Si(111)- (7x7) yüzeyinin değişik sıcaklıklarda STM ile incelenmesi
Investigation of Si(111)- (7x7) surface at different temperatures with STM
- Tez No: 180170
- Danışmanlar: YRD. DOÇ. DR. GÖKAY UĞUR
- Tez Türü: Yüksek Lisans
- Konular: Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
- Anahtar Kelimeler: Belirtilmemiş.
- Yıl: 2006
- Dil: Türkçe
- Üniversite: Gazi Üniversitesi
- Enstitü: Fen Bilimleri Enstitüsü
- Ana Bilim Dalı: Fizik Ana Bilim Dalı
- Bilim Dalı: Belirtilmemiş.
- Sayfa Sayısı: 82
Özet
Bu çalışmada, Taramalı Tünellemeli Mikroskop (STM) kullanılarak Si(111) -7x7 numunesinin değişik sıcaklıklarda (25â¦C, -155â¦C ve 327â¦C) yüzey değişimiincelendi. ğne olarak elektrokimyasal yolla elde edilen tungsten uç kullanıldı.Bu numune 1250 ºC sıcaklıkta ve 2x10-10 mbar basınçta içinden bir DC elektrikakımı geçirilerek ısıtıldı ve ani akımla temizlendi. Örnek sıcaklığı bir kızıl ötesipyrometre ile ölçüldü. Yeniden yapılanan Si(111)-(7x7) yüzeyi doğrudan akımlaısıtma yöntemiyle hazırlandı. STM sonuçları deneysel sonuçlarlakarşılaştırıldı.
Özet (Çeviri)
In this work, by means of Scanning Tunneling Microscopy ( STM) we studiedthe surface evolution of Si (111) 7x7 at different temperatures (25â¦C, -155â¦C ve327â¦C) . We used tungsten electrochemically etched tips. The sample was heatedby passing a dc electric current through it, and cleaned by flashing at 1250 ºC2x 10 â10 mbar. We measured the sample high temperature with anbelowinfirared pyrometer. Si(111)-(7x7) reconstructured surface was prepared bydirect current heating. The STM results are compared with the experimentalfindings.
Benzer Tezler
- Non-contact atomic force microscope in ultra high vacuum using radiation pressure excitation of cantilever with Fabry-Perot interferometer
Ultra yüksek vakumda çalışan Fabry-Perot girişim ölçerine sahip yayı radyasyon basıncı ile tahrik edilen yüzeye değmeden atomik kuvvet mikroskobu
ERCAN KARAGÖZ
Yüksek Lisans
İngilizce
2017
Fizik ve Fizik MühendisliğiOrta Doğu Teknik ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. AHMET ORAL
- Atomic resolution imaging and force spectroscopy of silicon surfaces with atomic force microscopy
Silikon yüzeyinin atomik kuvvet mikroskopisi ile atomik çözünürlükte görüntülenmesi ve kuvvet spektroskopisi
HAKAN ÖZGÜR ÖZEN
Doktora
İngilizce
2001
Fizik ve Fizik Mühendisliğiİhsan Doğramacı Bilkent ÜniversitesiFizik Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. RECAİ ELLİALTIOĞLU
YRD. DOÇ. DR. AHMET ORAL
- Manipulation of molecules on surfaces with the scanning tunnelling microscope
Taramalı tünnellemeli mikroskop ile yüzeylerdeki moleküllerin manipülasyonu
DOĞAN KAYA
Doktora
İngilizce
2016
Fizik ve Fizik MühendisliğiThe University of BirminghamFizik Ana Bilim Dalı
PROF. DR. RICHARD E. PALMER
DOÇ. DR. QUANMIN GUO
- Identification of tea plantation areas using Google cloud based random forest and deep learning
Google bulut servise dayalı rastgele orman ve derin öğrenme ile çay tarım alanlarının belirlenmesi
BERKAY ÖZEN
Yüksek Lisans
İngilizce
2020
Jeodezi ve Fotogrametriİstanbul Teknik ÜniversitesiGeomatik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. ESRA ERTEN
- Si (111) alttaşı üzerine büyütülmüş AIN ince filmlerin elipsometri tekniği ile optik karakterizasyonu
Optical characterization of AIN thin films grown on Si(111) substrate by ellipsometry
İLHAN KARAKUŞ
Yüksek Lisans
Türkçe
2021
Fizik ve Fizik MühendisliğiSivas Cumhuriyet ÜniversitesiOptik Mühendisliği Ana Bilim Dalı
DOÇ. DR. İLKAY DEMİR