Geri Dön

TIGa1-x FexS2 ince filmlerinin dielektrik özelliklerinin incelenmesi

Investigation of dielectric properties of TIGa1-x FexS2 thin films

  1. Tez No: 916252
  2. Yazar: HADIL BAKRAN
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. HULUSİ KEMAL ULUTAŞ
  4. Tez Türü: Doktora
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2024
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: İstanbul Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Katıhal Fiziği Bilim Dalı
  13. Sayfa Sayısı: 96

Özet

Termal buharlaştırma yöntemiyle elde edilen Bridgman tekniği kullanılarak üretilen bulk TlGaS2 (Talyum Galyum Sülfür) ve %0,1 Demir (Fe) içeren TlGa0.999Fe0.001S2 kristallerinden, termal buharlaştırma yöntemi kullanılarak 20–200 nm kalınlık aralığında ince filmler hazırlanmıştır. Kristal ve ince filmlerin yapısal özellikleri X-ışını kırınım (XRD) analizi ile incelenmiştir. Bununla beraber, bulk ve ince filmlerin dielektrik özellikleri 1- 10 MHz frekans ve 213-373K sıcaklık aralığında Alpha-A high-resolution dielectric, conductivity, and impedance analyzer ile belirlenmiştir. XRD sonuçlarında, bulk örneklerin kristal yapı gösterdiği ve ince filmlerin ise termal buharlaştırma sürecinde bağlar arasında meydana gelen deformasyonlar sonucunda literatür ile uyumlu olarak amorf yapıya sahip olduğu görülmüştür. Dielektrik sonuçlardan faydalanılarak, yapı içerisinde mümkün polarizasyon mekanizmaları Cole-Cole denklemleri kullanılarak belirlenmiştir ve Fe içeriğinin dielektrik özellikler üzerine etkisi araştırılmıştır. 1-100 Hz. frekans aralığında tespit edilen uzay yük polarizasyonun varlığı Fe içeriğine atfedilmiştir. Ayrıca boşluk yoğunluğunun dielektrik sabitini açıkça etkilediği görülmüştür. Boşluk yoğunluğu daha yüksek kalınlıklara doğru azalırken, dielektrik sabiti artmaktadır. AC iletkenlik sonuçları, her bir ince film için kalınlığın etkisinin değerlendirilmesine katkıda bulunmuştur. Genel olarak, küçük bir Fe yüzdesinin (%0,1) bile TlGa0.999Fe0.001S2ince filmlerin dielektrik özellikleri ve elektriksel iletkenliği üzerinde dikkate değer bir etkiye sahip olduğunu göstermektedir. Sonuç olarak, görünür ve kızılötesi emisyon alıcılarında, X-ışını ve gama ışını dedektörlerinde, nötron dedektörlerinde, barometre ve piezoelektrik fotodirenç gibi farklı uygulamalarda kullanılmak üzere TlGa0.999Fe0.001S2 ince filmlerinin elektriksel ve yapısal özelliklerinin geliştirildiği görülmüştür.

Özet (Çeviri)

Thin films with a thickness range of 20–200 nm were prepared from bulk TlGaS2 (Thallium Gallium Sulfide) produced using the Bridgman technique obtained by thermal evaporation and TlGa0.999Fe0.001S2 crystals containing 0.1% Iron (Fe) by thermal evaporation method. The structural properties of the crystals and thin films were investigated by X-ray diffraction (XRD) analysis. In addition, the dielectric properties of the bulk and thin films were determined by Alpha-A high-resolution dielectric, conductivity, and impedance analyzer at 1-10 MHz frequency and 213-373K temperature range. In the XRD results, it was seen that the bulk samples showed crystalline structure, and the thin films had an amorphous structure because of the deformations that occurred between the bonds during the thermal evaporation process, which is compatible with the literature. Using the dielectric results, possible polarization mechanisms within the structure were determined using Cole-Cole equations, and Fe content's effect on the dielectric properties was investigated. The presence of space charge polarization detected in the 1-100 Hz frequency range was attributed to the Fe content. It was also observed that the void density clearly affects the dielectric constant. The void density decreases towards higher thickness while the dielectric constant increases. The AC conductivity results contributed to evaluating the effect of thickness for each thin film. In general, it is shown that even a small percentage of Fe (0.1%) has a remarkable impact on the dielectric properties and electrical conductivity of TlGa0.999Fe0.001S2 thin films. As a result, it was observed that the electrical and structural properties of TlGa0.999Fe0.001S2 thin films are improved for use in different applications such as visible and infrared emission receivers, X-ray and gamma-ray detectors, neutron detectors, barometers and piezoelectric photoresistors

Benzer Tezler

  1. Thе rоlе оf соrроratе gоvеrnanсе рrinсiрlеѕ in aсhiеving оutѕtanding оrganizatiоnal реrfоrmanсе

    Üstün organizasyonel verimlilik elde etmede şirket yönetim ilkelerinin rolü

    SARBAST SATTAR SALEH

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2022

    İşletmeKarabük Üniversitesi

    İşletme Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. SERHAN GÜRKAN

  2. Femur suprakondiler kırıklarda retrograd intramedüller çivileme cerrahisi yapılan olguların sonuçlarının değerlendirilmesi (Retrospektif)

    Results of patients undergoing retrograde intramedullary nailing surgery in the supracondylar fracture of the femur

    EDİP YILMAZ

    Tıpta Uzmanlık

    Türkçe

    Türkçe

    2019

    Ortopedi ve TravmatolojiFırat Üniversitesi

    Ortopedi ve Travmatoloji Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ERHAN YILMAZ

  3. Copper nanowire network based transparent thin film heaters

    Bakır nanotel ağlar esaslı şeffaf ince film ısıtıcılar

    DOĞANCAN TİGAN

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2018

    Metalurji MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. HÜSNÜ EMRAH ÜNALAN

    YRD. DOÇ. DR. MUHSİNE BİLGE İMER

  4. Kruvaziyer turistlere ait çevrimiçi seyahat yorumlarının metin madenciliği yöntemi ile değerlendirilmesi

    Evaluation of online travel comments of cruise tourists by text mining method

    GÖZDE TIĞA ÖZTÜRK

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2020

    TurizmAydın Adnan Menderes Üniversitesi

    Turizm İşletmeciliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ABDULLAH TANRISEVDİ