Geri Dön

Si (Li) dedektörü ile ölçülen karakteristik LX-ışınlarının flüoresans üretim tesir kesitlerinin uyarma enerjisine bağlı olarak değişimi

Energy dependence measurements of characteristic LX-ray fluorescence production cross-sections by A Si(Li) detector

  1. Tez No: 76966
  2. Yazar: ARİF BAŞTUĞ
  3. Danışmanlar: PROF. DR. YUSUF ŞAHİN
  4. Tez Türü: Doktora
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Tesir kesiti, X ışını, Cross section, X ray
  7. Yıl: 1998
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Atatürk Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

Si(Li) katıhal dedektörü kullanılarak Er, Ta, W, Au, Hg, Tl, Pb, ve Bi elementlerine ait, karakteristik L x-ışını üretim tesir kesitleri enerjiye bağlı olarak 16,89-59,5 keV enerji aralığında ikincil uyarıcı metodu kullanılarak incelenmiştir. İkincil uyarıcı kaynak olarak, Nb, Ag, Sn, Ba, Nd, Gd, ve Er elementleri seçilmiş olup, bu elementlerin uyarılmasında Am-241 radyoizotop halka kaynağının 59.5 keV'lik gamma ışınlan kullanılmıştır. İkincil uyarıcılardan yayımlanan K x-ışınlan, seçtiğimiz numuneleri uyarmıştır. Numunelerden yayımlanan L x-ışınlarının sayılmasında rezolüsyonu 5.9 keV'de 160 eV olan Si(Li) dedektörü kullanılmıştır. İncelenen bütün elementlerin QLİ (İ=?,ß) tesir kesitlerinin uyarma enerjisinin artmasıyla azaldığı fakat aynı uyarma enerjisinde artan atom numarası ile arttığı gözlemlenmiştir. Elde edilen değerler diğer araştırmacıların teorik ve deneysel değerleri ile karşılaştırılmıştır.

Özet (Çeviri)

SUMMARY Energy dependencies of L x-ray fluorescence cross-section of Er, Ta, W, Au, Hg, Tl, Pb, and Bi are investigated in the excitation photon energy range 16.89-59.5 keV by an energy dispersive x-ray fluorescence dedection system. Nb, Ag, Sn, Ba, Nd, Gd, and Er are used as the secondary excited sources which are excited by the 59.5 keV gamma photon of Am-241 radyoisotop. Characteristic L x-rays emitted from the sample were counted by a Si(Li) semiconductor dedector whose resolution is 160 eV at 5.9 keV and coupled to an ND 66 B analyser and the other relevant electronics. It is researched that L x-ray fluorescence cross-sections of the elements under investigation are decreasing with the increasing excitation energy but increasing with the increasing atomic number for the same excitation energy. Measured results are comparatively given with the theoretical and experimental results of the other researchers.

Benzer Tezler

  1. Eksternal etmoidektomiler

    Başlık çevirisi yok

    ERCÜMENT AKMAN

    Tıpta Uzmanlık

    Türkçe

    Türkçe

    1987

    Kulak Burun ve BoğazGazi Üniversitesi

    Kulak Burun Boğaz Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. NECMETTİN AKYILDIZ

  2. Landsat uydusu aracılığı ile elde edilen görüntülerin sınıflandırılmaları ve bunlara ilişkin bilgisayar programlarının hazırlanması

    Başlık çevirisi yok

    G. FERZAN KÜÇÜKA

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1985

    Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve KontrolEge Üniversitesi

    Bilgisayar Bilimleri ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. HALİS PÜSKÜLCÜ

  3. Türkiye'de serebral hareket bozukluklarının etiyolojisi epidemiyolojisi ve bazı klinik özellikleri

    Başlık çevirisi yok

    AŞER BENSUSAN

    Tıpta Uzmanlık

    Türkçe

    Türkçe

    1986

    Çocuk Sağlığı ve Hastalıklarıİstanbul Üniversitesi

    Çocuk Sağlığı ve Hastalıkları Ana Bilim Dalı