Al0,43Ga0,57N süperörgülerinin yapısal ve optik özelliklerinin incelenmesi
Examination of structural and optical properties of Al0,43Ga0,57N superlattices
- Tez No: 199870
- Danışmanlar: PROF.DR. SÜLEYMAN ÖZÇELİK
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: AlGaN, HEMT, MOCVD, XRD, AFM, AlGaN, HEMT, MOCVD, XRD, AFM, PLPage Number : 60Adviser : Prof. Dr. Süleyman ÖZÇELİK
- Yıl: 2007
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Gazi Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Al0,43Ga0,57N SÜPERÖRGÜLERİNİN YAPISAL VE OPTİKÖZELİKLERİNİN İNCELENMESİ(Yüksek Lisans Tezi)Hüseyin TECİMERGAZİ ÜNİVERSİTESİFEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜOcak 2007ÖZETBu tez çalışmasında Bilkent Üniversitesi Nanoteknoloji Araştırma Merkezi'ndeMetal organik kimyasal buhar birikimi (MOCVD) tekniği ile büyütülen ikifarklı süperörgü Al0,43Ga0,57N/Al2O3 yarıiletken ince filmin yapısal ve optikselözellikleri yüksek çözünürlüklü X-ışını difraksiyon (HR-XRD) cihazı, atomikkuvvet mikroskobu (AFM) ve fotolüminesans (PL) kullanılarak incelendi.Alınan ölçümlerden numunelerin kalitesi ve yüzey morfolojisi belirlendi veliteratürle karşılaştırıldı.Bilim Kodu : 202.1.147
Özet (Çeviri)
EXAMINATION OF STRUCTURAL AND OPTICAL PROPERTIES OFAl0,43Ga0,57N SUPERLATTICES(M.Sc. Thesis)Hüseyin TECİMERGAZİ UNIVERSITYINSTITUTE OF SCIENCE AND TECNOLOGYJanuary 2007ABSTRACTIn this study, structural and optical properties of two different superlatticeAl0,43Ga0,57N/Al2O3 semiconductor thin film growth by metal organic chemicalvapour deposition (MOCVD) has been examined by using high resolution X-raydiffraction (HR-XRD), atomic force microscopy (AFM) and photoluminescence(PL). It has been determined that quality and surface morphology of thesamples from obtained measurements and compared with literature.Science Code : 202.1.147
Benzer Tezler
- Al0.47Ga0.53N Schottky fotodedektör yapının optik ve morfolojik özellikleri
The optical and morphological properties of Al0.47Ga0.53N Schottky photodetector
MEHMET ŞEFTALİCİ
Yüksek Lisans
Türkçe
2010
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. MEHMET ÇAKMAK
- Al0,2Ga0,8As/GaAs çoklu kuantum kuyusunun yapısal ve optik özelliklerinin incelenmesi
Investigation of structural and optic properties of Al0,2Ga0,8As/GaAs multi quantum well
İLKNUR KARS
Yüksek Lisans
Türkçe
2007
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SÜLEYMAN ÖZÇELİK
- Al0,25CoCr1,5FeMoxNi (x = 0, 0,5, 1,0) alaşımlarında yapı-performans ilişkisi: Mo ve borlama işleminin etkileri
Structure–property relationship in Al0.25CoCr1.5FeMoXNi alloyswith varying mo content (x = 0, 0.5, 1.0): Effects of boridingtreatment
İBRAHİM ÇALIŞ
Doktora
Türkçe
2025
Makine MühendisliğiBartın ÜniversitesiMakine Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. MUSTAFA SABRİ GÖK
- GaAs/Al0.2Ga0.8As süperörgünün optiksel özelliklerinin fotomlüminesans yöntemiyle incelenmesi
Examination of optical properties of GaAs/Al0.2Ga0.8As superlattice with photoluminescence method
SİBEL ÖZKAYA
Yüksek Lisans
Türkçe
2005
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
Y.DOÇ.DR. MAHİR BÜLBÜL
- Metal/Al0,20Ga0,80N Schottky diyotun akım-gerilim ölçümlerinden engel yüksekliğinin belirlenmesi
Barrier height determination from current-voltage measurements of metal/Al0,20Ga0,80N Schottky diode
GÖNÜL ERTUĞRUL
Yüksek Lisans
Türkçe
2015
Fizik ve Fizik MühendisliğiErciyes ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ENİSE AYYILDIZ