE NARMANLI HAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2012
Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ELİF BOYDAŞ
- Bazı ferromanyetik elementler ve bileşiklerde X-ışını flöresans tesir kesitlerine manyetik alanın etkisi
External magnetic field effects on X-ray fluorescence cross sections in some ferreomagnetic elements and their coumpounds
ALİ GÜROL
Doktora
Türkçe
2004
Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ.DR. ABDULHALİK KARABULUT
- Kimyasal banyo yöntemi ile üretilen XSe (X=Zn, Cu, Mn) ince filmlerinde XRF ölçümleri
XRF measurements in XSe (X=Zn, Cu, Mn) thin films prepared by chemical bath deposition
MUSTAFA KAVGACI
Yüksek Lisans
Türkçe
2007
Fizik ve Fizik MühendisliğiKahramanmaraş Sütçü İmam ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. ÜMİT ALVER
- XRF ile ilgili atomik parametreler ve K tabakası osilatör şiddetlerinin belirlenmesi
Determination of some atomic parameters related to XRF and K shell oscillator strengths
MEHMET FATİH TURHAN
Doktora
Türkçe
2017
Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. RIDVAN DURAK
- Bazı elementlerin M tabakası x-ışınlarının üretim tesir kesiti ve açısal dağılımlarının enerji ayırımlı x-ışını spektrometresi ile ölçülmesi
Başlık çevirisi yok
MEHMET ŞAHİN
Yüksek Lisans
Türkçe
1998
Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. LÜTFÜ DEMİR