Geri Dön

Bazı kristallerin inelastik diferansiyel saçılma tesir kesitlerinin enerji ayrımlı X-ışını spektrometresi ile ölçümü

Measurements of inelastic differential scattering cross-section for some crystals with energy dispersive X-ray spectrometer

  1. Tez No: 317802
  2. Yazar: HURİYE KABİL
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. MEHMET ŞAHİN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: GaAs, Kristal Yapı, Compton Saçılması, GaAs, Crystal Structure, Compton Scattering
  7. Yıl: 2012
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Recep Tayyip Erdoğan Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

Bu çalışmada; 59,54 keV'lik foton yayımlayan noktasal 241Am radyoizotop kaynağı kullanılarak Si ve GaAs yarıiletkenlerin inelastik diferansiyel saçılma tesir kesitleri 130, 135, 140, 145 ve 150 derecelik açılarda ölçüldü. Dedektör verimini tayin etmek için Pd, In, Sm, Gd, Dy ve Ho elementleri kullanıldı. Ölçümlerde rezülasyonu 5,96 keV'de 160 eV olan yarıiletken Si(Li) dedektör kullanıldı. Bu ölçümler incelenerek kimyasal etki ve kalınlığın diferansiyel tesir kesitlerine etkileri araştırıldı. Ölçülen değerler teorik değerlerle karşılaştırıldı. Si kristalinin diferensiyel saçılma tesir kesitlerinin teorik değerle uyumlu çıktığı, GaAs kristali için ise teorik ve deneysel değerler arasında önemli farklılıklar olduğu gözlendi ve sebepleri tartışıldı.

Özet (Çeviri)

Measurements of Inelastic Differential Scattering Cross-Section for Some Crystals with Energy Dispersive X-Ray Spectrometer.In this study, inelastic differantial scattering cross-sections of Si and GaAs semiconductors were measured using 241Am radioisotope source emitting 59,54 keV photon at 130, 135, 140, 145 and 150 degrees. In order to determine detector efficiency, the elements Pd, In, Sm, Gd, Dy and Ho was used. The resulution of the semiconductor Si(Li) detector was found to be 160 eV at the 5,96 keV. By analysing these measurements, chemical and thickness effects to the differential cross-sections was investigated. The measured values were compared with theoretical values. Differantial scattering cross- sections were compatible with the theoretical value of Si crystals. GaAs crystals were observed for the significant differences between the theoretical and experimental values. The reasons of these differences was discussed.

Benzer Tezler

  1. Bazı esterlerin kinetik incelenmesi ve termodinamik parametrelerin belirlenmesi

    Kinetic study and detesmination of thermodnamic parameters of some esters

    İBRAHİM TAŞ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1986

    Kimya MühendisliğiUludağ Üniversitesi

    Kimya Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. MUSTAFA CEBE

  2. Bazı sert çekirdekli meyve türlerinde döllenme biyolojisi üzerinde yöntem çalışmaları

    Başlık çevirisi yok

    ATBİMOĞLU ADALET

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1985

    ZiraatEge Üniversitesi

    Bahçe Bitkileri Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. RUHİNAZ GÜLCAN

  3. Ağızlık açma mekanizmalarının tasarımı

    Başlık çevirisi yok

    RECEP EREN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1987

    Tekstil ve Tekstil MühendisliğiUludağ Üniversitesi

    Tekstil Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. HALİL R. ALPAY

  4. Bazı yer ve sırık fasulye çeşitlerinde optimal melezleme şartlarının tespiti üzerine bir araştırma

    Başlık çevirisi yok

    TÜRKAN KOÇLU

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1985

    ZiraatEge Üniversitesi

    Bahçe Bitkileri Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. HÜSEYİN VURAL