Geri Dön

InxGa1-xAs(GaAs (x=0,15) süperörgüsünün MBE ile büyütülmesi ve elektriksel-yapısal özelliklerinin belirlenmesi

Determination of electrical and structural properties of InxGa1-xAs(GaAs (x=0,15) superlattice grown by MBE

  1. Tez No: 166075
  2. Yazar: BEYZA SARIKAVAK
  3. Danışmanlar: PROF.DR. SÜLEYMAN ÖZÇELİK
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2005
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Gazi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 126

Özet

m InxGa1-xAs / GaAs (x=0,15) SÜPERÖRGÜSUNUN MBE İLE BÜYÜTÜLMESİ VE ELEKTRİKSEL - YAPISAL ÖZELLİKLERİNİN BELİRLENMESİ (Yüksek Lisans Tezi) Beyza SARIKAVAK GAZİ ÜNİVERSİTESİ FEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜ Temmuz 2005 ÖZET Yüksek kaliteli InxGaı.xAs/GaAs süperörgüsü (SL) x=0,15 için V80H-MBE sistemi ile 560 C de büyütüldü. Büyütülen numune toplam 5 periyoda (10 o tabakaya) sahiptir. GaAs tabaka kalınlığı 250 A ve Ino,ısGao,8sAs tabakaları 50 o A ' dur. GaAs büyüme oranı 1 um/saat olarak RHEED kullanılarak ayarlandı. Tabaka kalınlığı ve yapısal analizi X-ışınları difraksiyonu yolu ile belirlendi. Evaporasyon sistemde numunenin alt kısmına bütünüyle, üst tarafına ise noktasal olarak 400°C de Au kontak yapıldı. Diyot yapıları I-V ölçüm metoduyla karakterize edildi. I-V ölçümlerinden idealite faktörü (n), potansiyel engel yüksekliği (tj>B) ve arayüzey durumları belirlendi. C-V, (G/W) -V ölçümlerinden katkı atomlarının yoğunluğu, difüzyon potansiyeli, potansiyel engel yüksekliği (0B), seri direnç (Rs), Fermi enerjisi (Ep) belirlendi. Bilim Kodu : 404.05.01 Anahtar Kelimeler : MBE, InGaAs, süperörgü, XRD, seri direnç, arayüzey durumları, sıcaklığa bağlılık. Sayfa Adedi : 112 Tez Yöneticisi : Prof. Dr. Süleyman ÖZÇELİK

Özet (Çeviri)

IV DETERMINATION OF ELECTRICAL AND STRUCTURAL PROPERTIES OF InxGalxAs/GaAs (x=0,15) SUPERLATTICE GROWN BY MBE (M.Sc. Thesis) Beyza SARIKAVAK GAZI UNIVERSITY INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY July 2005 ABSTRACT High quality InxGai_xAs / GaAs superlattice x=0,15 has been grown by V80H- MBE system at 560 C. This sample has a total of 10 layers (5 periods) with GaAs layers of ~ 250 A and Ino^sGa^ssAs layers of ~ 50 A. The growth rate of GaAs is 1 fxm I hour and it is arranged by using RHEED. This structure' s layer thicknesses and structural analysis were determined by X - Ray diffraction. Bottom of the sample was wholly contacted with Au at 400 C by evaporation system and the top of the sample is spotty contacted at the same conditions. Diode structures were characterized by I-V measurements. From this measurements the ideality factor (n), barrier height (®B) and interface states (Ngs) were defined. With the help of C-V measurements barrier height (

Benzer Tezler

  1. Yüksek katkılı InxGa1-xAs alaşım yarıiletkenlerin sıcaklık bağımlı elektriksel özellikleri

    Temperature dependent electrical properties of high doped InxGa1-xAs alloy semiconductor

    ELİF YAZBAHAR

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2012

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesi

    İleri Teknolojiler Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. MEHMET KASAP

  2. Electrical characterization of GaInP/InGaAs/GaAs modulation doped field effect transistor structures

    GaInP/InGaAs/GaAs modüle katkılı alan etkili transistör yapılarının elektriksel karakterizasyonu

    YAVUZ CİVAN

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    1998

    Elektrik ve Elektronik MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Elektrik-Elektronik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    YRD. DOÇ. DR. CENGİZ BEŞİKÇİ

  3. GaAs/InxGa1-xAs kuantum kuyularının elektronik enerji spektrumu

    GaAs/ InxGa1-xAs quantum wells electronic energy spectrum

    MEHMET ALİ TOPRAK

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2013

    Fizik ve Fizik MühendisliğiCumhuriyet Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. SEZAİ ELAGÖZ

  4. İki boyutlu InGaAs/GaAs yapısında elektronik enerjilere ve safsızlık bağlanma enerjisine, basınç, sıcaklık ve yapı parametrelerinin etkisi

    Effect of pressure, temperature and structure parameters on electronic energies and impurity binding energy in two-dimensional InGaAs/GaAs structure

    YAĞMUR SOLAK

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2024

    Fizik ve Fizik MühendisliğiSivas Cumhuriyet Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. PINAR BAŞER

  5. InxGa1-xAs / GaAs çoklu kuantum kuyu yapısının mbe tekniği ile büyütülmesi: Yapısal, optik ve elektriksel özelliklerinin incelenmesi

    The growth of InxGa1-xAs / GaAs multi quantum well structure with mbe technique: The investigation of the structural, optical and electrical properties

    BARIŞ KINACI

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2009

    Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi Üniversitesi

    Fizik Bölümü

    YRD.DOÇ.DR. MEHMET BAHAT