Geri Dön

N-kanallı MOS tranzistorlarda sıcak taşıyıcı etkisinin incelenmesi ve tranzistorun eşik gerilimine etkisi

The Investigation of the effect of the hot carriers in N-channel MOS tranzistor and their effects on threshold voltage

  1. Tez No: 97952
  2. Yazar: FIRAT KAÇAR
  3. Danışmanlar: DOÇ.DR. AYTEN KUNTMAN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Elektrik ve Elektronik Mühendisliği, Electrical and Electronics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2000
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: İstanbul Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 60

Özet

ÖZET N-KANALLI MOS TRANZİSTORLARDA SICAK TAŞIYICI ETKİSİNİN İNCELENMESİ VE TRANZİSTORUN EŞİK GERİLİMİNE ETKİSİ Bu çalışmada, sıcak taşıyıcıların N-MOS tranzistorlar üzerindeki etkileri teorik ve deneysel olarak incelenmiştir. Deneyler için boyutları birbirinden farklı iki tranzistor kullanılmıştır. Yapılan deneyler sonucunda savak akımının arttığı ve buna bağlı olarak eşik gerilimin azaldığı görülmüştür. Deneysel sonuçlardan hareket edilerek, literatürde verilen ve parametrelerin belirlenmesi açısından zorluklar gösteren modellere bir alternatif oluşturmak üzere, polinomsal eğri uydurmaya dayanan bir model önerilmiştir. Deneysel sonuçlar SPICE benzetiminde kullanılarak simüle edilmiş ve ayrıca bir uygulama devresi kurularak elde edilen deneysel ve simülasyon sonuçları karşılaştırılmıştır. Simülasyon sonuçlarının deneysel sonuçlarla uyumlu olduğu önerilen modelle de doğrulanmıştır. VIII

Özet (Çeviri)

ABSTRACT“THE INVESTIGATION OF THE EFFECT OF THE HOT CARRIERS IN N-CHANNEL MOS TRANSISTORS AND THEIR EFFECTS ON THRESHOLD VOLTAGE”In this study, the effects of hot-carriers in N-MOS transistor are investigated both theoretical and experimental. Two transistor with different sizes are used for the experiments. The threshold voltage decrease by the increment of the drain current is observed after the experiments. By using the experimental results, a model which depends on curve-fitting is proped to be an alternative for the given models in the literature whose parameters are difficult to determine. The experimental results are used in the SPICE simulations and an application circuit is constructed to compare the experimental and simulation results. It is verified with the model that the simulation and experimental results are compatible. IX

Benzer Tezler

  1. A 0.18 µm CMOS X-band low noise amplifier for space applications

    Uzay uygulamaları için 0.18 µm CMOS X-bant düşük gürültülü kuvvetlendirici

    NERGİZ ŞAHİN

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2017

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. MUSTAFA BERKE YELTEN

  2. Yüksek dielektrik sabitli yalıtkan filmlerin üretilmesi ve mos yapıda incelenmesi

    Fabrication and characterization of high-k dielectric films in mos structure

    AYŞE EVRİM SAATCİ

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2015

    Fizik ve Fizik MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. KUBİLAY KUTLU

  3. Mikrodenetleyici kontrollü tek fazlı PFC'li kesintisiz güç kaynağının tasarımı ve gerçekleştirilmesi

    The design and implementation of a microcontroller-based single phase UPS with PFC

    AHMET KAYABAŞI

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2005

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiSelçuk Üniversitesi

    Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. RAMAZAN AKKAYA

  4. Artırılmış gerçeklik teknolojisi ile NMOS elemanının modellenmesi

    NMOS device modelling with augmented reality technology

    YENER YÜZÜAK

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2018

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiKocaeli Üniversitesi

    Elektronik-Bilgisayar Eğitimi Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. HALİL YİĞİT