STM/AFM ile yüzey karakterizasyonu
The surface characterization with STM/AFM
- Tez No: 166002
- Danışmanlar: DOÇ.DR. MEHMET ÇAKMAK
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2005
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Gazi Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 86
Özet
STM/AFM İLE YÜZEY KARAKTERÎZASYONU (Yüksek Lisans Tezi) Demet USANMAZ GAZİ ÜNİVERSİTESİ FEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜ Haziran 2005 ÖZET Bu çalışmada, Si ye AlGaAs yüzeylerinin STM/AFM yardımıyla görüntülendi. Si(lll) yüzeyinin 7x7' lik bir yeniden yapılanmaya sahip olduğu bulundu. MBE laboratuarında büyütülen AlGaAs yarıiletkeninin AFM sonuçlarma bakıldı. İlk olarak numune NH4OH+H2O2+H2O (1:1:50) kimyasal çözeltisinde bekletildi. Daha sonra HF+H202+H20 (1:1:30) kimyasal çözeltisinde farklı zaman aralıklarında bekletildi. AlGaAs yarıiletkenin AFM görüntüleri ve yüzey pürüzlülük sonuçları elde edildi. Bilim Kodu :223.23 Anahtar Kelimeler : STM, AFM, AlGaAs, Si, yarıiletken Sayfa Adedi : 72 Tez Yöneticisi : Doç.Dr.Mehmet Çakmak
Özet (Çeviri)
n THE SURFACE CHARACTERIZATION WITH STM/AFM (M.Sc. Thesis) Demet USANMAZ GAZI UNIVERSITY INSTUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY JUNE 2005 ABSTRACT In this work, we present the results of STM/AFM on the Si and AlGaAs surfaces. For Si(lll), we find the (7x7) surface reconstruction by analyzing the STM images. We also present the AFM results on the AlGaAs semiconductor material grown in our MBE laboratory. We have first etched this material by the chemical solution of NH4OH+H202+H20 (1:1:50). After that, we applied chemical solution of HF+H202+H20 (1:1:30) in the different time period. We determine the AFM images and surface roughness on this etched AlGaAs. Science Code : 223.23 Key Words : STM, AFM, AlGaAs, Si, Semiconductor Page Number: 72 Adviser : Assoc. Prof. Dr. Mehmet ÇAKMAK
Benzer Tezler
- Topolojik yalıtkanların ve topolojik süperiletkenlerin manyetik özelliklerinin taramalı uç mikroskopları (TUM) teknikleri ile araştırılması
Investigation of magnetic properties of topological insulators and topological superconductors with integrated probe microscope (SPM) techniques
KÜBRA ÇELİK
Doktora
Türkçe
2017
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiMalzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. HAKAN ÖZGÜR ÖZER
PROF. DR. AHMET ORAL
- S, Se ve Te'ün potansiyel altı depozisyonu ve PbS, PbSe ve PbTe'ün yeni bir elektrodepozisyon yöntemi ile sentezi ve karakterizasyonu
Underpotential deposition of S, Se, Te and synthesis and characterization of PbS, PbSe, and PbTe by a new electrodeposition method
MURAT ALANYALIOĞLU
- Bazı tek ve çok katmanlı ince film yapıların X-ışını saçılma ve X-ışını kırınımı yöntemleri ile incelenmesi
Structural investigation of some mono and multilayer thin films by X-ray scattering and X-ray diffraction methods
URAL KAZAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2012
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SEMRA İDE
- Investigation of two dimensional materials with simultaneous atomic force/scanning tunneling microscopy
İki boyutlu malzemelerin eşzamanlı atomik kuvvet / taramalı tünelleme mikroskobu ile incelenmesi
MAJID FAZELI JADIDI
Doktora
İngilizce
2019
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. HAKAN ÖZGÜR ÖZER
- Atomic resolution imaging and force spectroscopy of silicon surfaces with atomic force microscopy
Silikon yüzeyinin atomik kuvvet mikroskopisi ile atomik çözünürlükte görüntülenmesi ve kuvvet spektroskopisi
HAKAN ÖZGÜR ÖZEN
Doktora
İngilizce
2001
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. RECAİ ELLİALTIOĞLU
YRD. DOÇ. DR. AHMET ORAL