Faz kontrastlı X-ışını görüntüleme tekniklerinin geliştirilmesi
Development of X-ray phase-contrast imaging techniques
- Tez No: 1009656
- Danışmanlar: PROF. DR. ZİYA MERDAN
- Tez Türü: Doktora
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2026
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Gazi Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
Edge illumination (EI) faz kontrastlı X-ışını görüntüleme (X-ray phase contrast imaging, XPCI), geleneksel zayıflama kontrastının yanı sıra faz kontrastı ve karanlık alan kontrastı sağlayan umut verici bir tekniktir. Ancak geleneksel X-ışını görüntülemenin aksine, elde edilen projeksiyonlarda yoğunluk değişikliklerine yol açan EI-XPCI fokal spot kaymalarına daha duyarlıdır. Sonuç olarak, bu projeksiyonlardan tahmin edilen zayıflama, faz ve karanlık alan kontrast parametreleri de bu değişikliklerden etkilenir. Bu çalışmada, yakın zamanda geliştirilen CAD-ASTRA takım kutusunu kullanarak yapılan doğru faz kontrast simülasyonları aracılığıyla, fokal spot kaymalarının EI-XPCI parametre tahminine etkisini inceliyoruz. Bu değişiklikler daha sonra öz tekdüze alanlar (eigen flat fields, EFF'ler) hesaplanarak modellenir. Ardından, EFF'ler, bir EI-XPCI alımının her faz adımına karşılık gelen projeksiyonları normalleştirmek için kullanılır. Sonuçlar, EFF'lere dayalı dinamik tekdüze alan düzeltmesinin (flat field correction, FFC), EI-XPCI'da geleneksel FFC'den daha iyi performans gösterdiğini göstermektedir.
Özet (Çeviri)
Edge Illumination X-ray phase contrast imaging (EI-XPCI) is an advanced imaging method that captures not only traditional attenuation contrast but also phase and dark field contrast. However, unlike standard X-ray imaging, EI-XPCI is more susceptible to focal spot movement, which causes intensity fluctuations in captured projections. Consequently, the attenuation, phase, and dark field parameters derived from these projections are affected by such variations. In this study, we investigate how focal spot movements impact parameter estimation in EI-XPCI using precise phase contrast simulations with the CAD-ASTRA toolbox. We model these variations by calculating eigen flat fields (EFFs), which are then applied to normalize projections at each phase step of an EI-XPCI scan. Our findings demonstrate that dynamic flat field correction using EFFs yields superior results compared to traditional flat field correction methods in EI-XPCI.
Benzer Tezler
- Color tunable upconversion based white light properties of er-Tm-Yb phosphors and pmma nanocomposites
Er-Tm-Yb fosfor ve polimer nanokompozitlerde renk ayarlanabilir üst dönüşüm esaslı beyaz ışık özellikleri
SEVCAN TABANLI
Doktora
İngilizce
2019
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİstanbul Teknik ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. GÖNÜL ERYÜREK
- Adrenal kitlelerin kontrastsız ve kontrastlı bilgisayarlı tomografi ile karakterizasyonu
Characterization with combined unenhanced and enhanced CT of adrenal masses
EMEL CENGİZ
Tıpta Uzmanlık
Türkçe
2011
Radyoloji ve Nükleer TıpZonguldak Karaelmas ÜniversitesiRadyodiagnostik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. L. OKTAY ERDEM
- Manyetik rezonans enterografi için bakteriyel selüloz katkılı oral kontrast ajan geliştirilmesi
Development of a bacterial cellulose-enhanced oral contrast agent for magnetic resonance enterography
ELİF BAYBÖRÜ
Yüksek Lisans
Türkçe
2025
Radyoloji ve Nükleer TıpEskişehir Osmangazi ÜniversitesiBiyoloji Ana Bilim Dalı
PROF. DR. AHMET ÇABUK
PROF. DR. OKTAY ALGIN
- Fenantren-imidazol türevi demiroksit nanoparçacıkların sentezi ve karakterizasyonu
Synthesis and characterization of phenantrene-imidazole derived ironoxide nanoparticles
UĞUR TAŞDEMİR
Yüksek Lisans
Türkçe
2025
KimyaSelçuk ÜniversitesiNanoteknoloji ve İleri Malzemeler Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. ASLIHAN YILMAZ OBALI
- Advanced optical imaging with scattering lenses
Saçılım mercekleri ile gelişmiş optik görüntüleme
HASAN YILMAZ
Doktora
İngilizce
2015
Fizik ve Fizik MühendisliğiUnıversıty Of TwenteFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ALLARD PIETER MOSK