Kimyasal depolama yöntemi ile hazırlanan CuS yarı iletken ince filmlerin yapısal, optik ve morfolojik özelliklerinin incelenmesi
Investigation of structural, optical and morfological properties of CuS semiconductor thin films prepared by chemical bath deposition
- Tez No: 482403
- Danışmanlar: PROF. DR. CEBRAİL GÜMÜŞ
- Tez Türü: Doktora
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2017
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Çukurova Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 146
Özet
Bu tezde, yarıiletken CuS ince filmler kimyasal depolama yöntemi kullanılarak 27 °C, 50 °C, 70 °C'de cam alttabanlar üzerinde 0.1, 0.3 ve 0.5 M'de ince filmler elde edilmiştir. CuS ince filmlerin yapısal, optik ve morfolojik özellikleri araştırılmıştır. CuS ince filmlerin X-ışını kırınım (XRD) analizlerinden filmlerin amorf ve polikristal yapıda hekzagonal fazda oluştuğu görülmüştür. Yarıiletken CuS ince filmlerin optik özelliklerini belirlemek için UV/vis spektrofotometresi (190-1100 nm) kullanılmıştır. Elde edilen veriler ile filmlerin temel optik parametreleri olan enerji bant aralığı (Eg), yansıma (R), kırılma indisi (n) değerleri hesaplanmıştır. Alan Emisyonlu-Taramalı Elektron Mikroskobu (FE-SEM) görüntülerinden filmlerin küresel yapıda homojen dağılım gösterdiği ve sıcaklığının etkisi ile daha sıkı bir yapının oluştuğu görülmüştür.
Özet (Çeviri)
In this thesis, semiconductor CuS thin films were deposited by chemical bath deposition method at 27 °C, 50 °C, 70 °C on glass substrate through 0.1 M, 0.3 M and 0.5 M were obtained thin films. Investigation of the structural, optical and morpholgical properties of the CuS thin films. The XRD analyses indicate that CuS thin films exhibit amorphous and polycrystal structure and hexagonal phase. In order to determine the optical properties of the semiconductor CuS thin films UV/vis spectrophotometer (190-1100 nm) was used. Optical parameters such as energy bant gap (Eg), reflection (R) and refractive index (n) values are acquired using aforementioned basic parameters. Field Emission-Scanning Electron Microscope (FE-SEM) images show that the films have a homogeneous distribution in the spherical structure, and the effect of temperature is seen to be more strict.
Benzer Tezler
- Kimyasal depolama yöntemi ile cus ince filmlerinin üretimi ve karakterizasyonu
Production and characterization of cus thin films with chemical bath deposition method
FİLİNTA KIRMIZIGÜL
Doktora
Türkçe
2020
Fizik ve Fizik MühendisliğiÇukurova ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. CEBRAİL GÜMÜŞ
- Kimyasal depolama yöntemi ile hazırlanan ZnS ve Zn1-xSMnx (0.01≤x≤0.1) yarıiletken ince filmlerin optiksel, yapısal, elektriksel özelliklerinin incelenmesi
The investigation of optical, structural, electrical properties of ZnS and Zn1-xSMnx (0.01≤x≤0.1) semiconductor thin films prepared by chemical bath deposition
ÖZGE ERKEN
Doktora
Türkçe
2015
Fizik ve Fizik MühendisliğiÇukurova ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. CEBRAİL GÜMÜŞ
- An investigation on electrochemical performance of supercapacitors assembled with vertically aligned&entangled carbon nanotube and conductive polymer
Karbon nanotüp ve iletken polimer ile hazırlanan süperkapasitörlerin elektrokimyasal performansının incelenmesi
DİLEK ÇAKIROĞLU
Doktora
İngilizce
2016
Mühendislik BilimleriSabancı ÜniversitesiMalzeme Bilimi ve Mühendisliği Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. FEVZİ ÇAKMAK CEBECİ
- Foto elektrokimyasal hidrojen üretimi uygulamaları için elektrot dizaynı ve performans ölçümü
Performance measurement and electrode design for application of photo electrochemical hydrogen production
EMRE KAAN CAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2017
Bilim ve TeknolojiTOBB Ekonomi ve Teknoloji ÜniversitesiMikro ve Nanoteknoloji Ana Bilim Dalı
DOÇ. NURDAN DEMİRCİ SANKIR
PROF. MEHMET SANKIR
- Raman and AFM study of grapheneoxide prepared by wet oxidation of graphene
Grafenden ıslak oksidasyonla hazırlanan grafenoksitin raman ve AFM incelenmesi
ESRA YAZICI
Doktora
İngilizce
2015
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
YRD. DOÇ. DR. MEHMET BURAK YILMAZ