Geri Dön

WD-XRF spektrometreyle jeolojik numunelerdeki ana oksitler üzerine matris etkisinin belirlenmesi

Determination of matrix effects on major oxídes in geological samples by WD-XRF spektrometer

  1. Tez No: 303516
  2. Yazar: GÖKÇEN BİLGE ARKALI
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. ELİF ORHAN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Jeoloji Mühendisliği, Geological Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2011
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Gazi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: İleri Teknolojiler Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 170

Özet

Doğu Karadeniz Bölgesi, Giresun ilinde; MTA sondaj imkânlarıyla çıkarılan volkanik topraklar, parçacık büyüklüğü ve soğurma etkisini en aza indirmek için el havanında öğütüldü ve 400 mesh eleklerde elendi. Presleme öncesinde numune içerisine 0,9 g selüloz bağlayıcı eklendi ve homojen bir dağılımın gerçekleşmesi için karışım, bilyeli değirmende 15 dakika karıştırıldı. Homojen hale getirilen numuneler hidrolik presle 30-40 ton basınç altında preslenerek 30 mm çaplı tablet haline getirildi. Bu numunelerin kütleleri 10-5g hassasiyete sahip terazi kullanılarak tespit edildi. Daha sonra numuneler 1050 ? C de yakılarak kızdırma kayıpları hesaplandı. Philips marka Axios model dalga boyu ayırımlı XRF (WD-XRF) spektrometre ile hazırlanan tablet şekilli numunelerin kalitatif ve kantitatif analizleri yapıldı.Jeolojik örneklerden yayımlanan karakteristik x-ışınları üzerine soğurma-şiddetlendirme etkilerini belirleyebilmek için jeolojik numunelerde mevcut olan yüksek konsantrasyonlu iki majör oksit (Fe2O3 ve SiO2 ) seçildi. Fe2O3 ihtiva etmeyen iki farklı jeolojik numunede analit olarak seçilen Fe2O3'ün (%99,999 saflıkta) bilinen miktarının matrise ilavesi ile bu majör oksitlerin karakteristik K x-ışını şiddetlerinde meydana gelen soğurma-şiddetlendirme etkileri standart ilave metodu kullanılarak tespit edildi. Analit konsantrasyonun artması, matris konsantrasyonun azalması neticesinde Fe2O3 ve SiO2'ün karakteristik K x-ışını şiddetlerinde beklenen değerlerden ? %3-11'lik bir sapma gözlemlendi. Jeolojik örneklerden yayımlanan karakteristik K x-ışınları üzerine bu etkilerin giderilebilmesi için, karakteristik K x-ışını şiddet değerleri yeniden normalize edildi ve soğurma-şiddetlendirme etkilerden kaynaklanan hatalar en aza indirgendi. Böylece numunelerin kalitatif ve kantitatif analizlerinin daha doğru ve hassas yapılması sağlandı.

Özet (Çeviri)

In the province of Giresun, Eastern, Black Sea Region volcanic soils extracted via MTA drilling means were ground to minimize the effects of particle size and absorption in a hand mortar and sifted in of 400 mesh sieves. Before pressing, 0,9 g cellulose as binder was added to the volcanic soils and mixed thoroughly with powdered specimen for 15 minutes by ball mill in order to ensure a homogeneous distribution. The sample was pressed for the forming tablets with 30 mm in diameter under a certain hydraulic pressure. The masses of the samples were determined by using precision balance with 10-5g precision scales. Then, the samples were burned at 1050 ? C in order to calculate the ignition losses (loi). The qualitative and quantitative analyses of the tablet-shaped samples were carried out by Philips model, Axios mark, WD-XRF spectrometer.Two major oxides with high concentrations (Fe2O3 and SiO2) that exist in geological samples were selected as analyte to determine the absorption-enhancement effects on characteristic K x-ray emitted from the geological samples, Fe2O3 with 99,999 % purity was added into two different geological samples not including Fe2O3. The absorption-enhancement effects on characteristic K x-ray emitted from two major oxides were determined by using the standard addition method. Increasing the concentration of analyte, decreased the concentration of matrix. Therefore, the characteristic K x-ray intensities of Fe2O3 and SiO2 had a deviation with 3-11% from the normalization values., characteristic K x-ray intensities of two major oxides were normalized to eliminate the absorption-enhancement effects on characteristic K x-ray emitted from the geological samples. The errors arising from the absorption-enhancement effects were minimized. Thus, the qualitative and quantitative analyses of the geological samples were performed in more accurate and more precise.

Benzer Tezler

  1. Dalgaboyu ayrımlı X-ışını fluoresans (Wd-xrf) spektrometresiyle demir cevheri analizi

    Analysis of iron ore using with wavelenght dispersive X-ray fluorescence (Wd-xrf) spectrometry

    AYŞE KOYUNCU

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2019

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAnkara Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. MEHMET KABAK

  2. WDXRF spektroskopide tablet numune hazırlamada hata etkileri

    The error effects in preparing tablet sample for WDXRF spektroscopy

    FARUK DEMİR

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2004

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ.DR. GÖKHAN BUDAK

  3. İnşaat sektöründe kullanılan çeşitli yapı malzemelerinin dalgaboyu ayırımlı X-ışını flöresans spektrometresiyle analizi

    Analysis of various construction materials used in the construction sector with wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometer

    ÖZLEM ULUSOY

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2017

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SALİH ZEKİ ERZENEOĞLU

  4. Dalgaboyu ayrımlı x-ışını floresans spektrometresinde ölçümler üzerine etkiyen bazı faktörlerin incelenmesi

    Investigation of some factors that influence on measurements with wavelength dispersive x-ray fluorescence spectrometer

    NURAY ÜST

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2015

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk Üniversitesi

    Atom ve Molekül Fiziği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SALİH ZEKİ ERZENEOĞLU

  5. Bazı şifalı bitkilerin dalga boyu dağılımlı X-ışını floresans (WDXRF)ve taşınabilir enerji dağılımlı X-ışını floresans (EDXRF) spektrometreler ile elementel analizi

    Elemantal analysis of some herbal plants using wavelength dispersive X-RAY fluorescence and portable energy dispersive X-RAY fluorescence spectrometers

    TUĞBA BİLİCİ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2012

    Fizik ve Fizik MühendisliğiAğrı İbrahim Çeçen Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. İBRAHİM HAN