Geri Dön

AI 0.2 Ga 0.8 As/GaAs (100) nanoyapısının büyütülmesi ve I-V özelliklerinin incelenmesi

The growth of AI 0.2 Ga 0.8 As/GaAs (100) nanostructure and the investigation of I-V properties

  1. Tez No: 196561
  2. Yazar: HİLAL GÜMÜŞ
  3. Danışmanlar: PROF. DR. SÜLEYMAN ÖZÇELİK
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: MBE, AlxGa1-xAs/GaAs, elektriksel karakterizasyon, yapısal karakterizasyon, I-V, MBE, AlxGa1-xAs/GaAs, electrical characterization, structural characterization, I-VPage Number : 100Adviser : Prof. Dr. Suleyman OZCELIK
  7. Yıl: 2005
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Gazi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

iiiAl0.2Ga0.8As/GaAs (100) NANOYAPISININ BÜYÜTÜLMESİ VE I-VÖZELLİKLERİNİN İNCELENMESİ(Yüksek Lisans Tezi)Hilal GÜMÜŞGAZİ ÜNİVERSİTESİFEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜEylül 2005ÖZETBu çalışmada SEMİCON VG80H Moleküler Demet Epitaxy (MBE) cihazıkullanılarak Al0.2Ga0.8As/GaAs süperörgü diyot yapısı büyütüldü. BüyütülenAl0.2Ga0.8As/GaAs süperörgü diyot yapısının yapısal analizi yüksekçözünürlüklü X-ışını kırınımı yöntemi (HRXRD) ile yapıldı. Rocking vereflectivity ölçümleri D8 discover X-ray cihazı kullanılarak yapıldı. X-ışınıcihazında ölçülen rocking eğrileri hem kinematik hem de dinamik metotlarıkullanan LEPTOS programı ile simule edildi. Elde edilen Rocking eğrilerindekiuydu piklerinin varlığı büyütülen epitabakaların yeterli incelikte vehomojenlikte olduğunu kanıtlamaktadır. Büyütülen Al0.2Ga0.8As/GaAssüperörgü yapısının elektriksel karakteristiklerinin incelenebilmesi içinAu/GaAs kontak yapıldı. Au/Al0.2Ga0.8As/GaAs yapısının akım-voltaj-sıcaklık(I-V-T) karakteristikleri geniş bir sıcaklık aralığında (80 K- 400 K) incelendi.Bilim Kodu : 404.05.01

Özet (Çeviri)

ivTHE GROWTH OF Al0.2Ga0.8As/GaAs (100) NANOSTRUCTURE AND THEINVESTIGATION OF I-V PROPERTIES(M.Sc. Thesis)Hilal GUMUSGAZI UNIVERSITYINSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGYEylül 2005ABSTRACTIn this work, a Al0.2Ga0.8As/GaAs superlattice diode structure has been grownwith SEMİCON VG80H Molecular Beam Epitaxy (MBE) device. The structuralanalysis of the Al0.2Ga0.8As/GaAs superlattice diode structure were made byhigh-resolution X-ray diffraction (HRXRD). The Rocking and reflectivity scansmeasured by D8 discover X-ray device on (002) symmetric reflection ofsubstrate have been simulated using LEPTOS program within the frameworkof dynamic and kinematical theories. The presence of the satellite peaks in theobtained Rocking curves proved that the growth epilayers have enoughthickness and homogenity. For the investigation of the electrical characteristicsof the growth Al0.2Ga0.8As/GaAs superlattice diode structure, the Au/GaAscontact were formed. The forward bias current-voltage-temperature (I-V-T)characteristics of Au/Al0.2Ga0.8As/GaAs structures are studied over a widetemperature range between 80 K and 400 K.Science Code : 404.05.01

Benzer Tezler

  1. Kuru incirlerde küf florası ve aflatoksigenik küflerin saptanması

    Başlık çevirisi yok

    SİBEL BÜYÜKŞİRİN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1993

    BiyolojiEge Üniversitesi

    Biyoloji Bilim Dalı

    DOÇ. DR. İSMAİL KARABOZ

  2. P-galyum arsenür (GaAs)/anodik izolasyon filmlerin arayüzey özelliklerinin incelenmesi

    Investigation of interface properties in p-gallium arsenide (GaAs)/anodic insulator films

    HAYRETTİN YÜZER

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    1994

    Kimya Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF.DR. A. HİKMET ÜÇIŞIK

  3. Au/n-GaAs Schottky diyotların hazırlanması ve akım-iletim mekanizmalarının geniş bir sıcaklık aralığında incelenmesi

    The fabrication of Au/n-GaAs schottky diodes and the investigation of their current-conduction mechanisms in wide temperature range

    EYÜP ÖZAVCI

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2015

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ŞEMSETTİN ALTINDAL

  4. Tabakalı yarıiletken kristallerden TIGaSe2, TIInS2 ve GaSe kristallerinin optiksel özelliklerinin incelenmesi

    Investigation of optical properties of TIGaSe2, TIIns2 and GaSe crystals which are layered semiconductors

    SULTAN ÇEVİK

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2004

    Fizik ve Fizik MühendisliğiMuğla Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF.DR. AYDIN GULUBAYOV