Geri Dön

Si(111)- (7x7) yüzeyinin değişik sıcaklıklarda STM ile incelenmesi

Investigation of Si(111)- (7x7) surface at different temperatures with STM

PDF İndir

  1. Tez No: 180170
  2. Yazar: CAN ALAŞALVAR
  3. Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. GÖKAY UĞUR
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2006
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Gazi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: Belirtilmemiş.

Özet

Bu çalışmada, Taramalı Tünellemeli Mikroskop (STM) kullanılarak Si(111) -7x7 numunesinin değişik sıcaklıklarda (25◦C, -155◦C ve 327◦C) yüzey değişimiincelendi. ğne olarak elektrokimyasal yolla elde edilen tungsten uç kullanıldı.Bu numune 1250 ºC sıcaklıkta ve 2x10-10 mbar basınçta içinden bir DC elektrikakımı geçirilerek ısıtıldı ve ani akımla temizlendi. Örnek sıcaklığı bir kızıl ötesipyrometre ile ölçüldü. Yeniden yapılanan Si(111)-(7x7) yüzeyi doğrudan akımlaısıtma yöntemiyle hazırlandı. STM sonuçları deneysel sonuçlarlakarşılaştırıldı.

Özet (Çeviri)

In this work, by means of Scanning Tunneling Microscopy ( STM) we studiedthe surface evolution of Si (111) 7x7 at different temperatures (25◦C, -155◦C ve327◦C) . We used tungsten electrochemically etched tips. The sample was heatedby passing a dc electric current through it, and cleaned by flashing at 1250 ºC2x 10 −10 mbar. We measured the sample high temperature with anbelowinfirared pyrometer. Si(111)-(7x7) reconstructured surface was prepared bydirect current heating. The STM results are compared with the experimentalfindings.

Benzer Tezler

  1. Tez No

    112575

    Atomic resolution imaging and force spectroscopy of silicon surfaces with atomic force microscopy

    Silikon yüzeyinin atomik kuvvet mikroskopisi ile atomik çözünürlükte görüntülenmesi ve kuvvet spektroskopisi

    HAKAN ÖZGÜR ÖZEN

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2001

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. RECAİ ELLİALTIOĞLU

    YRD. DOÇ. DR. AHMET ORAL

  2. Tez No

    474871

    Non-contact atomic force microscope in ultra high vacuum using radiation pressure excitation of cantilever with Fabry-Perot interferometer

    Ultra yüksek vakumda çalışan Fabry-Perot girişim ölçerine sahip yayı radyasyon basıncı ile tahrik edilen yüzeye değmeden atomik kuvvet mikroskobu

    ERCAN KARAGÖZ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2017

    Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. AHMET ORAL

  3. Tez No

    98722

    Tekstil sektörü kredi analizi

    Textile industry credit analysis

    ŞENER DURAK

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2000

    İşletmeİstanbul Teknik Üniversitesi

    İşletme Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. SUAT TEKER

  4. Tez No

    713043

    Manipulation of molecules on surfaces with the scanning tunnelling microscope

    Taramalı tünnellemeli mikroskop ile yüzeylerdeki moleküllerin manipülasyonu

    DOĞAN KAYA

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2016

    Fizik ve Fizik MühendisliğiThe Unıversıty Of Bırmıngham

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. RICHARD E. PALMER

    DOÇ. DR. QUANMIN GUO

  5. Tez No

    139400

    How cryptographic implementations affect mobile agent systems

    Şifreleme gerçekleştirmelerinin gezgin aracı internet sistemlerini nasıl etkilediği

    İSMAİL ULUKUŞ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2003

    Bilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve KontrolBoğaziçi Üniversitesi

    Sistem ve Kontrol Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. EMİN ANARIM

Geri Dön