Al0,43Ga0,57N süperörgülerinin yapısal ve optik özelliklerinin incelenmesi
Examination of structural and optical properties of Al0,43Ga0,57N superlattices
- Tez No: 199870
- Danışmanlar: PROF.DR. SÜLEYMAN ÖZÇELİK
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2007
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Gazi Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 75
Özet
Al0,43Ga0,57N SÜPERÖRGÜLERİNİN YAPISAL VE OPTİKÖZELİKLERİNİN İNCELENMESİ(Yüksek Lisans Tezi)Hüseyin TECİMERGAZİ ÜNİVERSİTESİFEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜOcak 2007ÖZETBu tez çalışmasında Bilkent Üniversitesi Nanoteknoloji Araştırma Merkezi'ndeMetal organik kimyasal buhar birikimi (MOCVD) tekniği ile büyütülen ikifarklı süperörgü Al0,43Ga0,57N/Al2O3 yarıiletken ince filmin yapısal ve optikselözellikleri yüksek çözünürlüklü X-ışını difraksiyon (HR-XRD) cihazı, atomikkuvvet mikroskobu (AFM) ve fotolüminesans (PL) kullanılarak incelendi.Alınan ölçümlerden numunelerin kalitesi ve yüzey morfolojisi belirlendi veliteratürle karşılaştırıldı.Bilim Kodu : 202.1.147Anahtar Kelimeler : AlGaN, HEMT, MOCVD, XRD, AFM, PLSayfa Adedi : 60Tez Yöneticisi : Prof. Dr. Süleyman ÖZÇELİK
Özet (Çeviri)
EXAMINATION OF STRUCTURAL AND OPTICAL PROPERTIES OFAl0,43Ga0,57N SUPERLATTICES(M.Sc. Thesis)Hüseyin TECİMERGAZİ UNIVERSITYINSTITUTE OF SCIENCE AND TECNOLOGYJanuary 2007ABSTRACTIn this study, structural and optical properties of two different superlatticeAl0,43Ga0,57N/Al2O3 semiconductor thin film growth by metal organic chemicalvapour deposition (MOCVD) has been examined by using high resolution X-raydiffraction (HR-XRD), atomic force microscopy (AFM) and photoluminescence(PL). It has been determined that quality and surface morphology of thesamples from obtained measurements and compared with literature.Science Code : 202.1.147Key Words : AlGaN, HEMT, MOCVD, XRD, AFM, PLPage Number : 60Adviser : Prof. Dr. Süleyman ÖZÇELİK
Benzer Tezler
- Al0.47Ga0.53N Schottky fotodedektör yapının optik ve morfolojik özellikleri
The optical and morphological properties of Al0.47Ga0.53N Schottky photodetector
MEHMET ŞEFTALİCİ
Yüksek Lisans
Türkçe
2010
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. MEHMET ÇAKMAK
- Al0,2Ga0,8As/GaAs çoklu kuantum kuyusunun yapısal ve optik özelliklerinin incelenmesi
Investigation of structural and optic properties of Al0,2Ga0,8As/GaAs multi quantum well
İLKNUR KARS
Yüksek Lisans
Türkçe
2007
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SÜLEYMAN ÖZÇELİK
- AlGaN schottky fotodedektör yapının optiksel ve yüzeysel özellikleri
The optical and morphological properties of AlGaN schottky photodetector
BURCU YILDIRIM
Yüksek Lisans
Türkçe
2007
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesiİleri Teknolojiler Ana Bilim Dalı
DOÇ.DR. MEHMET ÇAKMAK
- Bilimsel ve teknolojik performansın ekonomik büyümeye etkisi, OECD ülkeleri üzerine bir panel veri analizi
The role of scientific and technological performance on economic growth, a panel data analysis for OECD countries
AYŞE TEKİN
Yüksek Lisans
Türkçe
2019
EkonomiSüleyman Demirel Üniversitesiİktisat Ana Bilim Dalı
DR. ÖĞR. ÜYESİ ONUR DEMİREL
- GaAs/Al0.2Ga0.8As süperörgünün optiksel özelliklerinin fotomlüminesans yöntemiyle incelenmesi
Examination of optical properties of GaAs/Al0.2Ga0.8As superlattice with photoluminescence method
SİBEL ÖZKAYA
Yüksek Lisans
Türkçe
2005
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
Y.DOÇ.DR. MAHİR BÜLBÜL