Geri Dön

İnce filmlerde optik geçirgenliğin ve elektrik iletkenliğin kalınlığa bağlılığı

The Dependence of optical transmission and electrical conductivity on the thickness of thin film samples

  1. Tez No: 83187
  2. Yazar: KEMAL ULUTAŞ
  3. Danışmanlar: PROF. DR. YANİ ISKARLATOS
  4. Tez Türü: Doktora
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Elektriksel iletkenlik, Optik geçirgenlik, İnce filmler, Electrical conductivity, Optical permeability, Thin films
  7. Yıl: 1999
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: İstanbul Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

ÖZET“İnce filmlerde optik geçirgenliğin ve elektrik iletkenliğin kalınlığa bağlılığı”Cam taşıyıcılar üzerinde indiyumoksit ve kalayoksit ince filmleri reaktif buharlaştırma tekniğiyle hazırlandı. Ayrıca kalayın buharlaştırılıp havada tavlanmasıyla da kalayoksit örnekleri hazırlandı. 400 - 1100 nm aralığındaki dalgaboylannda geçirgenlik ölçülerinden absorbsiyon katsayısı hesaplandı. Bu dalgaboylannda kalınlıkla absorbsiyon katsayısının değişimi incelendi. Bütün örnekler için akım - voltaj değişiminden direnç değerleri tayin edildi. İndiyumoksit örneklerinde bir kalınlık bölgesinde iletkenliğin ve geçirgenliğin arttığı gözlendi, indiyumoksit örneklerinde film kalınlığıyla absorbsiyon katsayısının değişiminin, şimdiye kadar açıklandığı gibi ışığın girişimi ile açıklanamayacağı sonucuna varıldı. Bu değişimin band aralığının değişimine bağlı olabileceği ileri sürüldü. Film kalınlığıyla iletkenliğin artmasının, grain boyutlarının film kalınlığıyla artmasından dolayı olduğu ileri sürüldü. Kalayoksit örneklerde kalınlıkla geçirgenliğinin azalmasının band aralığının azalması sebebiyle olabileceği kabul edildi.

Özet (Çeviri)

SUMMARY“ The dependence of optical transmission and electrical conductivity on the thickness of thin film samples ”Indiumoxide and tinoxide thin film samples were prepared on glass substrates by reactive evaporation technique. Tinoxide thin film samples were also obtained by evaporation and then annealing tin in air for comparison. For each sample the wavelength variation of absorbtion coefficient in the wavelength range from 400nm to 1 lOOnm was obtained by transmission measurements. Based on these the film thickness variation of absorbtion coefficient in the above wavelength range was derived. Moreover, the resistance of all samples was determined from the current - voltage characteristics. / A careful investigation of the above properties of the indiumoxide thin film samples led us to conclude that : 1- Both the electric conductivity and optical transmission increase in the same thickness range; 2- The film thickness variation of absorbtion coefficient can not be attributed due to the light interference as some authors suggest. We belive that the observed variation of absorbtion coefficient can be explained with change of the band gap whereas the increase in the electric conductivity is due to the increase of grain size as the film thickness rises. For tinoxide film samples the optical transparency decreases with the film thickness and we assume that is can be attributed to the decrease of band gap. VI

Benzer Tezler

  1. Tantal oksit filmlerin yapısal, elektriksel ve optik özelliklerinin incelenmesi

    Investigation of structural, electrical and optical properties of tantalum oxide films

    ESİN TATLI YEŞİLTEPE

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2012

    Fizik ve Fizik MühendisliğiMarmara Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. AHMET ALTINDAL

    YRD. DOÇ. DR. FATİH DUMLUDAĞ

  2. Influence of substrate and environmental conditions on nanoscale patterning of graphene via local anodic oxidation

    Alttaşın ve çevresel koşulların lokal anodik oksidasyon aracılığıyla grafen üzerine yapılan nano-desenlemeye etkisi

    YAREN SEZEN

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2026

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Nanobilim ve Nanomühendislik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ONUR ERGEN

  3. Influence of al concentration and annealing temperature on structural, optical and electrical properties of Al codoped ZnO thin films

    Al katkilanmiş ZnO ince filmlerin yapisal, optik ve elektrik özelliklerine Al konsantrasyonunun ve tavlama sicakliğinin etkisi

    İSMAİL KURT

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2015

    Fizik ve Fizik MühendisliğiFatih Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. SADIK GÜNER

  4. Saydam iletken oksit tabakalarda yapısal özelliklerin araştırılması

    Investigation of structural properties of transparent conductive oxides

    AHMET TEKO

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2014

    Metalurji MühendisliğiYıldız Teknik Üniversitesi

    Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. AHMET EKERİM

  5. Characterization of Cu2ZnSnSe4 (CZTSe) thin films with Cu- and Zn-poor composition deposited by one-step thermal evaporation

    Tek adımlı termal buharlaştırma yöntemiyle biriktirilen Cu- ve Zn-fakir bileşimli Cu2ZnSnSe4 (CZTSe) ince filmlerin karakterizasyonu

    ZEKİ ALİHAN BAYRI

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2026

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik Üniversitesi

    Fizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. HAKAN KARAAĞAÇ