Geri Dön

Deneysel dağılım fonksiyonuna dayalı yeni uyum iyiliği testleri

New goodness-of-fit tests based on empirical distribution function

  1. Tez No: 519220
  2. Yazar: DENİZ ALPTEKİN
  3. Danışmanlar: PROF. DR. SÜLEYMAN GÜNAY
  4. Tez Türü: Doktora
  5. Konular: İstatistik, Statistics
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2018
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Hacettepe Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: İstatistik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 102

Özet

Dağılım varsayımları, istatistiksel yöntemlerin merkezinde yer almaktadır. Örneklem dağılımı ile deneysel dağılım arasında fark olup olmadığını incelemek için uyum iyiliği test istatistikleri kullanılır. Literatürde çok sayıda uyum iyiliği test istatistiği bulunmasına karşın, bu istatistiklerin güç değerleri her çalışmada farklı bulunmaktadır. Bu çalışmanın amacı, Cressie-Read güç ıraksama ailesi istatistiğini kullanarak deneysel dağılım fonksiyonuna dayalı güç değerleri daha yüksek yeni test istatistikleri elde etmektir. Bu çalışmada, deneysel dağılım fonksiyonuna dayalı uyum iyiliği test istatistikleri ile önerilen uyum iyiliği test istatistikleri I. tür hata ve güç değerleri yönünden Monte Carlo benzetim tekniği yardımıyla karşılaştırılmıştır. Önerilen test istatistiklerinin güç değerlerinin yüksek olduğu görülmüştür.

Özet (Çeviri)

Distributional assumptions are at the core of statistical methods. Goodness-of-fit test statistics are used to examine whether there is a difference between the sample distribution and the empirical distribution. Although there are large number of goodness-of-fit tests in the literature, the powers of these statistics are different in each study. The purpose of the study is to obtain new powerful goodness-of-fit tests based on the empirical distribution function by using Cressie-Read power divergence statistics. In this study, power divergences statistics are transformed in order to introduce new goodness-of-fit tests. Critical values, type I error rates and powers of tests are obtained by using Monte Carlo for several sample sizes. Several power comparisons are performed to show that the new tests are generally more powerful than the original ones for testing normality.

Benzer Tezler

  1. Nonlinear dynamic behaviour of tapered sandwich plates with multi-layered faces subjected to air blast loading

    Çok katmanlı yüzeylere sahip kalınlıkça sivrilen sandviç plakların anlık basınç yüklemesi altındaki lineer olmayan dinamik davranışı

    SEDAT SÜSLER

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2015

    Havacılık Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Uçak ve Uzay Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. HALİT SÜLEYMAN TÜRKMEN

  2. Azo boyar maddelerin yapısal ve bazı spektroskopik özelliklerinin ab-initio yöntemi ile incelenmesi

    Investigation of structural and some spectroscopic properties of azo dyestuffs by ab-initio method investigation of structural and some spectroscopic properties of azo dyestuffs by ab-initio method

    ÖZLEM TUĞRUL

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2018

    Fizik ve Fizik MühendisliğiPamukkale Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SEVGİ ÖZDEMİR KART

  3. Enhancement of dispenser cathode fabrication with pre – design activation simulations and polymer doping

    Polimer katkılandırma ve ön aktivasyon tasarımı benzetim çalışmaları ile dispenser katotların üretim süreçlerinin geliştirilmesi

    NERGİS YILDIZ ANGIN ATMACA

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2023

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. ESRA ALVEROĞLU DURUCU

  4. Adaptive estimation and hypothesis testing methods

    Uyarlamalı tahmin ve hipotez testi yöntemleri

    AYÇA DÖNMEZ

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2010

    İstatistikOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    İstatistik Bölümü

    PROF. DR. MOTİ LAL TİKU

  5. Delta-sigma örneklemeli altdizilim işlemeye dayalı bir demetleme yöntemi

    A Beamforming method based on subarray processing with delta-sigma oversampling

    HASAN ŞAKİR BİLGE

    Doktora

    Türkçe

    Türkçe

    2003

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiBaşkent Üniversitesi

    Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. TURHAN ÇİFTÇİBAŞI