Geri Dön

Germanyum optik alttaşlar üzerine 3-5 mikrometre dalga boyu aralığında anti-yansıtıcı optik ince film kaplama

Anti-reflective optical thin film coating on germanium optical substrates in the wavelength range of 3-5 micrometers

  1. Tez No: 940281
  2. Yazar: CİHAN GÜLPINAR
  3. Danışmanlar: DR. ÖĞR. ÜYESİ EKREM YARTAŞI
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2025
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Sivas Bilim ve Teknoloji Üniversitesi
  10. Enstitü: Lisansüstü Eğitim Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Disiplinlerarası Savunma Teknolojileri Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 70

Özet

Kızılötesi (IR) şeffaf malzemeler, özellikle gece görüşü, uzaktan algılama, yüzeyden yansıma ile radyasyon kaybının önlenmesi amacıyla fotovoltaik yüzeylerde ve termal görüntüleme sistemleri gibi uygulamalarda geniş ölçüde kullanılmaktadır. Bu malzemelerden biri olan Germanyum (Ge), optik özelliklerinden dolayı kızılötesi bölgede mercek, optik pencere, kubbe ve optik filtre olarak en yaygın kullanılan malzemelerden biridir. Tek kristal Ge'nin kırılma indeksi yaklaşık 4.00'dir (10 μm'de) ve yansıma kaybı 2-14 μm dalga boyu aralığında yaklaşık %50'dir. Yüzeyinde meydana gelen bu istenmeyen yansıma kaybı optik verimi düşürür. Ge optik bileşen yüzeyine (örn. Ge lens) yansıma önleyici (AR) kaplama uygulandığında Ge'nin optik iletimi artmış olacaktır. Bu sayede ilgili IR görüntüleme sisteminin optik performansı ve kararlılığı sağlanmış olur. AR uygulaması için kullanılacak kaplama malzemesi hem IR bölgede optik geçirgenliğe sahip olmalı hem de kırılma indisi Ge'lerin kırılma indisi ile orantılı olmalıdır. Bu çalışmada 1 inç çap, 1 mm kalınlığa sahip Ge şahit numune üzerine 3-5 µm IR bölgede ARC yapılmıştır. Kaplama malzemeleri olarak SiO2 (düşük indis katman) ve Ge (yüksek indis katman) seçilmiştir. İlk etapta kaplama malzemelerinin optik karakterizasyon için sırasıyla tek katman tasarım ve kaplama çalışmaları yapılmış, buradan elde edilen deneysel doğrulanmış kırınım indisi verisi ile çok katmanlı AR tasarımı ve uygulaması icra edilmiştir. Kaplama çalışmaları iyon plazma destekli çemberde elektron demetiyle fiziksel buhar biriktirme (E-beam PVD) yöntemi ile yapılmış, optik ölçümleri FTIR spektrometreden alınmıştır. Optik geçirgenlik değeri %98,65 olarak elde edilmiştir.

Özet (Çeviri)

Kızılötesi (IR) şeffaf malzemeler, özellikle gece görüşü, uzaktan algılama, yüzeyden yansıma ile radyasyon kaybının önlenmesi amacıyla fotovoltaik yüzeylerde ve termal görüntüleme sistemleri gibi uygulamalarda geniş ölçüde kullanılmaktadır. Bu malzemelerden biri olan Germanyum (Ge), optik özelliklerinden dolayı kızılötesi bölgede mercek, optik pencere, kubbe ve optik filtre olarak en yaygın kullanılan malzemelerden biridir. Tek kristal Ge'nin kırılma indeksi yaklaşık 4.00'dir (10 μm'de) ve yansıma kaybı 2-14 μm dalga boyu aralığında yaklaşık %50'dir. Yüzeyinde meydana gelen bu istenmeyen yansıma kaybı optik verimi düşürür. Ge optik bileşen yüzeyine (örn. Ge lens) yansıma önleyici (AR) kaplama uygulandığında Ge'nin optik iletimi artmış olacaktır. Bu sayede ilgili IR görüntüleme sisteminin optik performansı ve kararlılığı sağlanmış olur. AR uygulaması için kullanılacak kaplama malzemesi hem IR bölgede optik geçirgenliğe sahip olmalı hem de kırılma indisi Ge'lerin kırılma indisi ile orantılı olmalıdır. Bu çalışmada 1 inç çap, 1 mm kalınlığa sahip Ge şahit numune üzerine 3-5 µm IR bölgede ARC yapılmıştır. Kaplama malzemeleri olarak SiO2 (düşük indis katman) ve Ge (yüksek indis katman) seçilmiştir. İlk etapta kaplama malzemelerinin optik karakterizasyon için sırasıyla tek katman tasarım ve kaplama çalışmaları yapılmış, buradan elde edilen deneysel doğrulanmış kırınım indisi verisi ile çok katmanlı AR tasarımı ve uygulaması icra edilmiştir. Kaplama çalışmaları iyon plazma destekli çemberde elektron demetiyle fiziksel buhar biriktirme (E-beam PVD) yöntemi ile yapılmış, optik ölçümleri FTIR spektrometreden alınmıştır. Optik geçirgenlik değeri %98,65 olarak elde edilmiştir.

Benzer Tezler

  1. A study on the optical and mechanical properties of optical thin films

    Optik ince filmlerin mekanik ve optik özellikleri üzerine bir çalışma

    ALP EREN SİNAN ÖZHAN

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2018

    Makine MühendisliğiAtılım Üniversitesi

    Makine Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. BİLGİN KAFTANOĞLU

  2. Orta kızılötesi elektro optik uygulamalar için geniş bant anti yansıtıcı kaplamaların tasarımı ve geliştirilmesi

    Design and development of broad band anti reflective coatings for mid wave infrared electro optical applications

    ADEM YENİSOY

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2019

    Astronomi ve Uzay BilimleriAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SEBAHATTİN TÜZEMEN

  3. Fotovoltaik Ge-ZnO nanokompozit ince filmlerin hazırlanması ve fiziksel özelliklerinin araştırılması

    Preparation and investigation of physical properties of the photovoltaic Ge-ZnO nanocomposite thin films

    JANAN M.ALİ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2013

    Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ABDULLAH CEYLAN

  4. Crystallization of amorphous Ge thin films by nanosecond pulsed infrared laser

    Amorf Ge ince filmlerin nanosaniye atımlı kızılötesi lazer ile kristalizasyonu

    CEREN KORKUT

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2023

    Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ALPAN BEK

    DR. ÖĞR. ÜYESİ KAMİL ÇINAR

  5. The effects of native and light induced defects in the optical and electronic properties of hydrogenated amorphous silicon germanium (a-SiGe: H) alloy thin films

    Doğal ve ışık altında bozunuma uğratılmış elektronik kusurların hidrojenlendirilmiş amorf silisyum germanyum alaşımlarının optik ve elektronik özelliklerine etkisi

    MEDİNE ELİF DÖNERTAŞ YAVAŞ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2005

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. MEHMET GÜNEŞ