Investigation of electrical properties of surface structures by X-ray photoelectron spectroscopic technique under external voltage stimuli
Dışarıdan verilen voltaj yardımıyla yüzey yapılarının elektriksel özelliklerinin x-ışını fotoelektron spektroskopisi kullanılarak incelenmesi
- Tez No: 170820
- Danışmanlar: PROF.DR. ŞEFİK SÜZER
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Kimya, Chemistry
- Anahtar Kelimeler: SİO2/Sİ, Yüklenme, Dışarıdan Voltaj Uygulanması, Zaman Çözünümlü XPS, Zaman Sabiti, RC Sabiti, Altın Nano-parçacıkları V, SİO2/Sİ, Charging, External Bias, Time Resolved XPS, Time Constant, Gold Nanoparticles IV
- Yıl: 2005
- Dil: İngilizce
- Üniversite: İhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi
- Enstitü: Mühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Kimya Bölümü
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 83
Özet
ÖZET NVESTIGATION OF ELECTRICAL PROPERTIES OF SURFACE STRUCTURES BY X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPIC TECHNIQUE UNDER EXTERNAL VOLTAGE STIMULI U. KORCAN DEMİROK Kimya Yüksek Lisans Tezi Danışman: Prof. Dr. Şefik Süzer February 2005 Çeşitli yüzey yapılarının elektriksel özellikleri XPS (X-Işım fotoelektron spektrumu) tekniği ile ve dışarıdan verilen voltaj yardımıyla, bir saniye içinde 5 milisaniye aralıklarla 200 spektrum alınmasına olanak sağlayan ilk kez tarafımızdan geliştirilmiş yeni bir teknikle incelendi. SİO2 ve Ci2-thiol kaplı altın nano-parçacıklarının elektriksel yüklenme süreçleri incelenen sistemin RC sabitinin ölçülmesine olanak tanıyan bu yeni zaman çözünümlü XPS tekniği ile incelendi ve yardımcı başka yöntemler de kullanılarak bu malzemelerin resistans ve kapasitans değerleri tayin edildi. Bunlarla birlikte bu yeni tekniğin geliştirilmesi ve verimliliğinin arttırılması amacıyla çeşitli parametrelerin değiştirilmesi ve zaman sabitlerine ve bağlanma enerjilerinin kaymalarına etkilerinin gözlenmesi suretiyle çalışmalar yapıldı. Bunun yanında dışarıdan uygulanan voltajın aynı numune üzerinde bulunan ve topraklanmış XPS spektrumunda üst üste görünen altın metali ve altın nano-parçacıklarından gelen altın 4f sinyallerinin ayrılmasını sağlayabileceği ve neticede bu iki altın şeklinin XPS spektrumunda ayrı ayrı görülebileceği gösterildi.
Özet (Çeviri)
ABSTRACT INVESTIGATION OF ELECTRICAL PROPERTIES OF SURFACE STRUCTURES BY X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPIC TECHNIQUE UNDER EXTERNAL VOLTAGE STIMULI U. KORCAN^EMİROK M.S. in Chemistry Supervisor: Prof. Dr. Şefik Süzer February, 2005 Electrical properties of surface structures are analyzed using XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy) by means of external stimuli together with a novel technique allowing the user to record 200 conventional spectra in a period of one second with a time resolution of 5ms. Charging processes of surface structures such as SİO2 and Cn-thiol-capped gold nanoclusters are monitored by time resolved XPS technique which gives an approximate charging constant of the system (RC), and electrical parameters like resistance and capacitance are estimated using external biasing and other relevant time resolved XPS data. Moreover, development and optimization of the technique are carried out by certain parameters and observing the changes in the time constants and binding energy shifts. It is also shown that application of positive and negative external bias can be used to identify two different forms of gold that exist together in the same sample, as nanoparticles and bulk metal, by means of stimulating the charging-induced-separation of the Au 4f peaks which would otherwise appear as overlapped photoemission signals in the grounded spectrum.
Benzer Tezler
- Al/SnO2/p-Si MIS diyotun elektriksel ve optik özelliklerinin incelenmesi
Electrical and optical properties of Al/SnO2/p-Si mis diode
ASLI AYTEN TAYŞİOĞLU
Yüksek Lisans
Türkçe
2006
Fizik ve Fizik MühendisliğiUludağ ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF.DR. YÜKSEL BEKTÖRE
- Metal oksit yarı iletken malzemelerin üretilmesi ve kuartz kristal mikroterazi nem sensörlerinin hazırlanması
Production of metal oxide semiconductor materials and preparation of quartz crystal microbalance humidity sensors
TANKUT ATEŞ
Doktora
Türkçe
2012
Fizik ve Fizik MühendisliğiFırat ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. CENGİZ TATAR
- Ag-Fe-Co/CaP toz katkılı sinterlenmiş elektrot ile elektriksel kıvılcımla işlenmiş Ti-6Al-4V yüzeylerin yapısal ve morfolojik özelliklerinin incelenmesi
Investigation of the structural and morphological properties of electrical discharge machined surfaces of Ti-6Al-4V using Ag-Fe-Co/CaP powder mixed sintered electrodes
SEMA KALAMAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2022
Makine MühendisliğiZonguldak Bülent Ecevit ÜniversitesiMakine Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. BÜLENT EKMEKCİ
- Farklı go katkılı pan arayüzey tabakalı Al/n:Si yapıların elektriksel özelliklerinin incelenmesi
Investigation of the electrical properties of Al /n:Si structures with different go doped pan interfacial layers
YUSUF ÖZNAL
Yüksek Lisans
Türkçe
2023
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HALUK KORALAY
- Investigation of electrical properties of au/fe3o4/p-si/al and au/fe3o4/p-si/al heterojunctions dependent on temperature
Au/Fe3O4/p-Si/Al ve Au/Fe3O4/p-Si/Al heteroyapilarin elektri̇ksel özelli̇kleri̇ni̇n sicakliğa bağli olarak i̇ncelenmesi̇
ALİ RIZA DENİZ
Doktora
İngilizce
2015
Fizik ve Fizik MühendisliğiAtatürk ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. ŞAKİR AYDOĞAN