Geri Dön

Yarıyalıtkan ve n-tipi GaAs kristallerinin yakın bant kenarı bölgesinde optik soğurma olaylarının incelenmesi

Near bandedge optical absorption processes in semi-insulating and n-type GaAs

  1. Tez No: 83673
  2. Yazar: TACETTİN YILDIRIM
  3. Danışmanlar: PROF.DR. SEBAHATTİN TÜZEMEN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 1999
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Atatürk Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 71

Özet

Katkılanmamış ve yanyalıtkan özelliğe sahip GaAs kristali ile Te katkılanmış n-tipi GaAs kristali üzerinde bant kenarına yakın bölgedeki soğurma spektrumları 10-300 K sıcaklık bölgesinde incelendi. Bant kenarına yakın bölgede maksimum değerleri sıcaklığa bağlı olarak 1.499 eV'dan 1.485 eV'a değişen soğurma pikleri gözlendi. Bu enerji değerleri bilinen Reverse-Contrast soğurmasıyla iyi uyuşmaktadır. Bu pikler, yarıyalıtkan GaAs ve n-tipi GaAs'da 100 K'nın üzerinde kaybolmaktadır. Sıcaklığa göre (Eg- Emax ) değerlerinin ekstrapolasyonundan; yakın bant kenarı soğurma piklerinin yanyalıtkan ve n-tipi numunede 200 K civarında iletkenlik bandı ile birleştiği görüldü. Bununla birlikte, EL2 merkezlerinin ileri bir ışınlama ile foto-quench edilmesinden sonra yakın bant kenarı bölgesindeki soğurmanın da foto-quench edilebileceği gösterildi Soğurma ölçüleri ve spektral foto-akım ölçülerinin karşılaştırılması ile bu yakın bant kenarı soğurmasının herhangi bir merkez-içi soğurmaya sahip olmadığı kanaatine varıldı.

Özet (Çeviri)

Near bandedge optical absorption processes in semi-insulating (SI) GaAs and in Te doped n-type GaAs crystals was investigated in the range of 10-300 K. We observed absorption peaks whose maximum energies (En,) ranging from 1.499 to 1.485 eV as the temperature increases from 10 K to 100 K. Such energy values are in agreement with known RC absorptions. The peaks for both SI and n-type GaAs were disappeared above 100 K. Extrapolating the graphs of Eg-Em versus temperature, we observed that near bandedge absorption is overlapped by conduction band at about 200 K for both SI and n- type samples. Furthermore, we demonstrated that the absorption in the region of near bandedge can be photo-quenched using further irradiation after EL2 photo-quenching at higher temperatures. Comparison of the absorption measurements with the spectral photo-current measurements, we conclude that Reverse Contrast (RC) centres that cause such absorption at energies close to the bandedge have no intra-centre transition.

Benzer Tezler

  1. Sıcak elektron tabanlı optik sensörler

    Hot electron based optical sensors

    FEYZA SÖNMEZ

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2024

    Fizik ve Fizik MühendisliğiEskişehir Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ENGİN TIRAŞ

  2. High speed and high efficiency infrared photodetectors

    Yüksek hızlı ve yüksek verimli kızılötesi fotodedektörler

    İBRAHİM KİMUKİN

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2004

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. EKMEL ÖZBAY

  3. Yüksek dielektrik sabitli yalıtkan filmlerin üretilmesi ve mos yapıda incelenmesi

    Fabrication and characterization of high-k dielectric films in mos structure

    AYŞE EVRİM SAATCİ

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2015

    Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. KUBİLAY KUTLU

  4. The effect of atmospheric gases on the electrical stability of graphene

    Atmosferik gazların grafenin elektriksel kararlılığı üzerindeki etkisi

    SIRRI BATUHAN KALKAN

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2017

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. CEM ÇELEBİ

  5. InGaAs epitaksiyel tabakaların optik ve elektriksel karakterizasyonu

    Optical and electrical characterization of InGaAs epitaxial layers

    SALEH MOHAMMAD AMINI

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2022

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. AYŞE EROL