Geri Dön

The joint effect of word frequency and output interference in recognition memory: Test of a model prediction

Tanıma belleğinde kelime sıklığı ve testin bozucu etkilerinin bellek modeli tahminini test ederek birlikte incelenmesi

PDF İndir

  1. Tez No: 736005
  2. Yazar: HATİCE DEDETAŞ
  3. Danışmanlar: DOÇ. DR. ASLI KILIÇ ÖZHAN
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Psikoloji, Psychology
  6. Anahtar Kelimeler: Testin Bozucu Etkisi, Test Pozisyonu Etkisi, Kelime Sıklığı Etkisi, BEG, Tanıma Belleği, Output Interference, Test Position Effect, Word Frequency Effect, REM, Recognition Memory
  7. Yıl: 2022
  8. Dil: İngilizce
  9. Üniversite: Orta Doğu Teknik Üniversitesi
  10. Enstitü: Sosyal Bilimler Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Psikoloji Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 91

Özet

Testin bozucu etkisi (TBE) bellek testi sırasında testin sonlarına doğru performansın düşmesi olarak tanımlanır. Çeşitli bellek modelleri bu etkiyi farklı yöntemlerle açıklarlar. Madde modellerine göre TBE test sırasında öğrenme gerçekleştiği için ortaya çıkmaktadır. Bir madde test edildiğinde o sırada bellekte bulunan bir madde güncellenir veya belleğe yeni bir madde eklenir. Test sırasında bellekte yapılan bu güncellemeler testin sonuna doğru karışıklığa neden olur. Modeller arasında tartışma konusu olan bir diğer etki ise kelime sıklığı etkisidir (KSE). Bu etki, günlük hayatta düşük sıklıkta kullandığımız kelimelerin tanıma belleği testinde daha iyi hatırlanması şeklinde açıklanır. Madde modelleri bu etkiyi ayrıştırıcılık ile açıklamaktadır. Bu modellere göre az sıklıkta kullanılan kelimeler yüksek sıklıkta kullanılan kelimelere göre daha ayrıştırıcı özelliklere sahip olduğu için test sırasında eşleşme daha kolay olmaktadır. Bu tezin amacı da bir madde modeli olan Bellekten Etkin Gerigetirme (BEG) modelinin bahsi geçen KSE ve TBE etkilerinin birlikte tahminini canlandırarak o tahmini test etmektir.

Özet (Çeviri)

Output interference (OI) is defined as a decline in performance throughout testing in episodic memory. Different models have separate explanations for OI. For item noise models, OI results from encoding during test. When items are presented at test, they are compared to all items in the memory and if a match occurs, the matched study item is updated, and if a match does not occur, a new memory trace is added. These updates during the test phase lead to confusion through the end of the test list. Another hotly debated effect is the word frequency effect (WFE) which refers to better recognition performance for low frequency (LF) items than high frequency (HF) items. Item noise approach explains this effect through the feature distinction approach. Since LF words have distinctive features, the matching procedure will be easier during the test leading to higher performance. The current project simulates and tests the prediction of Retrieving Effectively from Memory Model (REM).

Benzer Tezler

  1. Tez No

    912836

    Retrieving dynamically and effectively from memory (D-REM): A Recognition memory model with a dynamic decision making mechanism

    Bellekten dinamik ve etkin geri getirme (D-BEG): Dinamik karar verme mekanizmalı bir tanıma belleği modeli

    CAVİT DENİZ PALA

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2024

    PsikolojiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Psikoloji Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ASLI KILIÇ ÖZHAN

  2. Tez No

    75302

    Güç transformatörlerinin optimum tasarımına yönelik çalışmaların incelenmesi

    Başlık çevirisi yok

    LEVENT CAN

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1998

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Elektrik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. NURDAN GÜZELBEYOĞLU

  3. Tez No

    22079

    IEEE 1149.1 standardı kullanarak test edilebilir lojik devre tasarımı

    Testable lojik circit design by using IEEE 1149.1 standard

    A.BETÜL TUNCER

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1992

    Elektrik ve Elektronik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF. DR. AHMET DERVİŞOĞLU

  4. Tez No

    444569

    Analysis of error-related potentials in p300 and motor imagery based brain computer interfaces

    P300 ve hayalı motor hareketine dayalı beyin bilgisayar arayüzlerinde hataya dayalı potansiyellerin analizi

    ABDULLAHI ADAMU

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2016

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiSabancı Üniversitesi

    Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. MÜJDAT ÇETİN

  5. Tez No

    39287

    Robot kollarının adaptif kontrolü

    Adaptive control of robot arms

    K.FATİH DİLAVER

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    1994

    Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve Kontrolİstanbul Teknik Üniversitesi

    PROF.DR. M. KEMAL SARIOĞLU

Geri Dön