Investigation of electrical properties of surface structures by X-ray photoelectron spectroscopic technique under external voltage stimuli
Dışarıdan verilen voltaj yardımıyla yüzey yapılarının elektriksel özelliklerinin x-ışını fotoelektron spektroskopisi kullanılarak incelenmesi
- Tez No: 170820
- Danışmanlar: PROF.DR. ŞEFİK SÜZER
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Kimya, Chemistry
- Anahtar Kelimeler: SİO2/Sİ, Yüklenme, Dışarıdan Voltaj Uygulanması, Zaman Çözünümlü XPS, Zaman Sabiti, RC Sabiti, Altın Nano-parçacıkları V, SİO2/Sİ, Charging, External Bias, Time Resolved XPS, Time Constant, Gold Nanoparticles IV
- Yıl: 2005
- Dil: İngilizce
- Üniversite: İhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi
- Enstitü: Mühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Kimya Bölümü
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.
Özet
ÖZET NVESTIGATION OF ELECTRICAL PROPERTIES OF SURFACE STRUCTURES BY X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPIC TECHNIQUE UNDER EXTERNAL VOLTAGE STIMULI U. KORCAN DEMİROK Kimya Yüksek Lisans Tezi Danışman: Prof. Dr. Şefik Süzer February 2005 Çeşitli yüzey yapılarının elektriksel özellikleri XPS (X-Işım fotoelektron spektrumu) tekniği ile ve dışarıdan verilen voltaj yardımıyla, bir saniye içinde 5 milisaniye aralıklarla 200 spektrum alınmasına olanak sağlayan ilk kez tarafımızdan geliştirilmiş yeni bir teknikle incelendi. SİO2 ve Ci2-thiol kaplı altın nano-parçacıklarının elektriksel yüklenme süreçleri incelenen sistemin RC sabitinin ölçülmesine olanak tanıyan bu yeni zaman çözünümlü XPS tekniği ile incelendi ve yardımcı başka yöntemler de kullanılarak bu malzemelerin resistans ve kapasitans değerleri tayin edildi. Bunlarla birlikte bu yeni tekniğin geliştirilmesi ve verimliliğinin arttırılması amacıyla çeşitli parametrelerin değiştirilmesi ve zaman sabitlerine ve bağlanma enerjilerinin kaymalarına etkilerinin gözlenmesi suretiyle çalışmalar yapıldı. Bunun yanında dışarıdan uygulanan voltajın aynı numune üzerinde bulunan ve topraklanmış XPS spektrumunda üst üste görünen altın metali ve altın nano-parçacıklarından gelen altın 4f sinyallerinin ayrılmasını sağlayabileceği ve neticede bu iki altın şeklinin XPS spektrumunda ayrı ayrı görülebileceği gösterildi.
Özet (Çeviri)
ABSTRACT INVESTIGATION OF ELECTRICAL PROPERTIES OF SURFACE STRUCTURES BY X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPIC TECHNIQUE UNDER EXTERNAL VOLTAGE STIMULI U. KORCAN^EMİROK M.S. in Chemistry Supervisor: Prof. Dr. Şefik Süzer February, 2005 Electrical properties of surface structures are analyzed using XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy) by means of external stimuli together with a novel technique allowing the user to record 200 conventional spectra in a period of one second with a time resolution of 5ms. Charging processes of surface structures such as SİO2 and Cn-thiol-capped gold nanoclusters are monitored by time resolved XPS technique which gives an approximate charging constant of the system (RC), and electrical parameters like resistance and capacitance are estimated using external biasing and other relevant time resolved XPS data. Moreover, development and optimization of the technique are carried out by certain parameters and observing the changes in the time constants and binding energy shifts. It is also shown that application of positive and negative external bias can be used to identify two different forms of gold that exist together in the same sample, as nanoparticles and bulk metal, by means of stimulating the charging-induced-separation of the Au 4f peaks which would otherwise appear as overlapped photoemission signals in the grounded spectrum.
Benzer Tezler
- C14H12FNO2 , C14H12N2O5 ve C20H17NO3 moleküllerinin özelliklerinin x-ışınları ve bazı spektroskopik yöntemlerle incelenmesi
Investigation of the properties of C14H12FNO2 , C14H12N2O5 and C20H17NO3 molecules by x-rays and some spectroscopic methods
ENİS GÜZEL
Yüksek Lisans
Türkçe
2020
Fizik ve Fizik MühendisliğiOndokuz Mayıs ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. METİN YAVUZ
- Alüminyum konsantrasyonunun aı: nio/psi fotodedektörlerin yapısal,optiksel ve elektriksel özellikleri üzerine etkisinin incelenmesi
Investigation of the effect of aluminum concentration on structural, optical and electrical properties of ai: nio/psi photodetectors
MOHAMMED SULAIMAN MUSTAFA MUSTAFA
Yüksek Lisans
Türkçe
2025
Fizik ve Fizik MühendisliğiEge ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. ALPER ÇETİNEL
- Bazı tek ve çok katmanlı ince film yapıların X-ışını saçılma ve X-ışını kırınımı yöntemleri ile incelenmesi
Structural investigation of some mono and multilayer thin films by X-ray scattering and X-ray diffraction methods
URAL KAZAN
Yüksek Lisans
Türkçe
2012
Fizik ve Fizik MühendisliğiHacettepe ÜniversitesiFizik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
PROF. DR. SEMRA İDE
- Farklı go katkılı pan arayüzey tabakalı Al/n:Si yapıların elektriksel özelliklerinin incelenmesi
Investigation of the electrical properties of Al /n:Si structures with different go doped pan interfacial layers
YUSUF ÖZNAL
Yüksek Lisans
Türkçe
2023
Fizik ve Fizik MühendisliğiGazi ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. HALUK KORALAY
- Ag katkılı metal/HfO2/c-Si yapılarının elektriksel özelliklerinin incelenmesi
The investigation of Ag doped metal/HfO2/c-Si structures for electrical properties
ARİF DEMİR
Yüksek Lisans
Türkçe
2021
Fizik ve Fizik MühendisliğiBatman ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. OSMAN PAKMA