A contract-driven automated unit test maintenance approach with generative artificial intelligence for backend software projects
Arka uç yazılım projeleri için üretken yapay zeka tabanlı, sözleşme odaklı otomatik birim testi bakım yaklaşımı
- Tez No: 991461
- Danışmanlar: PROF. DR. TUĞKAN TUĞLULAR
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve Kontrol, Computer Engineering and Computer Science and Control
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2025
- Dil: İngilizce
- Üniversite: İzmir Yüksek Teknoloji Enstitüsü
- Enstitü: Lisansüstü Eğitim Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Bilgisayar Mühendisliği Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Birim testleri arka uç yazılım kalitesi için hayati öneme sahiptir; ancak test setlerini sık değişen API ve kontratlarla uyumlu tutmak, iş gücü gerektiren ve hataya açık bir süreçtir. Geleneksel test üretim teknikleri yüksek kod kapsamı sağlasa da okunabilirlikten yoksundur; mevcut Büyük Dil Modeli (LLM) araçları ise bakım aşamasından ziyade ağırlıklı olarak ilk test oluşturmaya odaklanmaktadır. Bu çalışmada, otomatik birim test bakımı için kontrat güdümlü ve LLM destekli bir çerçeve sunulmaktadır. Yaklaşımımız, manuel eforu en aza indirmek ve kapsamı korumak amacıyla kontrat evrimi tespiti ile adaptif test yeniden üretimini birleştirmektedir. Dört farklı projede 28 kontrat değişikliği örneği üzerinde yapılan değerlendirmelerde, çerçeve genel olarak %50 onarım başarı oranı elde etmiştir. Bu oran, test açısından zengin projelerde %85,7'ye yükselirken, zayıf assertion içeren projelerde %14,3'e düşmüştür. Başarılı onarımların %80'inin“geri dönüş”(fallback) mekanizması sayesinde gerçekleşmesi, basit yamalamanın ötesinde adaptif stratejilerin gerekliliğini vurgulamaktadır. Ayrıca çerçeve, çalışmayan testleri bilgilendirici ve geçerli testlere dönüştürerek test kalitesini artırmıştır. Sonuçlar, kontrat güdümlü LLM tabanlı bakımın gelişen yazılımlar için pratik bir çözüm olduğunu, ancak etkinliğinin mevcut test seti yapısından önemli ölçüde etkilendiğini göstermektedir.
Özet (Çeviri)
Unit testing is an equally important aspect of the quality of backend software, whereas synchronization between test suites and the frequent changes of APIs and contracts is a challenging task manually. The conventional approach to test generation is highly effective in terms of test coverage, whereas the test maintainability aspect lacks to some extent, and the current state-of-the-art solutions based on the Large Language Model mainly focus on test generation rather than test maintenance. In this paper, a contract-based test maintenance approach powered by an LLM is proposed. The proposed framework has been tested on 28 instances of contract change. It appears that the overall success rate of repair is 50%, though this is contingent upon the test suite density, with a success rate of 85.7% in dense test suites and 14.3% in weakly asserted ones. Significantly, the fallback strategy led to a success rate of 80%, underlining the significance of sophisticated repair strategies, including those that go beyond mere patching. Moreover, the outcome also shows that many tests that were previously unexecutable became useful passing tests.
Benzer Tezler
- IEEE 1149.1 standardı kullanarak test edilebilir lojik devre tasarımı
Testable lojik circit design by using IEEE 1149.1 standard
A.BETÜL TUNCER
Yüksek Lisans
Türkçe
1992
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiPROF. DR. AHMET DERVİŞOĞLU
- Buji ateşlemeli motorlarda çevrim atlatma yönteminin kısmi yüklerde incelenmesi
Skip cycle method investigation at part load conditions of spark ignition engines
BARIŞ DOĞRU
Doktora
Türkçe
2013
Makine Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMakine Mühendisliği Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. OSMAN AKIN KUTLAR
- Gemi kıç takıntılarında kalite kontrol ve iş planı
Quality control and schedule work at the stern appendages of ship
MUSTAFA ALTIPARMAK
Yüksek Lisans
Türkçe
1997
Gemi Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiGemi İnşaatı ve Gemi Makineleri Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. S. AYDIN ŞALCI
- 3um N-kuyu CMOS teknolojisi ile test kırmığı tasarımı ve tranzistor eşik gerilimi ayarı
Test chip design for 3 um N-well CMOS fabrication technology and threshold voltage adjustment
ZEYNEP D. TOROS
Yüksek Lisans
Türkçe
1991
Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiPROF.DR. DURAN LEBLEBİCİ
- Esnek üretim sistemleri
Flexible manufacturing systems
ARMAĞAN EROL ÖZÇELİK
Yüksek Lisans
Türkçe
1993
Endüstri ve Endüstri Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiPROF.DR. GÖNÜL YENERSOY