Geri Dön

STM/AFM ile yüzey karakterizasyonu

The surface characterization with STM/AFM

  1. Tez No: 166002
  2. Yazar: DEMET USANMAZ
  3. Danışmanlar: DOÇ.DR. MEHMET ÇAKMAK
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2005
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Gazi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 86

Özet

STM/AFM İLE YÜZEY KARAKTERÎZASYONU (Yüksek Lisans Tezi) Demet USANMAZ GAZİ ÜNİVERSİTESİ FEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜ Haziran 2005 ÖZET Bu çalışmada, Si ye AlGaAs yüzeylerinin STM/AFM yardımıyla görüntülendi. Si(lll) yüzeyinin 7x7' lik bir yeniden yapılanmaya sahip olduğu bulundu. MBE laboratuarında büyütülen AlGaAs yarıiletkeninin AFM sonuçlarma bakıldı. İlk olarak numune NH4OH+H2O2+H2O (1:1:50) kimyasal çözeltisinde bekletildi. Daha sonra HF+H202+H20 (1:1:30) kimyasal çözeltisinde farklı zaman aralıklarında bekletildi. AlGaAs yarıiletkenin AFM görüntüleri ve yüzey pürüzlülük sonuçları elde edildi. Bilim Kodu :223.23 Anahtar Kelimeler : STM, AFM, AlGaAs, Si, yarıiletken Sayfa Adedi : 72 Tez Yöneticisi : Doç.Dr.Mehmet Çakmak

Özet (Çeviri)

n THE SURFACE CHARACTERIZATION WITH STM/AFM (M.Sc. Thesis) Demet USANMAZ GAZI UNIVERSITY INSTUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY JUNE 2005 ABSTRACT In this work, we present the results of STM/AFM on the Si and AlGaAs surfaces. For Si(lll), we find the (7x7) surface reconstruction by analyzing the STM images. We also present the AFM results on the AlGaAs semiconductor material grown in our MBE laboratory. We have first etched this material by the chemical solution of NH4OH+H202+H20 (1:1:50). After that, we applied chemical solution of HF+H202+H20 (1:1:30) in the different time period. We determine the AFM images and surface roughness on this etched AlGaAs. Science Code : 223.23 Key Words : STM, AFM, AlGaAs, Si, Semiconductor Page Number: 72 Adviser : Assoc. Prof. Dr. Mehmet ÇAKMAK

Benzer Tezler

  1. Topolojik yalıtkanların ve topolojik süperiletkenlerin manyetik özelliklerinin taramalı uç mikroskopları (TUM) teknikleri ile araştırılması

    Investigation of magnetic properties of topological insulators and topological superconductors with integrated probe microscope (SPM) techniques

    KÜBRA ÇELİK

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2017

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Malzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. HAKAN ÖZGÜR ÖZER

    PROF. DR. AHMET ORAL

  2. S, Se ve Te'ün potansiyel altı depozisyonu ve PbS, PbSe ve PbTe'ün yeni bir elektrodepozisyon yöntemi ile sentezi ve karakterizasyonu

    Underpotential deposition of S, Se, Te and synthesis and characterization of PbS, PbSe, and PbTe by a new electrodeposition method

    MURAT ALANYALIOĞLU

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2006

    KimyaAtatürk Üniversitesi

    Kimya Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ÜMİT DEMİR

  3. Bazı tek ve çok katmanlı ince film yapıların X-ışını saçılma ve X-ışını kırınımı yöntemleri ile incelenmesi

    Structural investigation of some mono and multilayer thin films by X-ray scattering and X-ray diffraction methods

    URAL KAZAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2012

    Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SEMRA İDE

  4. Investigation of two dimensional materials with simultaneous atomic force/scanning tunneling microscopy

    İki boyutlu malzemelerin eşzamanlı atomik kuvvet / taramalı tünelleme mikroskobu ile incelenmesi

    MAJID FAZELI JADIDI

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2019

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. HAKAN ÖZGÜR ÖZER

  5. Atomic resolution imaging and force spectroscopy of silicon surfaces with atomic force microscopy

    Silikon yüzeyinin atomik kuvvet mikroskopisi ile atomik çözünürlükte görüntülenmesi ve kuvvet spektroskopisi

    HAKAN ÖZGÜR ÖZEN

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2001

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. RECAİ ELLİALTIOĞLU

    YRD. DOÇ. DR. AHMET ORAL