Geri Dön

Si(111)- (7x7) yüzeyinin değişik sıcaklıklarda STM ile incelenmesi

Investigation of Si(111)- (7x7) surface at different temperatures with STM

PDF İndir

  1. Tez No: 180170
  2. Yazar: CAN ALAŞALVAR
  3. Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. GÖKAY UĞUR
  4. Tez Türü: Yüksek Lisans
  5. Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
  6. Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
  7. Yıl: 2006
  8. Dil: Türkçe
  9. Üniversite: Gazi Üniversitesi
  10. Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
  11. Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
  12. Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
  13. Sayfa Sayısı: 82

Özet

Bu çalışmada, Taramalı Tünellemeli Mikroskop (STM) kullanılarak Si(111) -7x7 numunesinin değişik sıcaklıklarda (25◦C, -155◦C ve 327◦C) yüzey değişimiincelendi. ğne olarak elektrokimyasal yolla elde edilen tungsten uç kullanıldı.Bu numune 1250 ºC sıcaklıkta ve 2x10-10 mbar basınçta içinden bir DC elektrikakımı geçirilerek ısıtıldı ve ani akımla temizlendi. Örnek sıcaklığı bir kızıl ötesipyrometre ile ölçüldü. Yeniden yapılanan Si(111)-(7x7) yüzeyi doğrudan akımlaısıtma yöntemiyle hazırlandı. STM sonuçları deneysel sonuçlarlakarşılaştırıldı.

Özet (Çeviri)

In this work, by means of Scanning Tunneling Microscopy ( STM) we studiedthe surface evolution of Si (111) 7x7 at different temperatures (25◦C, -155◦C ve327◦C) . We used tungsten electrochemically etched tips. The sample was heatedby passing a dc electric current through it, and cleaned by flashing at 1250 ºC2x 10 −10 mbar. We measured the sample high temperature with anbelowinfirared pyrometer. Si(111)-(7x7) reconstructured surface was prepared bydirect current heating. The STM results are compared with the experimentalfindings.

Benzer Tezler

  1. Tez No

    474871

    Non-contact atomic force microscope in ultra high vacuum using radiation pressure excitation of cantilever with Fabry-Perot interferometer

    Ultra yüksek vakumda çalışan Fabry-Perot girişim ölçerine sahip yayı radyasyon basıncı ile tahrik edilen yüzeye değmeden atomik kuvvet mikroskobu

    ERCAN KARAGÖZ

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2017

    Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. AHMET ORAL

  2. Tez No

    112575

    Atomic resolution imaging and force spectroscopy of silicon surfaces with atomic force microscopy

    Silikon yüzeyinin atomik kuvvet mikroskopisi ile atomik çözünürlükte görüntülenmesi ve kuvvet spektroskopisi

    HAKAN ÖZGÜR ÖZEN

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2001

    Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi

    Fizik Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. RECAİ ELLİALTIOĞLU

    YRD. DOÇ. DR. AHMET ORAL

  3. Tez No

    713043

    Manipulation of molecules on surfaces with the scanning tunnelling microscope

    Taramalı tünnellemeli mikroskop ile yüzeylerdeki moleküllerin manipülasyonu

    DOĞAN KAYA

    Doktora

    İngilizce

    İngilizce

    2016

    Fizik ve Fizik MühendisliğiThe University of Birmingham

    Fizik Ana Bilim Dalı

    PROF. DR. RICHARD E. PALMER

    DOÇ. DR. QUANMIN GUO

  4. Tez No

    652928

    Identification of tea plantation areas using Google cloud based random forest and deep learning

    Google bulut servise dayalı rastgele orman ve derin öğrenme ile çay tarım alanlarının belirlenmesi

    BERKAY ÖZEN

    Yüksek Lisans

    İngilizce

    İngilizce

    2020

    Jeodezi ve Fotogrametriİstanbul Teknik Üniversitesi

    Geomatik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. ESRA ERTEN

  5. Tez No

    712140

    Si (111) alttaşı üzerine büyütülmüş AIN ince filmlerin elipsometri tekniği ile optik karakterizasyonu

    Optical characterization of AIN thin films grown on Si(111) substrate by ellipsometry

    İLHAN KARAKUŞ

    Yüksek Lisans

    Türkçe

    Türkçe

    2021

    Fizik ve Fizik MühendisliğiSivas Cumhuriyet Üniversitesi

    Optik Mühendisliği Ana Bilim Dalı

    DOÇ. DR. İLKAY DEMİR

Geri Dön